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USB 3.0及測試解決方案
- Agilent 的測試解決方案滿足 USB 所有變體的一致性測試需要。通過選擇 Agilent 示波器、BERT、網(wǎng)絡(luò)分析儀和邏輯分析儀、各種特定的 USB 測試應(yīng)用程序和夾具,能快速和精確地測試您的USB設(shè)計,以確保符合一致性要求。
- 關(guān)鍵字: Agilent USB3.0 一致性測試 Infiniium 90000 201003
英特爾預(yù)計USB3.0主流應(yīng)用要等到2012年
- 超高速USB3.0標準已經(jīng)出現(xiàn)一段時間了。但是,它還沒有廣泛應(yīng)用。雖然有許多具有USB3.0功能的閃存硬盤、硬盤和其它外部存儲設(shè)備,但是,還有許多因素在繼續(xù)限制這個新接口的應(yīng)用。主要問題是缺少英特爾(博客)和微軟的聯(lián)合的支持。這就意味著USB3.0設(shè)備廠商必須繼續(xù)依靠 EMC的芯片,而OEM廠商還在等待微軟Windows本地支持這個接口。因此,速度為每秒4GB的USB3.0解決方案很可能在2012年年初成為主流應(yīng)用。 Windows7的推出時間不長,但是,微軟已經(jīng)在研制下一個版本的操作系統(tǒng),也就
- 關(guān)鍵字: 英特爾 USB3.0 閃存硬盤
英特爾稱Windows 8時代USB 3.0才會成主流
- 雖然USB 3.0接口已經(jīng)體現(xiàn)出了明顯的速度優(yōu)勢,且廣為用戶期待,但Intel、AMD的芯片組短期內(nèi)都不打算為其提供原生支持。Intel芯片組產(chǎn)品線營銷總監(jiān)Steve Peterson在德國漢諾威參加CeBIT全球會議時更是直言,他認為只有到了微軟的下一代客戶端操作系統(tǒng)Windows 8普及的時代,USB 3.0才會真正成為主流。 Windows 7發(fā)布于去年十月底,在那時候其繼任者就早已提上開發(fā)日程。按照目前的普遍預(yù)計,Windows 8最早有望在2011年底發(fā)布,但也有可能要等到2012年,
- 關(guān)鍵字: Intel USB3.0
恩智浦為USB 3.0和eSATA推出ESD保護設(shè)備
- 恩智浦半導(dǎo)體(NXP Semiconductors)日前宣布,為USB 3.0和eSATA之類的高速差分接口推出一種新的ESD保護設(shè)備IP4284CZ10。IP4284CZ10提供了業(yè)內(nèi)最低的差分串?dāng)_及完美的線路到線路電容匹配和直通布線能力,優(yōu)化了信號完整性。IP4284CZ10提供了8kV的接觸放電ESD保護能力,符合IEC61000-4-2標準第四級。 USB 3.0和eSATA同時傳送和接收信號,對ESD設(shè)備提出了嚴格的信號完整性要求,這些要求在以前的USB 2.0, HDMI和Displ
- 關(guān)鍵字: NXP USB3.0 eSATA ESD IP4284CZ10
利用USB2.0技術(shù)的高速雙路數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
- 摘要:本文設(shè)計了一種基于USB2.0芯片CY7C68013和Maxim公司的高速并行模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片MAX1195的高速雙路數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),采用EZ-USB FX2 的特有的GPIF(General Programmable Interface)傳輸方式,徹底打破了8051CPU對USB2
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基于USB2.0的高性能移動存儲設(shè)備的設(shè)計
- 1.引言 閃存盤(FLASH MEMORY)是USB接口的一種典型應(yīng)用,1999年朗科研發(fā)出全球第一款USB閃存盤,成功啟動了全球閃存盤行業(yè)。由于閃存是一種基于半導(dǎo)體的存儲器,信息在斷電后可以保存,并且還具有低功耗、速
- 關(guān)鍵字: USB 2.0 性能 移動存儲設(shè)備
富士通USB 3.0-SATA橋接芯片獲得USB-IF產(chǎn)品認證
- 富士通微電子(上海)有限公司近日宣布富士通微電子的USB 3.0-SATA橋接芯片已通過美國USB Implementers Forum(USB-IF,USB接口的標準化團體)的產(chǎn)品認證,并獲得認證證書。 富士通MB86C30橋接芯片已經(jīng)通過USB-IF產(chǎn)品質(zhì)量的合格測試。與USB 2.0器件相比,MB86C30將外部存儲設(shè)備(如硬盤驅(qū)動)至電腦的數(shù)據(jù)傳輸率提高了一個數(shù)量級。另外,該芯片還內(nèi)置USB通信控制電路、SATA通信控制電路、協(xié)議控制和命令控制電路以及加密/解密引擎。 富士通微電子
- 關(guān)鍵字: 富士通 USB3.0 橋接芯片 USB接口
USB 3.0線纜和連接器的阻抗和插損測試
- 下一代串行數(shù)據(jù)標準采用的高速率已經(jīng)進入到微波領(lǐng)域。比如,即將到來的SuperSpeed USB(USB 3.0)通過雙絞線對線纜傳輸速的率就達到了5Gb/s。通過連接器和線纜傳輸如此高的速率必須考慮通道的不連續(xù)性引起的失真。為了將失真程度保持在一個可控的水平,標準規(guī)定了線纜和連接器對的阻抗和回波損耗。最新的測量使用S參數(shù)S11表征而且必須歸一化到線纜的90歐姆差分阻抗。 當(dāng)測量USB 3.0通道的S參數(shù)時,可選的儀器是時域反射計或TDR。TDR系統(tǒng)通常往待測器件注入一個階躍電壓信號然后測量是時間
- 關(guān)鍵字: USB3.0 連接器
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