基于ARM的2M測試系統(tǒng)

　　根據(jù)測試系統(tǒng)功能的要求, 在程序中定義了2個(gè)數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu),一個(gè)是用來存放程序中需要用到的各種測試設(shè)置值的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)SetUp_struct；另一個(gè)是用于存放測試結(jié)果的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)Data_struct。這兩個(gè)數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)是連接各個(gè)功能函數(shù)的橋梁，通過判斷SetUp_struct中各個(gè)變量的值可以使程序做出相應(yīng)的操作，并改變相應(yīng)Data_struct值，從而實(shí)現(xiàn)在不同的測試環(huán)境下對不同指標(biāo)的測試。

　　3.3 2M測試系統(tǒng)測試指標(biāo)的測量與計(jì)算

　　2M測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)所能達(dá)到的測試指標(biāo)如下：

　　(1)、在線和中斷業(yè)務(wù)測試，可選接口阻抗：75Ω、120Ω、高阻（≥2KΩ）。

　　(2)、統(tǒng)計(jì)分析功能： G.826測試分析誤塊秒、嚴(yán)重誤塊秒、背景誤塊、不可用秒、誤塊秒率、嚴(yán)重誤塊秒率、背景誤塊率；G.821測試分析誤碼秒、嚴(yán)重誤碼秒、 不可用秒；M.2100測試分析誤碼秒、嚴(yán)重誤碼秒、不可用秒。

　　(3)、差錯(cuò)（誤碼、誤塊）監(jiān)測比特誤碼、編碼誤碼、幀字差錯(cuò)、CRC差錯(cuò)。

　　(4)、告警監(jiān)測。

　　(5)、同時(shí)顯示幀開銷及30個(gè)話路數(shù)字型線路信號（a.b.c.d）的狀態(tài)。

　　(6)、話音監(jiān)聽，各話音時(shí)隙可選。

　　(7)、測試結(jié)果掉電可記憶，可上傳微機(jī)。

　　上述各項(xiàng)指標(biāo)的測量由檢測模塊和語音監(jiān)聽模塊實(shí)現(xiàn), 指標(biāo)的(3)、(4)項(xiàng)可通過對ds21354和ds21372的相關(guān)寄存器的設(shè)置和對線路狀態(tài)寄存器的讀取并對數(shù)據(jù)簡單處理可實(shí)現(xiàn)。指標(biāo)的(5)、(6)項(xiàng)可通過對時(shí)隙交換電路相關(guān)寄存器的設(shè)置和讀取對數(shù)據(jù)簡單處理實(shí)現(xiàn)。第(2)項(xiàng)的指標(biāo)參數(shù)是統(tǒng)計(jì)指標(biāo),需要在讀取DS21372寄存器的原始測試數(shù)據(jù)之后，經(jīng)過計(jì)算得到。統(tǒng)計(jì)指標(biāo)以秒為單位,程序設(shè)置了周期為1s的中斷定時(shí)讀取ds21372的寄存器值，調(diào)用計(jì)算函數(shù)計(jì)算統(tǒng)計(jì)指標(biāo)。圖3是在G.821分析模式下的統(tǒng)計(jì)指標(biāo)算法流程圖，其余分析模式下與此相似。

　　圖3 G.821分析模式下測試指標(biāo)計(jì)算流程圖

　　4 結(jié)束語

　　2M 測試系統(tǒng)在我國電信、網(wǎng)絡(luò)相關(guān)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用價(jià)值。本文介紹的基于ARM的2M測試系統(tǒng)具有體積小、功耗低、功能豐富等優(yōu)點(diǎn)，特別是能夠語音監(jiān)聽，并且各時(shí)隙可選，能夠滿足對2M口性能的測試和分析。ARM處理器以其高性價(jià)比，在嵌入式系統(tǒng)領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。

　　本文作者創(chuàng)新點(diǎn):在2M測試系統(tǒng)中采用時(shí)隙交換芯片與語音檢測芯片組合成語音在線監(jiān)聽模塊，能實(shí)現(xiàn)任一時(shí)隙的語音監(jiān)聽，以及任一時(shí)隙的線路信號狀態(tài)檢測，能更好的幫助工程技術(shù)人員對2M線路的測試和維護(hù)。

　　參考文獻(xiàn)：

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