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關(guān)注 | 重大進(jìn)展!精測(cè)電子向中芯國(guó)際出售兩臺(tái)半導(dǎo)體設(shè)備

發(fā)布人:旺材芯片 時(shí)間:2021-07-15 來(lái)源:工程師 發(fā)布文章
7月13日,上海精測(cè)半導(dǎo)體技術(shù)有限公司(以下簡(jiǎn)稱“上海精測(cè)”)在其官微宣布,國(guó)內(nèi)首臺(tái)12寸獨(dú)立式光學(xué)線寬測(cè)量設(shè)備(OCD)與國(guó)內(nèi)唯一12寸全自動(dòng)電子束晶圓缺陷復(fù)查設(shè)備(Review SEM)順利出機(jī)。

同日,武漢精測(cè)電子集團(tuán)股份有限公司(以下簡(jiǎn)稱“精測(cè)電子”)在其公布的最新投資者關(guān)系活動(dòng)記錄表中透露,公司子公司上海精測(cè)本次出機(jī)的兩款產(chǎn)品的客戶為中芯國(guó)際。

國(guó)內(nèi)首臺(tái)12寸獨(dú)立式光學(xué)線寬測(cè)量機(jī)臺(tái)(OCD)

據(jù)悉,OCD設(shè)備(產(chǎn)品型號(hào)為EPROFILE 300FD)是該類型的國(guó)內(nèi)首臺(tái)機(jī)臺(tái),主要用于45nm以下、特別是28nm平面CMOS工藝的量測(cè),并可以延伸支持上述先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)的快速線寬測(cè)量。EPROFILE 300FD測(cè)量系統(tǒng)擁有完全自主知識(shí)產(chǎn)權(quán),包括寬譜全穆勒橢偏測(cè)頭、對(duì)焦對(duì)位系統(tǒng)、系統(tǒng)軟件等核心零部件均為自主研發(fā),是真正意義上的高端國(guó)產(chǎn)化機(jī)臺(tái)。



精測(cè)電子介紹稱,OCD設(shè)備除具有全自動(dòng)光學(xué)膜厚測(cè)量能力外,還可以進(jìn)行顯影后檢查(ADI)、刻蝕后檢查(AEI)等多種工藝段的二維或三維樣品的線寬、側(cè)壁角度(SWA)、高度/深度等關(guān)鍵尺寸(CD)特征或整體形貌測(cè)量,具有高速、準(zhǔn)確和非破壞性等特點(diǎn),是半導(dǎo)體前道檢測(cè)的關(guān)鍵設(shè)備之一。

國(guó)內(nèi)唯一12寸全自動(dòng)電子束晶圓缺陷復(fù)查設(shè)備(Review SEM)

Review SEM設(shè)備是上海精測(cè)半導(dǎo)體的另一項(xiàng)主力產(chǎn)品,是先進(jìn)的全自動(dòng)晶圓在線電子束缺陷復(fù)查和分類設(shè)備,對(duì)光學(xué)缺陷檢測(cè)設(shè)備的結(jié)果進(jìn)行高分辨率復(fù)查、分析和分類。


此次出廠的機(jī)臺(tái)配備了基于深度學(xué)習(xí)的高準(zhǔn)確率智能化自動(dòng)缺陷檢測(cè)與分類算法,將進(jìn)一步幫助客戶提升缺陷復(fù)查分析的效率并顯著提升設(shè)備使用的便捷性。

資料顯示,精測(cè)電子主要從事顯示、半導(dǎo)體、新能源檢測(cè)系統(tǒng)的研發(fā)、生產(chǎn)與銷售。公司目前在顯示領(lǐng)域的主營(yíng)產(chǎn)品包括信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)、OLED調(diào)測(cè)系統(tǒng)、AOI光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)和平板顯示自動(dòng)化設(shè)備等;在半導(dǎo)體領(lǐng)域的主營(yíng)產(chǎn)品包括存儲(chǔ)芯片測(cè)試設(shè)備、驅(qū)動(dòng)芯片測(cè)試設(shè)備以及膜厚量測(cè)類設(shè)備等;在新能源領(lǐng)域的主營(yíng)產(chǎn)品包括鋰電池和燃料電池檢測(cè)設(shè)備等。
作為精測(cè)電子的子公司,上海精測(cè)主要聚焦半導(dǎo)體前道檢測(cè)設(shè)備領(lǐng)域,致力于半導(dǎo)體前道量測(cè)檢測(cè)設(shè)備的研發(fā)及生產(chǎn),現(xiàn)已形成了膜厚/OCD量測(cè)設(shè)備、電子束量測(cè)設(shè)備、泛半導(dǎo)體設(shè)備三大產(chǎn)品系列。
上海精測(cè)膜厚產(chǎn)品(含獨(dú)立式膜厚設(shè)備)已取得國(guó)內(nèi)一線客戶的批量重復(fù)訂單、OCD量測(cè)設(shè)備已取得訂單并已實(shí)現(xiàn)交付,半導(dǎo)體電子束檢測(cè)設(shè)備eViewTM全自動(dòng)晶圓缺陷復(fù)查設(shè)備已正式交付國(guó)內(nèi)客戶。其余儲(chǔ)備的產(chǎn)品目前正處于研發(fā)、認(rèn)證以及拓展的過(guò)程中。
來(lái)源:上海精測(cè)半導(dǎo)體

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