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基于ATE的FPGA測(cè)試

隨著集成電路技術(shù)的飛速發(fā)展，F(xiàn)PGA的應(yīng)用越來(lái)越廣泛，其測(cè)試技術(shù)也得到了廣泛重視和研究。文章簡(jiǎn)要介紹了FPGA的發(fā)展及其主要組成部分，提出了一種用ATE對(duì)FPGA進(jìn)行測(cè)試的方法和具體測(cè)試流程。
關(guān)鍵字： AutomaticTestEquipment 配置數(shù)據(jù) FPGA

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