新聞中心

EEPW首頁 > EDA/PCB > 設計應用 > 利用AMSVF進行混合信號SoC的全芯片驗證

利用AMSVF進行混合信號SoC的全芯片驗證

作者:李煒 李濤 宋磊 時間:2008-07-14 來源:電子設計應用 收藏

  的快速包絡分析功能提供了對模擬/電路進行模擬和設計的有效方法。任何包含已調(diào)制信號的電路或RF部分都可以通過快速包絡分析法進行模擬,而電路的其它部分則由數(shù)字求解器或傳統(tǒng)的瞬態(tài)模擬法進行仿真。包括數(shù)字和模擬電路在內(nèi)的所有仿真都在每個時間步長進行同步,它考慮了各仿真之間的耦合,并確保解決方案的精確性??焖侔j分析可以跳過時鐘周期中的很多時點,減少大量的時間步長數(shù),簡化計算量。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/85650.htm

  以圖3中完整的RF電路為例,它包含了發(fā)射器、接收器和ADC/DAC Verilog-AMS模塊。與瞬態(tài)分析相比,快速包絡分析可以通過極小的精確性損失讓性能提高7倍。兩種方法的波形對比如圖4所示,來自快速包絡的最后一個波形跳過了很多周期。

圖3 完整的RF電路和ADC/DAC行為模塊

  結語

  已經(jīng)被證明是一種針對復雜電路進行全芯片驗證的有效而強大的工具。它不僅提供了靈活的應用模式,還包括更加先進而強大的功能,能夠幫助更多的用戶在設計的初期階段發(fā)現(xiàn)設計錯誤,縮短設計周期,實現(xiàn)一次性流片成功。


上一頁 1 2 3 下一頁

評論


相關推薦

技術專區(qū)

關閉