概倫電子推出其高效良率導(dǎo)向設(shè)計工具

　　概倫電子科技有限公司今日宣布推出其良率導(dǎo)向設(shè)計(DFY)平臺的新產(chǎn)品NanoYield，該產(chǎn)品以IBM授權(quán)的專利技術(shù)為基礎(chǔ)，旨在通過高效的良率分析和設(shè)計優(yōu)化，提升高端芯片設(shè)計的競爭力。

　　作為概倫電子NanoDesigner電路設(shè)計平臺的一部分，NanoYield致力于解決高階半導(dǎo)體工藝節(jié)點下由于工藝不穩(wěn)定性的增加對電路設(shè)計帶來的影響，快速有效地在芯片設(shè)計的早期預(yù)測產(chǎn)品良率，以幫助設(shè)計人員實現(xiàn)良率和性能的均衡設(shè)計。該產(chǎn)品通過概倫電子的BSIMProPlus建模平臺中的先進統(tǒng)計建模技術(shù)對工藝不穩(wěn)定性進行處理，BSIMProPlus是業(yè)界領(lǐng)先的SPICE建模工具，可提取精確的統(tǒng)計和邊角模型，以進行快速可靠的Monte Carlo分析和PVT分析。

　　概倫電子的NanoYield采用其業(yè)界創(chuàng)新的并行統(tǒng)計仿真SPICE引擎，該引擎可以適用于任意類型的電路仿真，并可把傳統(tǒng)的Monte Carlo分析速度在全SPICE精度水平下提升10至100倍。同時，NanoYield通過整合先進的統(tǒng)計采樣技術(shù)進一步大幅提升統(tǒng)計仿真性能，采用了IBM授權(quán)的專利算法和方法學(xué)進行統(tǒng)計采樣和良率計算，用于靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)和許多其他類型的電路設(shè)計。采用此技術(shù)，對于high-sigma的分析，其仿真速度比傳統(tǒng)的Monte Carlo方法提高幾個數(shù)量級，仿真時間可以從幾個月縮短到幾分鐘。技術(shù)開發(fā)工程師也可以采用此解決方案來驗證工藝并且提高SRAM和標(biāo)準(zhǔn)單元庫的良率。

　　概倫電子有限公司的董事長兼總裁劉志宏博士說“與IBM的合作將促使概倫電子全球的客戶在DFY領(lǐng)域里從IBM先進、成熟并且經(jīng)過驗證的創(chuàng)新技術(shù)中獲益，我們期待與IBM在該領(lǐng)域內(nèi)的進一步合作。”

　　IBM負責(zé)業(yè)務(wù)發(fā)展和技術(shù)授權(quán)事務(wù)的全球副總裁Tom Reeves先生說“IBM致力于通過授權(quán)其知識產(chǎn)權(quán)鼓勵世界范圍內(nèi)的技術(shù)創(chuàng)新與合作。我們與概倫電子達成的技術(shù)授權(quán)協(xié)議，為雙方進一步合作并提供更先進的集成電路設(shè)計解決方案打下了基礎(chǔ)”。

　　雙方將不對外界透露本次合作的具體協(xié)議條款。