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Multitest推出適合大功率應(yīng)用的一站式解決方案

  • 面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商,設(shè)計(jì)和制造最終測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,日前宣布其MT9928重力分選機(jī)可理想地支持新推出的ecoAmp Kelvin測(cè)試座的特殊應(yīng)用。
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Mercury測(cè)試座成功通過(guò)多項(xiàng)測(cè)試評(píng)估

  • 面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商,設(shè)計(jì)和制造最終測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,日前宣布其Mercury測(cè)試座在一家國(guó)際集成元件制造商嚴(yán)格的BGA測(cè)試評(píng)估中表現(xiàn)出色,現(xiàn)已被所有業(yè)務(wù)部門列為合格產(chǎn)品。
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Multitest推出的Mercury測(cè)試座具有高達(dá)6%的合格率提升

  •   面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商,設(shè)計(jì)和制造最終測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,日前欣然宣布,以出色的電氣及機(jī)械性能著稱的Mercury™測(cè)試座,在與另一強(qiáng)勁亞洲競(jìng)爭(zhēng)廠家所產(chǎn)的知名測(cè)試座的逐個(gè)評(píng)估中,展現(xiàn)了其領(lǐng)先特性。   在一項(xiàng)大批量生產(chǎn)測(cè)試中,Multitest Mercury™測(cè)試座的一次合格率平均顯著提高了2至6個(gè)百分點(diǎn)。正是因?yàn)檫@一出色成績(jī),一家國(guó)際性IDM已經(jīng)開(kāi)始在多個(gè)器件的測(cè)試中使用Mercury™測(cè)
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Multitest的Dura Kelvin顯著降低總測(cè)試成本

  •   面向世界各地的集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商,設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,日前欣然宣布其Dura?Kelvin測(cè)試座再次證明在超長(zhǎng)的使用壽命和清洗周期方面名不虛傳。在一家國(guó)際性IDM大批量生產(chǎn)廠,Dura?Kelvin測(cè)試座顯著降低了總體測(cè)試成本。   在項(xiàng)目期限內(nèi),首檢合格率和清洗頻率都受到了監(jiān)控。Dura?Kelvin明顯超過(guò)了所有目標(biāo),使用壽命已超過(guò)4百萬(wàn)次插撥,這是設(shè)定目標(biāo)的四倍以上。首檢合格率從95%提高到98
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優(yōu)化測(cè)試單元產(chǎn)能:Multitest的MT2168充分利用先進(jìn)測(cè)試儀性能

  •   面向集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商,設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座、測(cè)試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,日前欣然宣布其MT2168的設(shè)計(jì)旨在實(shí)現(xiàn)最佳測(cè)試儀利用率。短Index時(shí)間(DUT交換時(shí)間)、快速上料與分類以及超大器件預(yù)熱能力均支持分選機(jī)與新一代測(cè)試儀保持同步。   理想情況下,如果分選機(jī)沒(méi)有局限性,增強(qiáng)的測(cè)試儀性能從兩方面優(yōu)化了測(cè)試單元產(chǎn)能:它們得益于更短測(cè)試時(shí)間和更高測(cè)試并行性的應(yīng)用。   目前很多先進(jìn)的分選機(jī)不能支持增強(qiáng)的測(cè)試儀性能,即使它們擁有多個(gè)相應(yīng)的測(cè)試位亦是如此
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Multitest ECON測(cè)試座使用壽命超過(guò)450萬(wàn)次

  •   面向集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商,設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座、測(cè)試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,日前宣布其知名的ECON測(cè)試座再次證明其非凡的低測(cè)試成本,該測(cè)試座最近在一家亞洲測(cè)試廠的使用壽命超過(guò)450萬(wàn)次。  
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測(cè)試座介紹

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