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吉時(shí)利推出4.0版ACS軟件

作者: 時(shí)間:2008-05-08 來源:中國測(cè)控網(wǎng) 收藏

  美國儀器公司日前宣布增強(qiáng)了其(Automated Characterization Suite,自動(dòng)特征分析套件)軟件,納入了面向半導(dǎo)體可靠性與壽命預(yù)測(cè)應(yīng)用的(wafer level reliability,圓片級(jí)可靠性)備選工具。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/82308.htm

  4.0版以軟件已有的單點(diǎn)和多點(diǎn)并行功能為基礎(chǔ),增加了對(duì)數(shù)據(jù)庫的支持,以及最新的RTM(Reliability Test Module,可靠性測(cè)試模塊)軟件工具和備選license以及數(shù)據(jù)分析功能。此外,新增可靠性測(cè)試與數(shù)據(jù)分析工具使得基于ACS 測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行壽命預(yù)測(cè)速度比傳統(tǒng)測(cè)試方案快5倍。在設(shè)計(jì)新集成電路技術(shù)研發(fā)、工藝集成和工藝監(jiān)測(cè)階段,通過加快測(cè)試,ACS系統(tǒng)能夠大大縮短新產(chǎn)品上市時(shí)間。



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