測(cè)試設(shè)計(jì)的新語言CTL(04-100)

　　標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試接口語言

　　標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試接口語言(STIL)是1999年3月通過的，它是一個(gè)廣泛的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，開始的意圖是從設(shè)計(jì)到制造整個(gè)期間使測(cè)試和測(cè)試設(shè)計(jì)(DFT)信息有明確和完整的通信。STIL標(biāo)準(zhǔn)包括幾個(gè)擴(kuò)展版本，有些已獲通過，有些正在開發(fā)改變階段。

　　通常，工程技術(shù)人員所談?wù)摰?a class="contentlabel" href="http://m.butianyuan.cn/news/listbylabel/label/STIL">STIL是指IEEE1450 .0，此擴(kuò)展版本規(guī)定用于自動(dòng)測(cè)試圖形產(chǎn)生(ATPG)工具到測(cè)試程序圖形產(chǎn)生工具傳輸向量和定時(shí)信息的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)格式。

　　在STIL通過時(shí)，業(yè)內(nèi)已經(jīng)有成熟的基于向量語言(如波形產(chǎn)生器語言WGL)的方案。STIL比已有的方案具有更有效的表示法。然而，在此語言中沒有足夠重要的新性能迫使可能的用戶改變他們已有的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)。

　　盡管，此方案已存在一段時(shí)間，但一個(gè)完整、無縫STIL基DFT方案至今不能使用。沒有一個(gè)完整方案和一個(gè)迫使改變的原因，則采用它是慢速的。

　　然而，隨著SoC公司認(rèn)識(shí)到STIL擴(kuò)展型具有上市快、節(jié)省測(cè)試成本的顯著特點(diǎn)，其支持的呼聲增高。EDA、ATE和測(cè)試程序產(chǎn)生工具公司響應(yīng)IP核和SoC供應(yīng)商采用新標(biāo)準(zhǔn)基產(chǎn)品對(duì)STIL增長興趣的呼聲。隨著STIL擴(kuò)展型所具有的上市快、低測(cè)試成本的具體實(shí)現(xiàn)，圍繞這些標(biāo)準(zhǔn)的市場(chǎng)繼續(xù)建立。下面詳述具有擴(kuò)展型之一的P1450.6。

　　CTL基方案

　　IEEEP1450.6CTL(核測(cè)試語言)是STIL的一個(gè)擴(kuò)展型，它為描述IP核和SoC測(cè)試信息生存標(biāo)準(zhǔn)格式。

　　CTL是針對(duì)SOCDFT的軟件語言?？捎肅TL捕獲測(cè)試器件系統(tǒng)中每個(gè)IP核所需的所有數(shù)據(jù)。CTL使測(cè)試相關(guān)信息在核供應(yīng)商和與SoC測(cè)試有關(guān)的系統(tǒng)集成商中能明確通信。假若成功，則CTL和其他STIL擴(kuò)展型一起將極大地使SoC的IP核和IP核測(cè)試再用變?nèi)菀住?/p>

　　CTL所描繪設(shè)計(jì)信息如下：

　　Environment{
 　　CTL mode-1{
 　　//Mode Setup Seauence
 　　//Structures
 　　//Patterns Andtheirinfo
          　　}
  　　}

　　上述語言是CTL中設(shè)計(jì)配置中的分塊表示。這些配置稱之為測(cè)試模式。

　　為了處理不同設(shè)計(jì)的需求，語言采用指令序列，用STIL語法建立測(cè)試模式。對(duì)于每個(gè)測(cè)試模式，CTL提供適用的結(jié)構(gòu)信息，設(shè)計(jì)終端的特性、測(cè)試應(yīng)用相關(guān)的連通和測(cè)試圖形。用CTL提供的關(guān)于核的測(cè)試信息，可以再用于與核有關(guān)的測(cè)試圖形，在SoC上執(zhí)行所有必須的DFT、ATPG和失效仿真操作以及完成測(cè)試呈現(xiàn)在核中的SoC邏輯。

　　CTL設(shè)計(jì)成允許采用的任何DET和測(cè)試方法?？紤]到核的所有可能的集成情況，其語言必須完全描述每個(gè)已知的DFT概念和測(cè)試方法。這種通用性可使語言有很多其他應(yīng)用。