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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 模數(shù)轉(zhuǎn)換(adc)

模數(shù)轉(zhuǎn)換(adc) 文章 進入模數(shù)轉(zhuǎn)換(adc)技術(shù)社區(qū)

CLK控制器為ADC時鐘提供專用可編程預(yù)分頻器解析方案

  • 一 STM32 ADC 采樣 頻率的確定先看一些資料，確定一下STM32 ADC 的時鐘：(1)，由時鐘控制器提供的ADCCLK 時鐘和PCLK2(APB2 時鐘)同步。CLK 控制器為ADC 時鐘提供一個專用的可編程預(yù)分頻器。(2)一般情況下在程序 中將
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FPGA與ADC數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)輸出的接口及LVDS應(yīng)用訣竅

  • 現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)與模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)輸出的接口是一項常見的工程設(shè)計挑戰(zhàn)。本文簡要介紹各種接口協(xié)議和標(biāo)準(zhǔn)，并提供有關(guān)在高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器實現(xiàn)方案中使用LVDS的應(yīng)用訣竅和技巧。接口方式和標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)場可編程門陣列
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一種用于13 bit 40 MS/s流水線ADC中的采樣保持電路設(shè)計

  • 近年來，隨著通信和多媒體市場的快速增長，數(shù)字系統(tǒng)無論在處理能力還是處理速度上都取得了飛速的發(fā)展，因此對作為模擬信號通向數(shù)字信號橋梁的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的性能要求也越來越高 [1]。在各種ADC結(jié)構(gòu)中，流水線ADC在
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大信號輸出的硅應(yīng)變計與模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的接口實現(xiàn)方法

  • 電橋是精密測量電阻或其他模擬量的一種有效的方法。本文介紹了如何實現(xiàn)具有較大信號輸出的硅應(yīng)變計與模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的接口，特別是Sigma;-Delta; ADC，當(dāng)使用硅應(yīng)變計時，它是一種實現(xiàn)壓力變送器的低成本方案　　
  • 關(guān)鍵字： ADC  大信號  硅應(yīng)變計  模數(shù)轉(zhuǎn)換器    

ADC關(guān)鍵性能指標(biāo)及誤區(qū) ― 全方位學(xué)習(xí)模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)

  • ADC關(guān)鍵性能指標(biāo)及誤區(qū)由于ADC產(chǎn)品相對于網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)品和服務(wù)器需求小很多，用戶和集成商在選擇產(chǎn)品時對關(guān)鍵指標(biāo)的理解難免有一些誤區(qū)，加之部分主流廠商刻意引導(dǎo)，招標(biāo)規(guī)范往往有不少非關(guān)鍵指標(biāo)作被作為必須符合項。接下
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ADC輸入轉(zhuǎn)換器電路分析 ― 全方位學(xué)習(xí)模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)

  • ADC輸入轉(zhuǎn)換器電路分析許多高精度模/數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸入范圍要求介于0.0V至5.0V之間。例如，MAX1402 (18位多通道Sigma;-Delta; ADC)測量兩個輸入之間的差值。典型的單端應(yīng)用中，該ADC將輸入電壓與固定的基準(zhǔn)電壓(例如2
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解析ADC不同類型數(shù)字輸出及挑戰(zhàn) ― 全方位學(xué)習(xí)模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)

  • ADC不同類型數(shù)字輸出深解在當(dāng)今的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)領(lǐng)域，ADC制造商主要采用三類數(shù)字輸出。這三種輸出分別是：互補金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)、低壓差分信號(LVDS)和電流模式邏輯(CML)。每類輸出均基于采樣速率、分辨率、
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工業(yè)信號電平的單電源ADC系統(tǒng)設(shè)計

  • 連接/參考器件AD7176-2 24位、250 kSPS Sigma;-Delta;型ADC，建立時間20 mu;sAD8475 精密、可選增益、全差分漏斗放大器ADR445 5 V超低噪聲LDO XFET基準(zhǔn)電壓源評估和設(shè)計支持電路評估板AD7176-2電路評估板(EVAL-A
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好噪聲？壞噪聲？教你認(rèn)識ADC輸入噪聲

  • 引言所有模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)都有一定數(shù)量的折合到輸入端的噪聲——它被看作一種與無噪聲ADC的輸入端串聯(lián)的噪聲源模型。不能把折合到輸入端的噪聲與量化噪聲相混淆，量化噪聲僅在ADC處理隨時間變化的信號時有
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ADC應(yīng)用工程師困惑：是ENOB還是有效分辨率？

  • 您可能知道，有效位數(shù) (ENOB) 和有效分辨率都是與 ADC 分辨率有關(guān)的參數(shù)。理解它們的區(qū)別并確定哪個更具相關(guān)性，是令 ADC 用戶與應(yīng)用工程師等極為困惑的問題，經(jīng)常因此發(fā)生爭論。您認(rèn)為哪個更重要?ADC 的分辨率位數(shù)
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高動態(tài)范圍ADC：逐次逼近型抑或Σ-Δ型？

  • 工業(yè)、儀器儀表和醫(yī)療設(shè)備中使用的高性能數(shù)據(jù)采集信號鏈需要寬動態(tài)范圍和高精度。 通過增加可編程增益放大器，或者并聯(lián)使用多個ADC，然后利用數(shù)字后處理對結(jié)果進行平均，可以提高ADC的動態(tài)范圍，但受制于功耗、空間
  • 關(guān)鍵字： ADC    動態(tài)范圍    過采樣    SAR型    Σ-Δ型  

強化無線通信濾波效果 連續(xù)時間ΔΣ調(diào)制器受矚目

  • 連續(xù)時間Sigma;-Delta;調(diào)制器(Continuous-Time Delta;Sigma; Modulator)先天上具有對輸入信號濾波的效果，可降低前級濾波器設(shè)計復(fù)雜度，并提升信號質(zhì)量，因而成為現(xiàn)今無線通信系統(tǒng)接收機(Receiver)設(shè)計的常用方
  • 關(guān)鍵字： 連續(xù)時間ΔΣ調(diào)制器    過采樣    ADC    環(huán)路濾波器  

SAR ADC功率技術(shù)規(guī)格的謎團

  • 逐次逼近寄存器(SAR)型ADC的謎團之一，或者至少是造成嚴(yán)重混淆的原因，就是計算系統(tǒng)級的確切電源需求。經(jīng)研究發(fā)現(xiàn)，相關(guān)技術(shù)手冊對于該技術(shù)規(guī)格讓人難以捉摸，而且令人沮喪。SAR ADC提供一種低功耗方法來測量輸入信
  • 關(guān)鍵字： SAR ADC  模擬技術(shù)  

噪聲：模擬輸入的諸多討論

  • 在考慮噪聲因素以及與ADC模擬輸入和共模電壓節(jié)點有關(guān)的其他失真情況時，自帶開關(guān)電容輸入采樣網(wǎng)絡(luò)的ADC同樣也可作為一個簡單的指標(biāo)。圖1顯示集成驅(qū)動放大器和抗混疊濾波器(AAF)的典型ADC模擬輸入。集成放大器和AAF的
  • 關(guān)鍵字： 噪聲    模擬輸入    ADC  

定制化PSoC實現(xiàn)8通道SAR ADC采樣16通道

  • 通過ADC進行信號采樣是MCU應(yīng)用的常見任務(wù)，這可以將連續(xù)模擬信號轉(zhuǎn)換為一系列離散的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)供MCU處理。在某些應(yīng)用中，單個ADC需要以高采樣率對多個通道進行采樣。例如電源監(jiān)測系統(tǒng)的管理子系統(tǒng)需要對多個穩(wěn)壓電源的
  • 關(guān)鍵字： PSoC    ADC    采樣  
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模數(shù)轉(zhuǎn)換(adc)介紹

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