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科利登發(fā)布D-6432DFT測(cè)試解決方案

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作者: 時(shí)間:2007-07-18 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  系統(tǒng)有限公司推出業(yè)界性?xún)r(jià)比最高、性能最為出眾的解決方案Sapphire ,用于新興的高速計(jì)算和消費(fèi)應(yīng)用中所使用的微處理器、游戲及圖形器件。該設(shè)備的推出再次強(qiáng)化了市場(chǎng)領(lǐng)先的Sapphire平臺(tái)。

  Sapphire 設(shè)備是首款用于高速串行總線(xiàn)的集成解決方案,在一次插入中結(jié)合了高速環(huán)路測(cè)試、抖動(dòng)和注入信號(hào),以及掃描/功能性測(cè)試和DC參數(shù)。的密度比同類(lèi)產(chǎn)品高出4倍,可為制造商提供突破性的可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)方法,助其顯著降低高速半導(dǎo)體器件的總體成本并縮短上市時(shí)間。

  這一新設(shè)備是與領(lǐng)先的微處理器生產(chǎn)廠(chǎng)商AMD公司合作開(kāi)發(fā)的。目前,AMD的工程師正采用Sapphire平臺(tái)和D-6432DFT加速其最先進(jìn)產(chǎn)品的測(cè)試和上市周期。在全球數(shù)以百計(jì)的Sapphire平臺(tái)裝機(jī)量中,已有200多個(gè)D-6432DFT設(shè)備安裝在了屢獲殊榮的Sapphire平臺(tái)中,進(jìn)行生產(chǎn)測(cè)試。

  AMD公司自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)技術(shù)經(jīng)理兼高級(jí)技術(shù)工程師Pete Hodakievic表示:“市場(chǎng)對(duì)高速總線(xiàn)接口測(cè)試和快速數(shù)據(jù)傳輸率提出了越來(lái)越高的要求,迫切需要一種比簡(jiǎn)易承載板環(huán)路測(cè)試技術(shù)更為強(qiáng)勁的測(cè)試方法。同時(shí),我們又因?yàn)樾枰刂茰y(cè)試成本,而無(wú)法采用傳統(tǒng)的測(cè)試設(shè)備和方法。采用Sapphire D-6432DFT,我們用單次插入即可完成對(duì)最先進(jìn)的微處理器芯片進(jìn)行高速環(huán)路測(cè)試、DC參數(shù)測(cè)試,以及掃描和功能測(cè)試。相比全功能測(cè)試,D-6432DFT不僅有更好的測(cè)試覆蓋,還可以顯著降低測(cè)試成本?!?/P>

  為了實(shí)現(xiàn)更高的數(shù)據(jù)速率,PCI Express I和II、HyperTransport 2.0和3.0、XAUI、XDR、RapidIO和InfiniBand等高速端口得到了越來(lái)越多的應(yīng)用。然而,高速總線(xiàn)對(duì)傳統(tǒng)“功能”測(cè)試方法的成本、復(fù)雜性和周期都提出了挑戰(zhàn)。這些不確定因素在低速測(cè)試時(shí)能運(yùn)作無(wú)誤,但速度高于6 Gbps以上時(shí),則有可能產(chǎn)生風(fēng)險(xiǎn)。目前的“近端”環(huán)路(即利用設(shè)備來(lái)輸出測(cè)試數(shù)據(jù),再回收數(shù)據(jù)至設(shè)備以進(jìn)行識(shí)別)技術(shù)簡(jiǎn)單、性?xún)r(jià)比高,但難以有效地處理抖動(dòng)、信號(hào)變異和協(xié)議性能,從而導(dǎo)致測(cè)試不完全或測(cè)試死角。集成電路制造商需要采用可測(cè)性設(shè)計(jì)方法,才能對(duì)那些影響設(shè)備和系統(tǒng)性能的關(guān)鍵變量進(jìn)行靈活、全面的測(cè)試。

  遠(yuǎn)端環(huán)路:卓越的抖動(dòng)和控制,提供更高的價(jià)值Sapphire D-6432DFT有效地應(yīng)用了創(chuàng)新的遠(yuǎn)端環(huán)路技術(shù),既具有可測(cè)性設(shè)計(jì)的靈活性,又有功能測(cè)試所具備的深層診斷能力。通過(guò)將待測(cè)器件置于高性?xún)r(jià)比的智能測(cè)試設(shè)備通道中,延長(zhǎng)了反饋路徑,也首次實(shí)現(xiàn)了高速總線(xiàn)在生產(chǎn)級(jí)的測(cè)試。與以往那種投資多臺(tái)設(shè)備測(cè)試少量通道的碎片式方法不同,D-6432DFT集成了廣泛的功能,可在單臺(tái)設(shè)備上測(cè)試多達(dá)16個(gè)通道。其優(yōu)勢(shì)包括:

.每一通道通過(guò)集成電路實(shí)現(xiàn)同時(shí)的、并行的抖動(dòng)注入和抖動(dòng)測(cè)量,并不需要附加設(shè)備
.電壓和時(shí)間域中的全封閉眼圖測(cè)試
.除了極低成本的差分測(cè)試,還集成了用于掃描/功能性測(cè)試的400/800 Mbps數(shù)據(jù)子系統(tǒng)
.增加了解決信號(hào)完整性問(wèn)題的靈敏度覆蓋檢測(cè)
.接收器和發(fā)送器通道可用來(lái)為內(nèi)核邏輯和協(xié)議堆棧提供測(cè)試向量
.用于全面DC參數(shù)測(cè)試的器件管腳存取

  副總裁兼自動(dòng)測(cè)試設(shè)備總經(jīng)理Chetan Desai表示:“與AMD這樣的行業(yè)領(lǐng)先企業(yè)合作,使我們能夠提供滿(mǎn)足市場(chǎng)需求的方案,幫助客戶(hù)充滿(mǎn)信心地進(jìn)行技術(shù)創(chuàng)新并應(yīng)對(duì)上市周期和成本的雙重挑戰(zhàn)。我們很高興推出Sapphire D-6432DFT,這是業(yè)界唯一用于高速器件生產(chǎn)測(cè)試的可行方案。它不僅能滿(mǎn)足今天的市場(chǎng)需求,還可靈活適應(yīng)未來(lái)幾代的產(chǎn)品發(fā)展。”

  Sapphire D-6432DFT設(shè)備現(xiàn)已投放市場(chǎng)。在7月17日至18日舉辦的Semicon West 展會(huì)期間, 科利登技術(shù)中心展出了Sapphire D-6432DFT設(shè)備,還現(xiàn)場(chǎng)展示了科利登完整的測(cè)試解決方案,包括曾經(jīng)獲獎(jiǎng)的Sapphire平臺(tái)和Diamond 平臺(tái)。



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