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五位半導(dǎo)體行業(yè)專家對(duì)芯片缺陷分析

  • 在圓桌會(huì)議上，半導(dǎo)體工程專家們就“半導(dǎo)體和封裝技術(shù)日益增加的復(fù)雜性將如何推動(dòng)故障分析方法的轉(zhuǎn)變”展開了討論，討論嘉賓包括Bruker Nano Surfaces&Metrology應(yīng)用與產(chǎn)品管理主管Frank Chen、Onto Innovation企業(yè)業(yè)務(wù)部產(chǎn)品管理主管Mike McIntyre、Teradyne的ASIC可靠性工程師Kamran Hakim、賽默飛世爾科技高級(jí)產(chǎn)品專家Jake Jensen以及賽默飛世爾科技高級(jí)營(yíng)銷經(jīng)理Paul Kirby。以下是這場(chǎng)討論的精彩摘錄。[從左到右]
  • 關(guān)鍵字： 先進(jìn)封裝，F(xiàn)A  SEM  TEM  

理解RF器件性能測(cè)量過程中的紋波：理論與實(shí)驗(yàn)(下)

  • 　　本小節(jié)將計(jì)算圖1e所示介電模塊多次反射的反射和傳輸系數(shù)。圖2顯示了該介電模塊內(nèi)正常入射層波多次相互作用情況。
  • 關(guān)鍵字： RF  DUT  TEM  

理解RF器件性能測(cè)量過程中的紋波：理論與實(shí)驗(yàn)(上)

  • 　　在RF器件參數(shù)描述(例如：增益、線性和回波損耗等)期間，我們有時(shí)會(huì)看到紋波。出現(xiàn)這些紋波的原因是，信號(hào)在線纜、連接器、評(píng)估板線路、受測(cè)器件(DUT)和封裝內(nèi)傳播時(shí)存在多次反射情況。這些互連結(jié)點(diǎn)上的阻抗錯(cuò)配，導(dǎo)致這些紋波的出現(xiàn)。
  • 關(guān)鍵字： RF  DUT  TEM  

蛇形線的作用

  • 經(jīng)常能看到論壇里有人在問蛇形線的問題。平時(shí)我們能看到蛇形線的地方大都是一些高速高密度板，好像帶有蛇形線的板子就更高級(jí)，會(huì)畫蛇形線就是高手了。網(wǎng)上關(guān)于蛇形線的文章也有很多，總感覺有些帖子的內(nèi)容會(huì)誤導(dǎo)新手，給人們帶來困擾，人為制造一些障礙。那么我們來看看實(shí)際應(yīng)用當(dāng)中蛇形線到底有什么作用。
  • 關(guān)鍵字： 蛇形線  PCB  帶狀線  TEM  
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