首頁(yè)　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會(huì)展　 EETV　 百科 　 問(wèn)答　 電路圖　 工程師手冊(cè) 　 Datasheet　 100例 　 活動(dòng)中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請(qǐng)
EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 護(hù)膜和掩膜

Lasertec護(hù)膜和掩膜雜質(zhì)粒子檢查設(shè)備

  • Lasertec日前宣布成功地推出了新型護(hù)膜和掩膜異物檢查設(shè)備——PEGSIS P100。這個(gè)設(shè)備能與90nm甚至更小尺寸半導(dǎo)體器件設(shè)計(jì)規(guī)則的掩膜兼容，具有很高的檢查速率和靈敏度。Lasertec將這個(gè)產(chǎn)品視為2006年之前的旗艦產(chǎn)品，計(jì)劃在2006年受理10部訂單。 該設(shè)備不僅將檢測(cè)靈敏度提高到了4μm，還能通過(guò)明視場(chǎng)檢查進(jìn)行缺陷檢測(cè)。只要缺陷的種類清楚了，就能選擇合理的洗凈方法。今后幾個(gè)月內(nèi)還將配備可清除異物的選配功能，據(jù)介紹能夠當(dāng)場(chǎng)清除異物。包括掩膜搬運(yùn)等時(shí)間在內(nèi)護(hù)膜表面和掩膜背面的檢測(cè)時(shí)
  • 關(guān)鍵字： Lasertec  護(hù)膜和掩膜  檢查設(shè)備  雜質(zhì)粒子  
共1條 1/1 1

護(hù)膜和掩膜介紹

您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條護(hù)膜和掩膜!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)護(hù)膜和掩膜的理解，并與今后在此搜索護(hù)膜和掩膜的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會(huì)員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473