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令I(lǐng)EEE 1149.1 掃描鏈的管理更為方便
- 符合 IEEE 1149.1 標準的芯片日漸普及。對于設(shè)計測試 (Design for Test) 工程師來說,這類芯片可以協(xié)助他們解決如何深入電路板進行測試的復(fù)雜測試問題。由于集成電路的結(jié)構(gòu)日趨復(fù)雜,而電路板上的電路也遠比以前密集,專用的 5 線串行測試總線可以提供一條簡便而又標準化的路徑深入系統(tǒng)內(nèi)部的測試節(jié)點,這是采用目前的電路內(nèi)測試 (ICT) 方式所無法做到的。許多新一代的電路板設(shè)計都采用 JTAG 標準,以便工程師可以深入系統(tǒng)內(nèi)部進行測試及編程。其實對于很多應(yīng)用方案來說,沒有其它更有效的方法可以
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ieee-488接口介紹
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