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磁盤式存儲(chǔ)技術(shù)還有十年風(fēng)光:閃存硬盤前景不容樂觀

作者: 時(shí)間:2009-10-27 來源:physorg 收藏

  相變內(nèi)存技術(shù)(phase change random access memory (PCRAM)):

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/99277.htm

 

  據(jù)文章的作者解釋,PCRAM相變內(nèi)存技術(shù)基于相變化材料的相變屬性。對(duì)這種材料適當(dāng)加熱后,相變化材料的形態(tài)將在結(jié)晶和非結(jié)晶兩種相上發(fā)生變化,從而衍生出不同的電阻值,這樣便可以用于記錄“1”“0”兩種數(shù)值。這種技術(shù)的存儲(chǔ)單元體積小,每個(gè)存儲(chǔ)單元能存儲(chǔ)多位數(shù)據(jù),因此存儲(chǔ)密度以及容量成本方面均比式硬盤優(yōu)越,不過這種技術(shù)的劣勢在于功耗較大。目前,Intel與Microelectronics的合資公司Numonyx已經(jīng)將基于這種技術(shù)的產(chǎn)品推向了市場,因此在實(shí)際應(yīng)用方面相變內(nèi)存技術(shù)比STTRAM技術(shù)要優(yōu)越許多。

  自旋極化內(nèi)存技術(shù)(spin transfer torque random access memory (STTRAM)).



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