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NI與領(lǐng)先的ATE供應(yīng)商泰瑞達(dá)合作實現(xiàn)實時分析
- NI(已正式成為艾默生一員,現(xiàn)作為艾默生旗下新的測試與測量業(yè)務(wù)集團(tuán)運營)近日宣布了一項新計劃,利用NI Global Operations(GO,前身為Optimal+)平臺在邊緣側(cè)提供實時的半導(dǎo)體分析解決方案。這種更新水平的基礎(chǔ)設(shè)施和控制能力為平臺用戶、NI自身、乃至第三方人員開發(fā)更先進(jìn)和更定制化的應(yīng)用程序打開了大門。此次發(fā)布的亮點是NI GO生態(tài)系統(tǒng)中的新支持層以及開始與領(lǐng)先ATE供應(yīng)商泰瑞達(dá)(Teradyne)的合作。OptimalPlus GO對半導(dǎo)體測試操作的質(zhì)量、良率、吞吐量和功能需求的不斷提
- 關(guān)鍵字: NI Global Operations ATE 泰瑞達(dá) Teradyne
如何為ATE應(yīng)用創(chuàng)建具有拉電流和灌電流功能的雙輸出電壓軌
- 本文詳細(xì)介紹一種創(chuàng)建雙輸出電壓軌的方法,該方法能為設(shè)備電源(DPS)提供正負(fù)電壓軌,并且只需要一個雙向電源。傳統(tǒng)的設(shè)備電源供電方法使用兩個雙向(拉電流和灌電流能力)電源,一個為正電壓軌供電,一個為負(fù)電壓軌供電。這種配置不但笨重,且成本高昂。簡介DPS一般與自動測試設(shè)備(ATE)和其他測量設(shè)備搭配使用。ATE是一種電腦控制機(jī)械設(shè)備,自動驅(qū)動傳統(tǒng)的手動電子測試設(shè)備來評估功能、質(zhì)量、性能和應(yīng)力測試。這些ATE需要配套的DPS提供四象限電源運行能力。DPS是一種四象限電源,可以提供正電壓或負(fù)電壓,同時具備拉電流和
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英國Pickering公司公布三管齊下方案 應(yīng)對產(chǎn)品淘汰問題
- 2023年01月12日,英國克拉克頓——英國Pickering公司作為生產(chǎn)用于電子測試及驗證領(lǐng)域的信號開關(guān)與仿真解決方案的主要廠商,于今日公布了一套正式方案,用于保護(hù)客戶免受測試工程師在維護(hù)自動測試設(shè)備(ATE)時面臨的最昂貴的挑戰(zhàn)之一 —— 產(chǎn)品淘汰?!皩τ诰哂虚L生命周期的關(guān)鍵任務(wù)產(chǎn)品的部件,在制造和設(shè)計了初始測試系統(tǒng)的數(shù)十年后,仍需要進(jìn)行測試?!盤ickering公司的 CEO Keith Moore說,“當(dāng)儀器供應(yīng)商停止使用這些測試系統(tǒng)中的部件時 —— 這通常會讓從事航空航天/國防、鐵路運輸或電力的
- 關(guān)鍵字: Pickering 產(chǎn)品淘汰 ATE
Wi-Fi芯片基于IFLEX量產(chǎn)測試開發(fā)淺析
- 張桂玉,任希慶(安普德(天津)科技股份有限公司,天津?300384) 摘?要:本文測試的芯片是一款針對物聯(lián)網(wǎng)市場開發(fā)的高性能2.4 GHz/5 GHz雙頻Wi-Fi射頻芯片,支持802.11 a/b/g/n,Wi-Fi Direct、Soft AP以及STA/AP 模式共存。具有高速性、穩(wěn)定性和傳輸距離遠(yuǎn)等特點,可以高度匹配音視頻流媒體傳輸。廣泛應(yīng)用于無線流媒體音視頻播放、虛擬現(xiàn)實、無人機(jī)、運動相機(jī)、車聯(lián)網(wǎng)、工業(yè)控制、智能家居等領(lǐng)域。本文將對雙頻Wi-Fi芯片基于IntegraFlex平臺量產(chǎn)測試開
- 關(guān)鍵字: 202006 2.4G/5G 雙頻Wi-Fi芯片 ATE IFLEX 量產(chǎn)測試 硬件和軟件
芯片測試機(jī)面臨新挑戰(zhàn),泰瑞達(dá)系列舉措捍衛(wèi)品牌
- 集成電路自動測試設(shè)備(ATE,測試機(jī))是檢測芯片功能和性能的專用設(shè)備,據(jù)SEMI預(yù)測,2019年中國測試機(jī)占據(jù)后道檢測設(shè)備的62.8%的份額(如圖1)。數(shù)據(jù)來源:SEMI,賽迪顧問整理圖1 2019年中國集成電路測試設(shè)備產(chǎn)品結(jié)構(gòu)ATE測試的趨勢是什么?為此,電子產(chǎn)品世界記者訪問了泰瑞達(dá)業(yè)務(wù)戰(zhàn)略總監(jiān)翟朝艷(Natalian Der)女士,并深入了解了泰瑞達(dá)的產(chǎn)品特色與在華策略。1 芯片測試的新挑戰(zhàn)為了捍衛(wèi)電子產(chǎn)品的品牌,半導(dǎo)體公司可謂重任在肩:需要在芯片上整合多種功能,有高性能指標(biāo),很短的上市時間,合理的成
- 關(guān)鍵字: 測試機(jī) ATE 芯片
羅德與施瓦茨成為首家通過RCS 5.3一致性用例認(rèn)證的測試儀表廠商
- 羅德與施瓦茨公司認(rèn)證了基于IMS 的融合通信5.3(RCS5.3) 235工作組一致性測試用例中的24條用例,進(jìn)一步展示了羅德與施瓦茨公司在4G 和IMS測試測量領(lǐng)域的領(lǐng)先地位,同時也是業(yè)界唯一的一個通過該認(rèn)證的儀表廠家。 2018年3月21日,慕尼黑——這些用例是在新加坡召開的 GCF一致性和交互性工作組會議上通過的。融合通信(RCS)基于IP多媒體子系統(tǒng)可以支持不同的應(yīng)用包括即時消息,在線提示以及在視頻通話中共享多媒體內(nèi)容等。由于不斷增長的手機(jī)用戶和移動網(wǎng)
- 關(guān)鍵字: R&S CMW-ATE
基于PXI平臺的下一代半導(dǎo)體ATE解決方案
- 半導(dǎo)體測試行業(yè)現(xiàn)狀 電子行業(yè)正處于不斷的壓力下必須降低其制造成本。上市時間給半導(dǎo)體制造商很大的壓力,在新產(chǎn)品投入市場后的很短時間內(nèi),利潤是最高的,隨后,由于競爭者開發(fā)了類似底價產(chǎn)品,利潤水平開始下降。開發(fā)一個有效的節(jié)省費用的測試程序往往是阻礙新產(chǎn)品投入批量生產(chǎn)的瓶頸?! τ诎雽?dǎo)體供應(yīng)商來說,其中測試成本一直被視為沒有“增值”的成本。如圖1所示,ATE資本成本占IC平均銷售價格(ASP)的百分比逐漸變小?-?從2001年的5%上升到2010年的約1%。然而,整體器件的ASP也在減
- 關(guān)鍵字: ATE PXI
挑戰(zhàn)傳統(tǒng)ATE,測試廠商發(fā)力半導(dǎo)體測試
- 2017年春天開始,筆者有幸每個月接觸一家測試巨頭的高管,談?wù)?017中國市場的熱點時,半導(dǎo)體測試是被提及的最多的一個,也是最讓很多人意外的一個。
- 關(guān)鍵字: ATE PXI NI 半導(dǎo)體測試
PXI加入戰(zhàn)局,ATE全面模塊化時代到來
- 半導(dǎo)體測試ATE是整個測試系統(tǒng)中最為精密的一個環(huán)節(jié),也是最具市場價值的測試應(yīng)用領(lǐng)域之一,相比于幾萬塊錢規(guī)模的自動化測試系統(tǒng),動輒百萬的半導(dǎo)體測試ATE從技術(shù)上就限制了很多玩家的進(jìn)入。當(dāng)然,龐大的系統(tǒng)有自己固有的問題,就是設(shè)備的使用成本過于昂貴,基于這樣的需求,NI的PXI技術(shù)尋找了市場的切入點技術(shù)找到了市場的切入點。 在快速變遷的市場環(huán)境下,設(shè)備性能不斷挑戰(zhàn)著ATE系統(tǒng)功能的極限,測試設(shè)備的淘汰速度加快,測試成本也隨之增加,因而需要與日益嚴(yán)苛的性能需求保持同步。 成本效益是NI吸引半導(dǎo)體測試客戶的最大亮
- 關(guān)鍵字: PXI ATE NI 模塊化 半導(dǎo)體測試
波士頓半導(dǎo)體推出Aetrium分選機(jī)直銷與服務(wù)
- 波士頓半導(dǎo)體設(shè)備公司(BSE) 近日宣布,其在亞洲的現(xiàn)有銷售與服務(wù)機(jī)構(gòu)將立即開始在該地區(qū)提供Aetrium 分選機(jī)的銷售與服務(wù)。 BSE 最近收購了Aetrium Inc. 的測試分選機(jī)資產(chǎn)(其使用者與使用波士頓半導(dǎo)體設(shè)備公司現(xiàn)有自動化測試設(shè)備(ATE) 的公司及部門相同)。 BSE 龐大的亞洲銷售與服務(wù)團(tuán)隊力量將為Aetrium 分選機(jī)提供支援, 更可以加強(qiáng)該公司對亞洲地區(qū)關(guān)鍵半導(dǎo)體制造商及封測代工(OSAT) 客戶的支援?! 〔ㄊ款D半導(dǎo)體設(shè)備公司執(zhí)行副總裁Colin Scholefield 稱:「
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基于ATE測試電源負(fù)載的數(shù)字可編程精密電阻簡介
- 圖1所示的數(shù)字可編程精密電阻可在定制設(shè)計的 ATE(自動測試設(shè)備)中用作微處理器驅(qū)動的電源負(fù)載。IC1 是一個 8 位 電流輸出型 DAC,即DAC08型DAC ,它驅(qū)動電流-電壓變換器 IC2A,IC2A又驅(qū)動功率 MOSFET Q1 的柵極。被測
- 關(guān)鍵字: ATE 測試電源 負(fù)載 數(shù)字可編程
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