符合美國(guó)A2LA/AEMCLPR規(guī)范的汽車電子EMC實(shí)驗(yàn)室的建立
A2LA全稱是American Assoc-iation for Laboratory Accreditation, 是美國(guó)實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可協(xié)會(huì)的縮寫,它是美國(guó)第三方實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量體系認(rèn)證機(jī)構(gòu)。A2LA成立于1978年,作為一家非盈利性的公益服務(wù)會(huì)員單位,致力于測(cè)試及校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室,檢測(cè)機(jī)構(gòu),精密測(cè)試供應(yīng)商和相關(guān)材料制造商資格的正式認(rèn)可。A2LA依據(jù)ISO17025:2005的要求對(duì)實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量體系進(jìn)行審核。
出于對(duì)申請(qǐng)AEMCLRP的需要,Intertek汽車實(shí)驗(yàn)室于2005年首先獲得A2LA認(rèn)可。
AEMCLRP
AEMCLRP全稱是Automotive EMC Laboratory Recognition Program。AEMCLRP是由通用、福特和戴姆勒-克萊斯勒共同開發(fā)的EMC實(shí)驗(yàn)室技術(shù)能力的評(píng)估項(xiàng)目。實(shí)驗(yàn)室開展具體EMC測(cè)試的資質(zhì)由兩部分的評(píng)估決定:
第一部分:現(xiàn)場(chǎng)評(píng)審,要求實(shí)驗(yàn)室就有關(guān)特定測(cè)試程序方面的一系列標(biāo)準(zhǔn)化問題作出回答。
第二部分:通過通用、福特和戴姆勒-克萊斯勒的EMC實(shí)驗(yàn)室相關(guān)測(cè)試,要求實(shí)驗(yàn)室證明其在從事EMC測(cè)試時(shí)所應(yīng)具備的專業(yè)程度。
符合規(guī)范的EMC實(shí)驗(yàn)室的組成
成為三大車廠的認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室,出具具有權(quán)威性的,可被三大車廠接受的測(cè)試報(bào)告,必須首先具備A2LA/AEMCLPR的資質(zhì)。
Intertek汽車實(shí)驗(yàn)室中有兩個(gè)電波暗室,七個(gè)屏蔽室,具備輻射抗擾度(RI)、輻射/傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量(RE)、大電流注入(BCI)、瞬變干擾抗擾度(CI)、靜電放電(ESD)、混響室(Reverberation room)、TEM小室、平行帶(Strip line)等測(cè)試能力。
輻射抗擾度(RI)
對(duì)于通用(GM)標(biāo)準(zhǔn),輻射抗擾度的頻率范圍需要覆蓋400MHz~2GHz;對(duì)于福特(Ford)標(biāo)準(zhǔn),需要覆蓋400MHz~3.1GHz;對(duì)于戴姆勒-克萊斯勒(DC)標(biāo)準(zhǔn),需要覆蓋400MHz-3.2GHz。實(shí)驗(yàn)室需要具備200V/m以上的測(cè)試能力,特別是在雷達(dá)波段,GM和Ford要求實(shí)驗(yàn)室具備600V/m的能力。為了達(dá)到這個(gè)能力,除了需要符合標(biāo)準(zhǔn)的電波暗室(Intertek 擁有一個(gè)3m法的標(biāo)準(zhǔn)暗室)之外,功率放大器和天線的組合決定了一個(gè)實(shí)驗(yàn)室是否能用合理的代價(jià)具備這個(gè)能力。眾所周知,高頻的大功率功放和高增益的天線是非常昂貴的。Ford在自己的標(biāo)準(zhǔn)中列出了一些推薦的天線,這些天線在全世界的EMC實(shí)驗(yàn)室中使用證明是有效的天線。
在做輻射抗擾度才測(cè)試的過程中,需要給標(biāo)準(zhǔn)的正弦波信號(hào),加上各種調(diào)制,同時(shí),在被測(cè)試樣品偏離正常功能時(shí)需要找出臨界點(diǎn)。所以一款好的測(cè)試軟件是必要的。如果這款測(cè)試軟件還有二次開發(fā)的功能,可以給測(cè)試實(shí)驗(yàn)室提供可能性取集成監(jiān)測(cè)被試樣品功能的監(jiān)測(cè)設(shè)備,很大程度上的提高測(cè)試的自動(dòng)化程度和效率。Intertek實(shí)驗(yàn)室就在已有軟件的基礎(chǔ)上做了大量的二次開發(fā)的工作,為客戶提供了一種定制服務(wù)。為了更好的開發(fā)軟件,實(shí)驗(yàn)室還配備了專門的軟件工程師。
輻射/傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量(RE)
對(duì)于GM,頻率范圍覆蓋0.53MHz ~ 1583MHz;對(duì)于Ford和DC,頻率范圍覆蓋0.15MHz~2500MHz。三大車廠都采用了CISPR25作為參考標(biāo)準(zhǔn),所以相應(yīng)的電波暗室(Intertek擁有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的CISPR25電波暗室)、接收機(jī)和阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)都是必不可少的。同時(shí)DC還在傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量中采用的電流法作為電壓法的補(bǔ)充。所以要執(zhí)行DC的標(biāo)準(zhǔn),需要另外配備電流探頭。無(wú)論是CISPR25或是三大車廠的標(biāo)準(zhǔn),所要求的限值都相當(dāng)之低,相應(yīng)的預(yù)放是不可或缺的,同時(shí)正確的使用預(yù)防都是非常重要的。
同樣的,一款好的軟件也是不可或缺的。在不同的檢波器,限值,檢波帶寬等的方便的組合,自動(dòng)的挑選測(cè)試者關(guān)心的頻率點(diǎn),重新測(cè)試,或者組合成跟自動(dòng)化的測(cè)試流程,這些工作都需要一個(gè)好的軟件的支持。由于標(biāo)準(zhǔn)本身也在發(fā)展,一款可以二次開發(fā)的軟件,對(duì)一個(gè)實(shí)驗(yàn)室從長(zhǎng)期來(lái)說也是一個(gè)好的選擇。Intertek同樣在這個(gè)方面已經(jīng)做了大量的工作,并配備了專職的軟件工程師。
大電流注入(BCI)
GM,F(xiàn)ord和DC都要求1MHz-400MHz的BCI測(cè)試。GM和Ford的測(cè)試幾乎是一樣的。而DC的要求有些不同。GM和Ford都要求最大200mA的測(cè)試,電流注入探頭有三個(gè)測(cè)試位置,有共模、差模測(cè)試的區(qū)別。而DC最大要求500mA的測(cè)試,電流注入探頭只有兩個(gè)測(cè)試位置,只有共模的測(cè)試。
和輻射抗擾度一樣,需要給標(biāo)準(zhǔn)的正弦波信號(hào),加上各種調(diào)制,同時(shí),在被測(cè)試樣品偏離正常功能時(shí)需要找出臨界點(diǎn)。所以同樣一款好的軟件也是必須的。而且很多輻射抗擾度的軟件都可以移植到BCI的測(cè)試中來(lái)。
瞬變干擾抗擾度(CI)
GM和DC在這個(gè)測(cè)試項(xiàng)目上比較接近,都采用了ISO7637-2和 ISO7637-3作為基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)。而Ford在這個(gè)測(cè)試項(xiàng)目上有一些特殊的要求。由于這項(xiàng)測(cè)試主要就是需要產(chǎn)生各種不同的特定脈沖或脈沖群,考核被測(cè)樣品是否能承受這種干擾。所以實(shí)驗(yàn)室需要一套能涵蓋所有脈沖類型的測(cè)試系統(tǒng)。Intertek實(shí)驗(yàn)室在國(guó)內(nèi)最先擁有一套完整的CI測(cè)試系統(tǒng),除了能完成三大車廠的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試之外,還能完成Mazda,VW,F(xiàn)IAT等歐美車系甚至日系標(biāo)準(zhǔn)的CI測(cè)試。
靜電放電(ESD)
實(shí)驗(yàn)室需要具備25kV的測(cè)試能力。
其他的測(cè)試方式
作為一個(gè)汽車電子的EMC實(shí)驗(yàn)室,同時(shí)需要具備一些替代的測(cè)試方式,比如:
(1) 混響室,GM和Ford現(xiàn)在都采用混響室作為一種輻射抗擾度的另外一種可選的測(cè)試方式。這種測(cè)試可以有效降低測(cè)試的成本和時(shí)間,同時(shí)測(cè)試的方式也更接近現(xiàn)實(shí)的情形。
(2) TEM小室,DC采用TEM小室作為輻射發(fā)射和輻射抗擾度的可選的測(cè)試方式。
結(jié)語(yǔ)
除了相關(guān)的EMC專業(yè)測(cè)試設(shè)備之外,實(shí)驗(yàn)室需要很多測(cè)試輔助設(shè)備用以監(jiān)測(cè)樣品在測(cè)試過程中的功能和性能的表現(xiàn),為客戶提供方便。這些輔助設(shè)備可能包含:
(1) 光電轉(zhuǎn)換系統(tǒng);
(2) 音頻測(cè)試系統(tǒng);
(3) 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng);
(4) 車載網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)。
這些輔助測(cè)試設(shè)備都需要和EMC測(cè)試軟件結(jié)合,完成自動(dòng)化的測(cè)試。
另外,一個(gè)實(shí)驗(yàn)室除了擁有這些硬件設(shè)備,要使這些硬件設(shè)備發(fā)揮功能,必須要有一批有資質(zhì)的技術(shù)人員來(lái)保證測(cè)試的科學(xué)性。EMC測(cè)試不同于一般的測(cè)試實(shí)驗(yàn)室,在測(cè)試過程中間可能影響測(cè)試結(jié)果的因素非常的繁雜,如何正確測(cè)試設(shè)備完成一個(gè)正確的測(cè)試,對(duì)任何工程師來(lái)說都是一個(gè)挑戰(zhàn)。
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評(píng)論