如何降低測試系統(tǒng)開關(guān)噪聲(04-100)

　　但是，希望增加開關(guān)密度，在一個較小的封裝內(nèi)能提供更多能力。當(dāng)今被測系統(tǒng)趨于更復(fù)雜和具有更多的點線。所以，測試工程師面對增加元件密度和同時增加通道間距離的困難。

　　在某種情況下，對一個噪聲問題的解決方案，對待不同的噪聲問題可能會降低方案的有效性。必須很好的了解噪聲源、耦合方法和噪聲接收器，以便對這些因素做適當(dāng)?shù)恼壑钥紤]。

　　根據(jù)經(jīng)驗，導(dǎo)線直徑40倍的物理分離距離將衰減噪聲8dB左右。導(dǎo)線間更大的分離幾乎沒有影響。

　　樹形開關(guān)

　　樹形開關(guān)分離彼此的開關(guān)列，這對于降低大系統(tǒng)中雜散斷開開關(guān)電容是相當(dāng)有效的，這種雜散電容是連接系統(tǒng)中未用并聯(lián)繼電器所引起的。如圖2所示，樹形開關(guān)置在左邊H、L、G線和左邊16通道的3列之間。引入的繼電器與輸入繼電器串聯(lián)可降低這種雜散電容。

　　對于16通道多路開關(guān)，這種串聯(lián)開關(guān)配置能有效地降低測量電路的雜散電容。這使串?dāng)_小、測量建立時間快。

　　T形開關(guān)

　　T形開關(guān)是把所有未用通道與測量總線隔離，用低電容通路到地。這種隔離是在單導(dǎo)線上實現(xiàn)的，在信號通路中插入2個另外的接點。結(jié)果在高頻具有良好的通道間信號隔離。

　　T形開關(guān)原理說明示于圖3。圖中所示上面的源VN與負(fù)載電阻斷開，這是因為開關(guān)A和B是新斷開的，開關(guān)C是閉合的。因此，開關(guān)的T部分有效地并接到地。然而，在另一個位置具有相應(yīng)觸點的下部源VS連接到負(fù)載R2。

　　降低開關(guān)電容和耦合噪聲的另一方法是使開關(guān)和開關(guān)觸點間隙大或使觸點面積特別小。例如，Agilent 876A同軸SPDT開關(guān)在其開關(guān)動作中利用非常長的接入。這使斷開觸點間隙最大。此開關(guān)是封裝在精密的金屬殼中，以保證大于18GHz的信號完整性。