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實(shí)時(shí)測(cè)試
實(shí)時(shí)測(cè)試 文章 進(jìn)入實(shí)時(shí)測(cè)試技術(shù)社區(qū)
汽車(chē)實(shí)時(shí)測(cè)試的演變
- 實(shí)時(shí)測(cè)試技術(shù)指在一個(gè)實(shí)時(shí)環(huán)境中實(shí)現(xiàn)測(cè)試應(yīng)用,主要用于幫助測(cè)試系統(tǒng)獲得更高的可靠性和/或確定性。因此,實(shí)時(shí)...
- 關(guān)鍵字: 實(shí)時(shí)測(cè)試 閉環(huán)控制 自動(dòng)操縱
實(shí)時(shí)測(cè)試技術(shù)簡(jiǎn)介以及其演變過(guò)程
- 實(shí)時(shí)測(cè)試技術(shù)指在一個(gè)實(shí)時(shí)環(huán)境中實(shí)現(xiàn)測(cè)試應(yīng)用,主要用于幫助測(cè)試系統(tǒng)獲得更高的可靠性和/或確定性。因此,實(shí)時(shí)測(cè)試技術(shù)在許多產(chǎn)品和系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)過(guò)程中扮演者重要的角色。比如對(duì)耐用性,使用壽命有要求以及其它一些需要
- 關(guān)鍵字: 實(shí)時(shí)測(cè)試 技術(shù)簡(jiǎn)介 過(guò)程
無(wú)線(xiàn)ATM信元傳送性能的實(shí)時(shí)測(cè)試
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
- 關(guān)鍵字: 無(wú)線(xiàn)ATM信元 傳送性能 實(shí)時(shí)測(cè)試 ATM交換機(jī)
Launch-off-shift實(shí)時(shí)測(cè)試
- 通過(guò)全面跳變樣本(broadside-transition-pattern)和launch-off-shift技術(shù)的比較,表明后者可以用于測(cè)試9...
- 關(guān)鍵字: 實(shí)時(shí)測(cè)試 全面跳變樣本 無(wú)線(xiàn)基帶
實(shí)時(shí)測(cè)試技術(shù)的演變進(jìn)程
- 實(shí)時(shí)測(cè)試技術(shù)涉及到使用實(shí)時(shí)環(huán)境來(lái)實(shí)現(xiàn)測(cè)試應(yīng)用,它主要用于在測(cè)試系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)更高的可靠性和/或確定性。因此,它們?cè)诂F(xiàn)今的許多產(chǎn)品和系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)中都發(fā)揮著重要的作用。
- 關(guān)鍵字: 實(shí)時(shí)測(cè)試 進(jìn)程
實(shí)時(shí)測(cè)試的演變
- 實(shí)時(shí)測(cè)試技術(shù)指在一個(gè)實(shí)時(shí)環(huán)境中實(shí)現(xiàn)測(cè)試應(yīng)用,主要用于幫助測(cè)試系統(tǒng)獲得更高的可靠性和/或確定性。因此,實(shí)時(shí)測(cè)試技術(shù)在許多產(chǎn)品和系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)過(guò)程中扮演者重要的角色。比如對(duì)耐用性,使用壽命有要求以及其它一些需要長(zhǎng)期持續(xù)運(yùn)行或者需要在無(wú)人值班的情況下運(yùn)行的測(cè)試系統(tǒng),這些系統(tǒng)要求實(shí)時(shí)執(zhí)行平臺(tái)提供卓越的可靠性。需要使用實(shí)時(shí)測(cè)試技術(shù)的例子還包括環(huán)境試驗(yàn)單元,測(cè)功機(jī),硬件在環(huán)(HIL)仿真器以及其他類(lèi)似的執(zhí)行閉環(huán)控制的測(cè)試系統(tǒng),這些系統(tǒng)要求實(shí)時(shí)執(zhí)行平臺(tái)具有低抖動(dòng)確定性。通過(guò)研究幾個(gè)實(shí)時(shí)測(cè)試(RTT)的應(yīng)用,我們可以看到
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實(shí)時(shí)測(cè)試的演變發(fā)展
- 實(shí)時(shí)測(cè)試技術(shù)指在一個(gè)實(shí)時(shí)環(huán)境中實(shí)現(xiàn)測(cè)試應(yīng)用,主要用于幫助測(cè)試系統(tǒng)獲得更高的可靠性和/或確定性。因此,實(shí)時(shí)測(cè)試技術(shù)在許多產(chǎn)品和系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)過(guò)程中扮演者重要的角色。比如對(duì)耐用性,使用壽命有要求以及其它一些需要長(zhǎng)期持續(xù)運(yùn)行或者需要在無(wú)人值班的情況下運(yùn)行的測(cè)試系統(tǒng),這些系統(tǒng)要求實(shí)時(shí)執(zhí)行平臺(tái)提供卓越的可靠性。需要使用實(shí)時(shí)測(cè)試技術(shù)的例子還包括環(huán)境試驗(yàn)單元,測(cè)功機(jī),硬件在環(huán)(HIL)仿真器以及其他類(lèi)似的執(zhí)行閉環(huán)控制的測(cè)試系統(tǒng),這些系統(tǒng)要求實(shí)時(shí)執(zhí)行平臺(tái)具有低抖動(dòng)確定性。
- 關(guān)鍵字: NI 實(shí)時(shí)測(cè)試
MathWorks 宣布推出 xPC Target Turnkey
- MathWorks 今天宣布推出 xPC Target Turnkey,這是使用 Simulink 進(jìn)行快速控制原型和硬件在環(huán) (HIL) 仿真的組裝完備的實(shí)時(shí)測(cè)試解決方案。xPC Target Turnkey 將 MathWorks 的 xPC Target 與 Speedgoat GmbH 提供的實(shí)時(shí)目標(biāo)機(jī)和 I/O 模塊相結(jié)合,組成完整的實(shí)時(shí)測(cè)試解決方案。 配置實(shí)時(shí)測(cè)試系統(tǒng)涉及評(píng)估軟件平臺(tái)、硬件技術(shù)、選件以及項(xiàng)目需求的全過(guò)程,這一過(guò)程會(huì)耗費(fèi)大量時(shí)間和資源。xPC Target Turnke
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共9條 1/1 1 |
實(shí)時(shí)測(cè)試介紹
您好,目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條實(shí)時(shí)測(cè)試!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)實(shí)時(shí)測(cè)試的理解,并與今后在此搜索實(shí)時(shí)測(cè)試的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)實(shí)時(shí)測(cè)試的理解,并與今后在此搜索實(shí)時(shí)測(cè)試的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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