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測(cè)試方法
測(cè)試方法 文章 進(jìn)入測(cè)試方法技術(shù)社區(qū)
GSM網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀器及其測(cè)試方法
- 摘 要:本文介紹無線接口測(cè)試儀器及其測(cè)試方法,包括TEMS、頻譜分析儀、Umstar測(cè)試系統(tǒng)、CTR分析軟件。關(guān)鍵詞:TEMS、頻譜分析儀、Umstar、CTR。隨著移動(dòng)通信業(yè)的發(fā)展,移動(dòng)網(wǎng)絡(luò)的日益龐大,網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化勢(shì)必成為網(wǎng)絡(luò)維護(hù)
- 關(guān)鍵字: GSM 網(wǎng)絡(luò)測(cè)試 測(cè)試方法 儀器
淺談綜合布線測(cè)試儀的測(cè)試方法與標(biāo)準(zhǔn)
- 綜合布線測(cè)試儀有很多值得學(xué)習(xí)的地方,這里我們主要介紹綜合布線測(cè)試儀,包括介紹詳述驗(yàn)證測(cè)試儀、詳述鑒定測(cè)試儀、詳述認(rèn)證測(cè)試等方面的問題,希望對(duì)大家有所幫助。手持式綜合布線測(cè)試儀的主要功能與特點(diǎn)是滿足于現(xiàn)
- 關(guān)鍵字: 綜合布線 測(cè)試儀 測(cè)試方法 標(biāo)準(zhǔn)
VNA使用方法:矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀校準(zhǔn)和測(cè)試方法
- 關(guān)鍵字: VNA 精確測(cè)量 單端口DUT 是不是每次測(cè)量一個(gè)新的項(xiàng)目前都必須做校準(zhǔn)?這個(gè)是不一定需要的,盡量將每次校準(zhǔn)的state存入VNA,名字最好為校準(zhǔn)狀態(tài),例如頻率范圍,輸入激勵(lì)功率等。如果有新的測(cè)試項(xiàng)目,但是它的
- 關(guān)鍵字: VNA 方法 測(cè)試方法 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
常用的單片機(jī)系統(tǒng)RAM測(cè)試方法
- 在各種單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)中,存儲(chǔ)器的正常與否直接關(guān)系到該系統(tǒng)的正常工作。為了提高系統(tǒng)的可靠性,對(duì)系統(tǒng)的可靠性進(jìn)行測(cè)試是十分必要的。通過測(cè)試可以有效地發(fā)現(xiàn)并解決因存儲(chǔ)器發(fā)生故障對(duì)系統(tǒng)帶來的破壞問題。本文針對(duì)
- 關(guān)鍵字: RAM 單片機(jī)系統(tǒng) 測(cè)試方法
LED的測(cè)試方法及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的制訂(圖)
- 一、引言半導(dǎo)體發(fā)光二極管(LED)已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于指示燈、信號(hào)燈、儀表顯示、手機(jī)背光源、車載光源等場(chǎng)合,...
- 關(guān)鍵字: LED 測(cè)試方法 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
基于IEEE1149.4的測(cè)試方法研究
- 根據(jù)混合信號(hào)邊界掃描測(cè)試的工作機(jī)制,提出了符合1149.4標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方法,并用本研究室開發(fā)的混合信號(hào)邊界掃描測(cè) ...
- 關(guān)鍵字: IEEE1149.4 測(cè)試方法
測(cè)試方法介紹
您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條測(cè)試方法!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)測(cè)試方法的理解,并與今后在此搜索測(cè)試方法的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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