基于ATE的FPGA測(cè)試

隨著集成電路技術(shù)的飛速發(fā)展，FPGA的應(yīng)用越來(lái)越廣泛，其測(cè)試技術(shù)也得到了廣泛重視和研究。文章簡(jiǎn)要介紹了FPGA的發(fā)展及其主要組成部分，提出了一種用ATE對(duì)FPGA進(jìn)行測(cè)試的方法和具體測(cè)試流程。以一段Xilinx XC3042的真實(shí)配置數(shù)據(jù)為例詳細(xì)描述了Intel HEX文件格式，以及將其轉(zhuǎn)換成二進(jìn)制配置碼的方法，并介紹了FPGA的配置碼格式和配置數(shù)據(jù)長(zhǎng)度的計(jì)算方法。然后，以外設(shè)配置模式為例，通過(guò)XC3042的配置電路原理圖和配置時(shí)序詳細(xì)描述了FPGA的配置原理；最后給出了采用ATE（Automatic Test Equipment）-J750對(duì)FPGA的配置與測(cè)試過(guò)程，為FPGA的通用測(cè)試提供了一種切實(shí)可行的有效方法。

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