新聞中心

EEPW首頁 > EDA/PCB > 新品快遞 > 中芯國際和新思科技共同開發(fā)出了基于0.13微米工藝的設(shè)計參考流程2.0

中芯國際和新思科技共同開發(fā)出了基于0.13微米工藝的設(shè)計參考流程2.0

——
作者: 時間:2005-07-21 來源: 收藏

    世界領(lǐng)先的半導(dǎo)體設(shè)計軟件供應(yīng)商新思科技有限公司今天宣布其已經(jīng)和中國大陸最大的芯片代工廠 (NYSE: SMI; SEHK: 0981.HK) 共同開發(fā)出了基于 0.13微米工藝的設(shè)計參考流程2.0。和新思科技緊密合作,完成了從 RTL 到 GDSII 的設(shè)計流程。該流程基于新思科技的 Galaxy(TM) 設(shè)計平臺和先進的0.13 微米工藝,不僅解決了在0.13微米工藝設(shè)計中遇到的深亞微米設(shè)計挑戰(zhàn),并且縮短了產(chǎn)品上市時間和良率達成時間。 
 
    中芯國際和新思科技參考流程2.0的新增功能中包含了 JupiterXT(TM) 設(shè)計布局解決方案。特別是,該方案的電源網(wǎng)絡(luò)綜合 (PNS) 與電源網(wǎng)絡(luò)分析 (PNA) 能力使得在布局階段就可進行電源規(guī)劃設(shè)計。應(yīng)用了新思科技的 PrimeTime(R) SI,Astro-Xtalk(TM) 和 Astro-Rail(TM) 等工具,該參考流程還具有先進的信號完整性 (SI) 和集成電路可靠性 (IR/EM) 的分析能力。這些功能解決了電遷移 (EM) 所帶來的時序和可靠性問題,避免了通常易出現(xiàn)的電源柵格和電阻增加所導(dǎo)致的電壓下降 (IR-drop) 和對地反彈等問題。最后,該流程還引入了電壓下降的分析,使得用戶可分析其對于時序、性能、功能、抗干擾性能的影響,并能夠?qū)?nbsp;IC 的可靠性進行分析,從而找到不同問題的折中方案。 
 
    “中芯國際自2004年上半年開始為全球客戶提供0.13微米 CMOS 量產(chǎn)工藝。參考流程2.0更進一步提供給客戶完整的、驗證過的設(shè)計方案,包括了先進的布局、信號完整性失效和集成電路可靠性的分析,對0.13 微米工藝的設(shè)計具有重要意義?!?nbsp;中芯國際設(shè)計服務(wù)處副總裁歐陽雄(Paul Ouyang)介紹,”參考流程2.0的開發(fā)是建立在第一個版本的成功與合作的基礎(chǔ)上。我們期待在工藝持續(xù)發(fā)展的過程中和新思科技 持續(xù)保持愉快的合作關(guān)系?!?nbsp;
 
    “中芯國際和新思科技都是大唐微電子的關(guān)鍵技術(shù)合作伙伴。兩家公司合作開發(fā)的參考設(shè)計流程中新增功能可以被我們的工程師使用,幫助我們縮短設(shè)計時間并加速達到預(yù)期良率?!?nbsp;大唐微電子技術(shù)公司總經(jīng)理趙倫表示,“中芯國際提供的完整工藝組合,和來自新思科技驗證過的設(shè)計方案對于實現(xiàn)我們先進的設(shè)計需求至關(guān)重要?!?nbsp;
 
   “與中芯國際的緊密合作使我們能夠提供這個參考流程,來解決中國市場持續(xù)增長的先進深亞微米工藝需求?!毙滤伎萍嫉膽?zhàn)略市場開發(fā)副總裁 Rich Goldman 表示, “新思科技 會繼續(xù)與中芯國際合作,幫助他們的客戶應(yīng)用經(jīng)過驗證的設(shè)計流程,來縮短完成復(fù)雜的 IC 及系統(tǒng)設(shè)計的時間?!?/span>

關(guān)鍵詞: 中芯國際

評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉