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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 測(cè)試方法

幾種常用的單片機(jī)系統(tǒng)RAM測(cè)試方法

  • 在各種單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)中，存儲(chǔ)器的正常與否直接關(guān)系到該系統(tǒng)的正常工作。為了提高系統(tǒng)的可靠性，對(duì)系統(tǒng)的可靠性進(jìn)行測(cè)試是十分必要的。通過(guò)測(cè)試可以有效地發(fā)現(xiàn)并解決因存儲(chǔ)器發(fā)生故障對(duì)系統(tǒng)帶來(lái)的破壞問(wèn)題。本文針對(duì)
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WiMax技術(shù)的測(cè)試方法

  • 　WiMax技術(shù)要在具體的應(yīng)用場(chǎng)景中體現(xiàn)出自身的優(yōu)勢(shì)，才能得到市場(chǎng)的認(rèn)可，這就需要通過(guò)應(yīng)用測(cè)試來(lái)衡量系統(tǒng)的性能參數(shù)。WiMax的測(cè)試方法分為三部分：協(xié)議分析、無(wú)線射頻分析，傳輸性能分析。根據(jù)協(xié)議分析、無(wú)線射頻分
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光時(shí)域反射儀（OTDR）工作原理及測(cè)試方法

  • 一、OTDR的工作原理：
    光纖光纜測(cè)試是光纜施工、維護(hù)、搶修重要技術(shù)手段，采用OTDR(光時(shí)域反射儀）進(jìn)行光纖連接的現(xiàn)場(chǎng)監(jiān)視和連接損耗測(cè)量評(píng)價(jià)，是目前最有效的方式。這種方法直觀、可信并能打印出光纖后向散射信號(hào)曲
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陶瓷濾波器介紹及測(cè)試方法

  • 陶瓷濾波器按幅頻特性分為帶阻濾波器（又稱陷波器）、帶通濾波器（又稱濾波器）兩類。主要用于選頻網(wǎng)絡(luò)、中頻調(diào)諧、鑒頻和濾波等電路中，達(dá)到分隔不同頻率電流的目的。具有Q值高，幅頻、相 頻特性好，體積小、信噪比
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晶體二極管的特性和測(cè)試方法及參數(shù)

  • 一、二極管的特性二極管最主要的特性是單向?qū)щ娦?，其伏安特性曲線如圖1所示：圖1、二極管的伏安特性曲線1、正向特性另在二極管兩端的正向電壓（P為正、N為負(fù)）很小時(shí)（鍺管小于0.1伏，硅管小于0.5伏），管子不導(dǎo)通處
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基于環(huán)境模擬的入侵檢測(cè)系統(tǒng)測(cè)試方法

  • 0 引 言
    在保障網(wǎng)絡(luò)的安全性時(shí)，入侵檢測(cè)系統(tǒng)已經(jīng)成為必選的技術(shù)和手段，因?yàn)樗绕鹌渌陌踩夹g(shù)存在著很多優(yōu)勢(shì)。用戶在選用IDS時(shí)，總是從各自不同的需要來(lái)考慮。要衡量IDS的優(yōu)劣，就需要明確IDS應(yīng)該具備的
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A/D轉(zhuǎn)換芯片的測(cè)試環(huán)境構(gòu)成及測(cè)試方法

  • 所謂的混合信號(hào)測(cè)試,是指對(duì)A/D、D/A、鎖相環(huán)等兼有數(shù)字和模擬兩種信號(hào)的混合電路芯片的測(cè)試?；旌闲盘?hào)測(cè)試的測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)、費(fèi)用高、測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)復(fù)雜,在實(shí)現(xiàn)上具有一定的難度。而數(shù)字電路測(cè)試系統(tǒng)有著出色的測(cè)試能力,如
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生產(chǎn)制造中的低功耗測(cè)試方法

  • 受無(wú)線和高功效器件的普及以及提供“綠色”電子系統(tǒng)的需求驅(qū)動(dòng)，設(shè)計(jì)師越來(lái)越多地采用低功率設(shè)計(jì)來(lái)應(yīng)對(duì)越來(lái)越艱巨的功能性功耗挑戰(zhàn)。直到最近，管理制造測(cè)試過(guò)程中的功率問(wèn)題已經(jīng)成為第二大備受業(yè)界關(guān)注的要求。但隨
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更好、更快的開環(huán)增益測(cè)試方法

  • 　　在使用反饋的系統(tǒng)中，反饋網(wǎng)絡(luò)是一種經(jīng)過(guò)配置而獲得特定增益和相位關(guān)系的電路，比如，一個(gè)可調(diào)節(jié)的比例積分差分(PID)控制器，用于調(diào)整環(huán)路的增益或相位以保證穩(wěn)定性(見(jiàn)圖1)。我們往往需要對(duì)這個(gè)反饋網(wǎng)絡(luò)在特定配置下的性能進(jìn)行測(cè)量，以便對(duì)它的開環(huán)特性建立模型。但這樣的測(cè)試通?？偸呛芾щy的。例如，積分器的低頻增益可以非常高，一般會(huì)超出常用測(cè)試儀的測(cè)量范圍。所以，這些測(cè)試的目的是，使用現(xiàn)有的工具和少量的專用電路，以最小的工作量，快速地得到網(wǎng)絡(luò)頻率響應(yīng)的特性。 圖1? 一個(gè)基本的反饋系統(tǒng) 　　舉例
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CDMA移動(dòng)臺(tái)的主要射頻指標(biāo)和測(cè)試方法

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