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Launch-off-shift實時測試

作者: 時間:2012-09-03 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

  通過(broadside-transition-pattern)和 launch-off-shift 技術(shù)的比較,表明后者可以用于測試 90 nm 器件。

  在對 0.13mm以下工藝器件的制造進行實時(at-speed)測試時,Launch-off-shift(LOS)與技術(shù)都有各自的用途。Broadside-transition-pattern 方法更常用,但我們將兩種技術(shù)針對器件進行了測試,結(jié)果表明 LOS 更有優(yōu)勢。

圖1實時掃描測試包括裝入低速時鐘速率的掃描鏈然后加兩個工作頻率的時鐘脈沖


  實時掃描測試用于靜態(tài)測試無法勝任的應(yīng)用(參考文獻 1)。實時掃描測試的基本步驟是,以低時鐘速率裝入掃描鏈,然后加上兩個工作頻率的時鐘脈沖(圖 1)。第一個脈沖產(chǎn)生一個跳變,從一個掃描單元啟動一個傳播。第二個脈沖在被測路徑的末端捕捉掃描單元值。

  如果電路工作正常,則跳變將及時傳播到路徑的末端,并捕捉到正確的值。否則,如果有一個延遲造成慢速傳播,則從觸發(fā)到捕捉之間的跳變將減緩,并捕捉到錯誤值,這樣就檢測到了缺陷。

  最常用的實時掃描圖形是跳變樣本(transition pattern,參考文獻 2)。設(shè)計中每個

門的端子都對可能的緩升(0 至 1)和緩降(1 至 0)缺陷建立了模型。自動測試程序生成(ATPG)工具以這些故障點為目標(biāo),用所有觸發(fā)掃描單元產(chǎn)生一個跳變,并用下游的任何掃描單元捕捉結(jié)果。

  用PLL作精確時鐘

  實時掃描測試的一個重要問題是如何為實時的觸發(fā)和捕捉脈沖施加精確的時鐘。傳統(tǒng)的保持(stuck-at)掃描樣本是靜態(tài)的。用于裝入掃描鏈和捕捉結(jié)果的保持時鐘頻率一般在 10 MHz 和 40 MHz 之間。實時掃描測試可以使用類似保持測試中的時鐘頻率來裝入掃描鏈,但必須以工作頻率施加觸發(fā)和捕捉脈沖。

  隨著所需頻率的增加,用一臺測試儀為觸發(fā)和捕捉提供實時時鐘越來越吃力。有一種方案是圍繞器件內(nèi)部鎖相環(huán)(PLL)采用一些基本的編程能力,它提供了一種不錯的選擇(參考文獻 3)。為提供內(nèi)部 PLL 控制已成為實時掃描測試的一種常用做法(參考文獻 4 和 5)。

  實時跳變圖形應(yīng)用中最常見的技術(shù)被稱為全面或 launch-from-capture 樣本類型(參考文獻 6),見圖 2。采用這種樣本類型時,掃描鏈被裝入,然后將 scan_enable(SE)強制置 0,使掃描鏈進入工作/捕捉模式。有些時候,不活動的測試樣本要額外增加一個循環(huán),以確保 scan_enable 的完全穩(wěn)定。然后,生成兩個脈沖來觸發(fā)和捕捉該跳變。

  全面樣本在工作模式下觸發(fā)跳變,因此可能會沿著實際工作路徑傳播跳變。通常情況下,全面樣本的 ATPG 覆蓋報告可以比標(biāo)準(zhǔn)的靜態(tài)保持樣本少 10%。

圖2利用全面跳變樣本裝入一個掃描鏈然后將scanenable置為0使之進入工作捕捉樣本


  Launch-off-shift 樣本

  采用 LOS 樣本時(圖 3),觸發(fā)在裝入掃描鏈時的最后跳變期內(nèi)發(fā)生。然后,電路非??斓乇恢脼楣ぷ?捕捉模式,從而可以產(chǎn)生一個實時工作時鐘。

圖3在一個launch-offshift跳變樣本中在裝入掃描鏈期間的最后跳變過程中開始觸發(fā)


  與全面樣本相比,用 LOS 的 ATPG 更加簡單。它是在最后跳變前的一個跳變期間,對一個跳變將起始值直接裝入掃描單元的一次簡單的 ATPG 動作,然后在最后跳變時裝入跳變值。全面圖形需要 ATPG 計算出通過組合邏輯的跳變值,因為它在觸發(fā)脈沖期間是處于工作模式。另外,LOS樣本報告的覆蓋通常高于全面樣本。

  LOS 可報告較高的覆蓋,并使 ATPG 更加簡單,因此與全面樣本相比,它有較少的樣本和更快的 ATPG 運行時間。那么,為什么全面跳變測試要比 LOS 樣本更常用呢?

  有兩個主要原因限制了 LOS 樣本的應(yīng)用。首先,難以在最后跳變和工作時鐘脈沖之間使電路從跳變模式改變到工作/捕捉模式。如果采用標(biāo)準(zhǔn)的 scan_enable 結(jié)構(gòu),則 scan_enable 必須發(fā)送一個時鐘。此外,由于 scan_enable 要接到所有時序元件上,因此它是一個全局時鐘,必須保持在系統(tǒng)時鐘頻率上。解決這個問題的一個方法是為 scan_enable 在整個器件中增加流水線邏輯(參考文獻 7)。

  流水線 scan_enable 為設(shè)計增加了額外的測試邏輯,但它避免了將 scan_enable 作為一個全局時鐘的困難工作。如圖 4 所示,時鐘在本地 scan_enable 中觸發(fā)了一個變化。

  采用 LOS 樣本的另一個常見問題是,也許會通過功能不正常的路徑來測試電路。LOS 樣本可以在一次跳變中改變,而在正常的電路工作期間不可能出現(xiàn)這種跳變。

  還有一個重要問題,即超出全面樣本的覆蓋中,有多少是來源于非功能邏輯?有可能出現(xiàn)這種情況,在期間,測試的非功能邏輯會報告虛假故障,從而導(dǎo)致良率損失(參考文獻 8)。


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