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三星Galaxy Watch FE進(jìn)軍入門智能手表市場(chǎng)
- 三星樂(lè)觀看待智慧手表市場(chǎng)成長(zhǎng)趨勢(shì),今日宣布推出全新Galaxy Watch FE,集結(jié)耐用的藍(lán)寶石玻璃設(shè)計(jì)及亮眼外型、完善的運(yùn)動(dòng)追蹤與全方位健康監(jiān)測(cè)功能,以親民價(jià)格即享眾多優(yōu)異體驗(yàn)。Galaxy Watch FE(藍(lán)牙版)共推出「曜石黑」、「玫瑰金」、「星夜銀」三款顏色,建議售價(jià)NT$5,990,自6月下旬起于全臺(tái)各大通路正式上市,消費(fèi)者凡于7月16日前在全通路購(gòu)買三星不限型號(hào)手機(jī)或平板,即可現(xiàn)折NT$1,000加購(gòu)Galaxy Watch FE,五千有找輕松入手,開(kāi)啟嶄新智慧生態(tài)圈體驗(yàn)。三星電子行動(dòng)通訊
- 關(guān)鍵字: 三星 Galaxy Watch FE 智能手表
五位半導(dǎo)體行業(yè)專家對(duì)芯片缺陷分析
- 在圓桌會(huì)議上,半導(dǎo)體工程專家們就“半導(dǎo)體和封裝技術(shù)日益增加的復(fù)雜性將如何推動(dòng)故障分析方法的轉(zhuǎn)變”展開(kāi)了討論,討論嘉賓包括Bruker Nano Surfaces&Metrology應(yīng)用與產(chǎn)品管理主管Frank Chen、Onto Innovation企業(yè)業(yè)務(wù)部產(chǎn)品管理主管Mike McIntyre、Teradyne的ASIC可靠性工程師Kamran Hakim、賽默飛世爾科技高級(jí)產(chǎn)品專家Jake Jensen以及賽默飛世爾科技高級(jí)營(yíng)銷經(jīng)理Paul Kirby。以下是這場(chǎng)討論的精彩摘錄。[從左到右]
- 關(guān)鍵字: 先進(jìn)封裝,F(xiàn)A SEM TEM
更小、更快、更節(jié)能,半導(dǎo)體芯片迎大突破
- 最先進(jìn)的電子硬件在大數(shù)據(jù)革命面前都顯得有些“捉襟見(jiàn)肘”,這迫使工程師重新思考微芯片的幾乎每一個(gè)方面。隨著數(shù)據(jù)集的存儲(chǔ)、搜索和分析越來(lái)越復(fù)雜,這些設(shè)備就必須變得更小、更快、更節(jié)能,以跟上數(shù)據(jù)創(chuàng)新的步伐。鐵電場(chǎng)效應(yīng)晶體管(FE-FETs)是應(yīng)對(duì)這一挑戰(zhàn)的最有趣的答案之一。這是一種具有鐵電性能的場(chǎng)效應(yīng)晶體管。它利用鐵電材料的非易失記憶性質(zhì),在其中植入場(chǎng)效應(yīng)和電荷積累,實(shí)現(xiàn)了長(zhǎng)期穩(wěn)定的記憶效應(yīng)。與傳統(tǒng)存儲(chǔ)器相比,它具有低功耗、高速度、高密度等優(yōu)勢(shì)。因此,一個(gè)成功的FE-FET設(shè)計(jì)可以大大降低傳統(tǒng)器件的尺寸和能量使
- 關(guān)鍵字: 半導(dǎo)體芯片 FE-FET
艾瑞:受北美SEM市場(chǎng)發(fā)展啟發(fā) 中國(guó)SEM市場(chǎng)始動(dòng)
- adSage繼2007年底在北美地區(qū)推出ad Intelligence和ad Management引起北美SEM行業(yè)重視后,在2008年2月,adSage(中國(guó))公司與百度合作,最先推出百度競(jìng)價(jià)排名廣告系統(tǒng)管理工具 adSage for Baidu,成為基于百度API的第一款搜索營(yíng)銷(SEM)工具,這也標(biāo)志著中國(guó)SEM市場(chǎng)受北美SEM市場(chǎng)發(fā)展的影響,迅速進(jìn)入到與國(guó)際接軌的時(shí)代。 而2008年3月,百度與美國(guó)網(wǎng)絡(luò)業(yè)務(wù)優(yōu)化軟件提供商Omniture開(kāi)展戰(zhàn)略合作,百度將向Omniture開(kāi)放AP
- 關(guān)鍵字: SEM
應(yīng)用材料公司推出全新SEMVision G4缺陷再檢測(cè)系統(tǒng)
- 近日,應(yīng)用材料公司推出最先進(jìn)的缺陷再檢測(cè)SEM(掃描電子顯微鏡)SEMVision™ G4系統(tǒng),它將應(yīng)用材料公司非常成功的SEMVision系統(tǒng)的技術(shù)和生產(chǎn)能力提升到45納米及更小的技術(shù)節(jié)點(diǎn)。SEMVision G4系統(tǒng)的關(guān)鍵在于全新的SEM聚焦離子槍技術(shù)和增強(qiáng)的多視角SEM成像系統(tǒng)(MPSI),他們具有卓越的2納米物理精度,能提供無(wú)與倫比的成像質(zhì)量,其每秒一個(gè)缺陷的檢測(cè)速度也設(shè)定了新的基準(zhǔn)。 應(yīng)用材料公司工藝診斷和控制事業(yè)部SEM部門總經(jīng)理Ronen Benzion表示:“45納米
- 關(guān)鍵字: 測(cè)試 測(cè)量 應(yīng)用材料 EMVision G4 SEM 測(cè)量工具
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