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概倫電子將展出新一代DFY產(chǎn)品及解決方案

  • 概倫電子科技有限公司(ProPlus Electronics Co., Ltd. 下稱概倫電子)日前宣布，繼2011年成功在第48屆DAC設(shè)計自動化大會上成功展示其基于良率導向設(shè)計(DFY)的納米級器件建模、電路仿真與驗證的解決方案后，概倫電子今年將繼續(xù)參加于2012年6月3-7日在美國 San Francisco Moscone Center舉辦的第49屆DAC設(shè)計自動化大會。針對先進工藝下日益嚴重的Process Variation問題，概倫電子基于其業(yè)界領(lǐng)先的模型技術(shù)，通過先進的并行統(tǒng)計算法和快速高
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概倫電子推出其高效良率導向設(shè)計工具

  • 概倫電子科技有限公司今日宣布推出其良率導向設(shè)計(DFY)平臺的新產(chǎn)品NanoYield，該產(chǎn)品以IBM授權(quán)的專利技術(shù)為基礎(chǔ)，旨在通過高效的良率分析和設(shè)計優(yōu)化，提升高端芯片設(shè)計的競爭力。
  • 關(guān)鍵字： 概倫  DFY  NanoYield  
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