第四代半導(dǎo)體材料氧化鎵研究與展望
1、 第四代半導(dǎo)體的發(fā)展背景
隨著量子信息、人工智能等高新技術(shù)的發(fā)展,半導(dǎo)體新體系及其微電子等多功能器件技術(shù)也在更新迭代。雖然前三代半導(dǎo)體技術(shù)持續(xù)發(fā)展,但也已經(jīng)逐漸呈現(xiàn)出無(wú)法滿足新需求的問(wèn)題,特別是難以同時(shí)滿足高性能、低成本的要求。此背景下,人們將目光開始轉(zhuǎn)向擁有小體積、低功耗等優(yōu)勢(shì)的第四代半導(dǎo)體。第四代半導(dǎo)體具有優(yōu)異的物理化學(xué)特性、良好的導(dǎo)電性以及發(fā)光性能,在功率半導(dǎo)體器件、紫外探測(cè)器、氣體傳感器以及光電子器件領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用前景。
2、半導(dǎo)體材料的發(fā)展歷程
第一代半導(dǎo)體材料:以硅(Si)、鍺(Ge)為代表
第一代的半導(dǎo)體材料以硅材料為主占絕對(duì)的統(tǒng)治地位。目前,半導(dǎo)體器件和集成電路仍然主要是用硅晶體材料制造的,硅器件構(gòu)成了全球銷售的所有半導(dǎo)體產(chǎn)品的95%以上。第一代半導(dǎo)體應(yīng)用場(chǎng)景十分廣泛,從尖端的CPU、GPU、存儲(chǔ)芯片,再到各種充電器中的功率器件都可以做。雖然在某些領(lǐng)域的性能方面表現(xiàn)不佳,但還有性價(jià)比助其占據(jù)市場(chǎng)。
第二代半導(dǎo)體材料:以砷化鎵(GaAs)、磷化銦 (InP)為代表
隨著以光通信為基礎(chǔ)的信息高速公路的崛起和社會(huì)信息化的發(fā)展,以砷化鎵、磷化銦為代表的第二代半導(dǎo)體材料嶄露頭角,并顯示出其巨大的優(yōu)越性。砷化鎵和磷化銦半導(dǎo)體激光器成為光通信系統(tǒng)中的關(guān)鍵器件,同時(shí)砷化鎵高速器件也加速了光纖及移動(dòng)通信新產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。主要應(yīng)用領(lǐng)域?yàn)楣怆娮印⑽㈦娮?、微波功率器件等?/span>
第三代半導(dǎo)體材料:以氮化鎵(GaN)、碳化硅(SiC)為代表
第三代半導(dǎo)體材料的興起,是以氮化鎵材料P型摻雜的突破為起點(diǎn),以高效率藍(lán)綠光發(fā)光二極管和藍(lán)光半導(dǎo)體激光器的研制成功為標(biāo)志的,它具備高擊穿電場(chǎng)、高熱導(dǎo)率、高電子飽和速率及抗強(qiáng)輻射能力等優(yōu)異性能,更適合于制作高溫、高頻、抗輻射及大功率電子器件,是固態(tài)光源和電力電子、微波射頻器件的“核芯”。
在半導(dǎo)體照明、新一代移動(dòng)通信、能源互聯(lián)網(wǎng)、高速軌道交通、新能源汽車、消費(fèi)類電子等領(lǐng)域有廣闊的應(yīng)用前景,有望突破傳統(tǒng)半導(dǎo)體技術(shù)的瓶頸,與第一代、第二代半導(dǎo)體技術(shù)互補(bǔ),對(duì)節(jié)能減排、產(chǎn)業(yè)轉(zhuǎn)型升級(jí)、催生新的經(jīng)濟(jì)增長(zhǎng)點(diǎn)將發(fā)揮重要作用。
第四代半導(dǎo)體材料:以氧化鎵(Ga2O3)為代表
目前具有發(fā)展?jié)摿Τ蔀榈谒拇雽?dǎo)體技術(shù)的主要材料體系主要包括:窄帶隙的銻化鎵、銦化砷化合物半導(dǎo)體;超寬帶隙的氧化物材料;其他各類低維材料如碳基納米材料、二維原子晶體材料等。
作為新型的寬禁帶半導(dǎo)體材料,氧化鎵(Ga2O3)由于自身的優(yōu)異性能,憑借其比第三代半導(dǎo)體材料SiC和GaN更寬的禁帶,在紫外探測(cè)、高頻功率器件等領(lǐng)域吸引了越來(lái)越多的關(guān)注和研究。
圖1 半導(dǎo)體材料發(fā)展歷程
3、氧化鎵材料的特性與對(duì)比
3 . 1 Ga2O3材料特點(diǎn)
Ga2O3是一種直接帶隙的半導(dǎo)體材料,禁帶寬度約為4.9eV(不同晶體結(jié)構(gòu),不同取向等因素,禁帶寬度會(huì)有所差別),由于其禁帶寬度遠(yuǎn)大于SiC和GaN,所以被稱為超寬禁帶半導(dǎo)體材料。Ga2O3的擊穿場(chǎng)強(qiáng)理論上可以達(dá)到8MV/cm,是GaN的2.5倍,是SiC的3倍多;另外,Ga2O3具有良好的化學(xué)和熱穩(wěn)定性,成本低,制備方法簡(jiǎn)便、便于批量生產(chǎn),在產(chǎn)業(yè)化方面優(yōu)勢(shì)明顯。圖2 β相氧化鎵晶體結(jié)構(gòu)
Ga2O3具有5種同分異構(gòu)體,包括α、β、γ、δ和ε。在這些同分異構(gòu)體中,β相Ga2O3最穩(wěn)定,其他幾種為亞穩(wěn)定,這些亞穩(wěn)定相可以在一定的溫度下發(fā)生相變,轉(zhuǎn)變?yōu)棣孪郍a2O3。在這些相中,α相Ga2O3為三方晶系,空間群是R-3c,晶格常數(shù)是a=b=4.98A0,c=13.43 A0,α=β=900,γ=1200 ;β相Ga2O3為單斜結(jié)構(gòu),空間群為C2/m,晶格常數(shù)是a=12.23 A0,b=3.04 A0,c=5.80 A0,α=β=900,γ=103.820;γ相Ga2O3為立方晶系,ε相Ga2O3是目前爭(zhēng)論最多的同分異構(gòu)體,比較認(rèn)可的結(jié)構(gòu)為六角晶系,δ相Ga2O3是目前為止研究和報(bào)道最少的同分異構(gòu)體,其晶體結(jié)構(gòu)屬于立方晶系。
3 . 2 Ga2O3材料的優(yōu)勢(shì)第四代之超寬禁帶氧化鎵(Ga2O3)和鉆石等新一代材料,特別是Ga2O3 因其基板制作相較于SiC與GaN更容易,又因?yàn)槠涑瑢捊麕У奶匦?,使材料所能承受更高電壓的崩潰電壓和臨界電場(chǎng),使其在超高功率元件之應(yīng)用極具潛力。(a) (b)圖3(a)為現(xiàn)今常用之半導(dǎo)體材料所適用之頻率與工作功率范圍,(b)為現(xiàn)今常用之半導(dǎo)體材料其對(duì)應(yīng)之能隙與崩潰電場(chǎng)。可發(fā)現(xiàn) Ga2O3 應(yīng)用之功率范圍高達(dá) 1 kW-10 kW。
圖4 半導(dǎo)體材料特性
相關(guān)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)顯示,從數(shù)據(jù)上看,氧化鎵的損耗理論上是硅的1/3000、碳化硅的1/6、氮化鎵的1/3,即在SiC比Si已經(jīng)降低86%損耗的基礎(chǔ)上,再降低86%的損耗,這讓產(chǎn)業(yè)界人士對(duì)其未來(lái)有很高的期待。
此外,GaO材料的缺陷密度比SiC和GaN材料低至少3個(gè)數(shù)量級(jí),這在芯片加工中可以規(guī)避很多問(wèn)題,而且由于是同質(zhì)外延,器件不會(huì)像GaN一樣出現(xiàn)晶格失配問(wèn)題。
而成本更是讓其成為一個(gè)吸引產(chǎn)業(yè)關(guān)注的另一個(gè)重要因素。從同樣基于6英寸襯底的最終器件的成本構(gòu)成來(lái)看,基于GaO材料的器件成本為195美金,是SiC材料器件成本的約五分之一,已與硅基產(chǎn)品的成本所差無(wú)幾。
GaO和藍(lán)寶石一樣,可以從溶液狀態(tài)轉(zhuǎn)化成塊狀(Bulk)單結(jié)晶狀態(tài)。實(shí)際上,通過(guò)運(yùn)用與藍(lán)寶石晶圓生產(chǎn)技術(shù)相同的導(dǎo)模法EFG(Edge-definedFilm-fed Growth),日本NCT已試做出最大直徑為6英寸(150mm)的晶圓,直徑為2英寸(50mm)的晶圓已經(jīng)開始銷售作研究開發(fā)方向的用途。這種工藝的特點(diǎn)是良品率高、成本低廉、生長(zhǎng)速度快、生長(zhǎng)晶體尺寸大。
另一家Flosfia使用的“霧化法”已制作出4英寸(100mm)的α相晶圓,成本已接近于硅。而碳化硅(SiC)與氮化鎵(GaN)材料目前只能使用“氣相法”進(jìn)行制備,未來(lái)成本也將繼續(xù)受到襯底高成本的阻礙而難以大幅度下降。對(duì)于Ga2O3來(lái)說(shuō),高質(zhì)量與大尺寸的天然襯底,相對(duì)于目前采用的寬禁帶SiC與GaN技術(shù),將具備獨(dú)特且顯著的成本優(yōu)勢(shì)。
圖5 GaO與SiC成本對(duì)比(EE POWER)
Ga2O3材料尺寸發(fā)展快速,短短幾年時(shí)間已經(jīng)追上了SiC和GaN當(dāng)前最大尺寸,在量產(chǎn)經(jīng)濟(jì)性上已經(jīng)達(dá)到了標(biāo)準(zhǔn),同等加工能力的晶圓加工產(chǎn)線可以實(shí)現(xiàn)同等甚至更大規(guī)模的產(chǎn)量。而且,Ga2O3成本極低,這就可以讓器件研發(fā)成本更低、可以有充分的試錯(cuò)空間,使開發(fā)和應(yīng)用都更有效率。
如此看來(lái),GaO很有可能在尺寸方面,即大規(guī)模制造的可能性和成本方面對(duì)上述造成后來(lái)者居上的威脅。
4、氧化鎵材料的應(yīng)用
氧化鎵其導(dǎo)電性能和發(fā)光特性良好,在光電子器件方面有廣闊的應(yīng)用前景,被用作于Ga基半導(dǎo)體材料的絕緣層,以及紫外線濾光片。也就是主要用于日盲光電器件,即紫外區(qū)域,波長(zhǎng)短,禁帶寬。由于日盲紫外技術(shù)在紅外紫外雙色制導(dǎo)、導(dǎo)彈識(shí)別跟蹤、艦載通信等國(guó)防領(lǐng)域具有重大戰(zhàn)略意義。當(dāng)然,除了國(guó)防,該技術(shù)在電網(wǎng)安全監(jiān)測(cè)、醫(yī)學(xué)成像、海上搜救、環(huán)境與生化檢測(cè)等民生領(lǐng)域也有很重要的應(yīng)用。
這些是氧化鎵的傳統(tǒng)應(yīng)用領(lǐng)域,而其在未來(lái)的功率、特別是大功率應(yīng)用場(chǎng)景才是更值得期待的。
而Ga2O3既能做高耐壓,也可實(shí)現(xiàn)大電流能力,相較于當(dāng)前SiC器件過(guò)流能力不超過(guò)200A的規(guī)格限制,可達(dá)到數(shù)百A甚至上千A,性能優(yōu)秀且成本更低,在大功率應(yīng)用(如電力)當(dāng)中可直面挑戰(zhàn)IGBT上千甚至數(shù)千A的霸主地位。
5、氧化鎵材料的制備
5 . 1單晶制備技術(shù)為了獲得大尺寸、高質(zhì)量的Ga2O3單晶,熔融態(tài)生長(zhǎng)是最合適Ga2O3的生長(zhǎng)技術(shù),尤其是在工業(yè)化生產(chǎn)的條件下。目前利用熔融法生長(zhǎng)單晶技術(shù)已經(jīng)制備出大尺寸Ga2O3單晶,證明了制備大尺寸單晶的可行性。目前制備Ga2O3單晶的方法主要有6種,包括火焰法(Verneuil),光學(xué)浮區(qū)法(Optical Floating zone),豎直布里奇曼(Vertical Bridgman)/豎直梯度凝固法(Vertical Gradient Freeze),導(dǎo)模法(Edge-Defined Film- Fed Growth,EFG)和柴可拉斯基法(Czochralski methods)等。其他一些生長(zhǎng)晶體的方法,比如氣相沉積法,助熔劑法等,對(duì)于大尺寸單晶的產(chǎn)業(yè)化制備具有較大難度,因而沒有得到發(fā)展。 5 . 1.1火焰法火焰法可能是最早的Ga2O3單晶制備方法,該方法最初是在20世紀(jì)初為制備合成紅寶石而開發(fā)的,后來(lái)用于單晶金屬氧化物的制備,該技術(shù)使用氫氧焰加熱并熔化氧化物粉末,并將熔化的液滴結(jié)晶成為晶坯,通過(guò)籽晶的下降以及連續(xù)進(jìn)料,實(shí)現(xiàn)單晶的生長(zhǎng)。利用該方法制備出來(lái)的單晶棒直徑約3/8英寸,長(zhǎng)度為1英寸,另外利用這種方法,也生長(zhǎng)了鎂(Mg)、鋯(Zr)等摻雜的Ga2O3單晶。由于這種技術(shù)在大尺寸單晶生長(zhǎng)方面受到限制,后來(lái)被其他方法取代。
5 . 1.2浮區(qū)法浮區(qū)法早些年常于制備無(wú)氧Si單晶,這種技術(shù)可以很好地控制晶體的質(zhì)量,以及摻雜濃度,由于這種方法相對(duì)簡(jiǎn)單,對(duì)材料體系要求較低,這種方法被用于很多材料體系的單晶生長(zhǎng)。采用浮區(qū)法生長(zhǎng)Ga2O3單晶的報(bào)道也很多,包括純Ga2O3以及摻雜的Ga2O3單晶。目前文獻(xiàn)中報(bào)道的最大單晶尺寸為1英寸,利用這種方法制備Ga2O3單晶,晶向主要延<100><001>和<110>方向生長(zhǎng)。
5 . 1.3柴可拉斯基法柴可拉斯基法是很多半導(dǎo)體單晶生長(zhǎng)的主要方法之一,利用這種方法,可以用來(lái)生長(zhǎng)大尺寸的單晶。這種方法最早用于生長(zhǎng)的半導(dǎo)體單晶是在20世紀(jì)50年代,用于生長(zhǎng)Ge單晶。2000年,德國(guó)萊布尼茨晶體生長(zhǎng)研究所采用該方法制備了Ga2O3單晶,后來(lái)通過(guò)研究提高了該方法制備單晶的穩(wěn)定性,制備出了直徑2英寸的Ga2O3單晶。該方法也被用于制備元素?fù)诫s的Ga2O3單晶。如果要生長(zhǎng)更大的尺寸單晶,氧含量必須大幅度增加,將導(dǎo)致銥坩堝部分氧化,會(huì)在Ga2O3單晶中出現(xiàn)氧化銥雜質(zhì)。所以利用該方法生長(zhǎng)大尺寸的Ga2O3單晶具有一定的困難.
5 . 1.4垂直布里奇曼法垂直布里奇曼法與柴可拉斯基法和浮起法生長(zhǎng)單晶的原理相似。柴可拉斯基法單晶生長(zhǎng)過(guò)程中,主要用銥坩堝,為了避免銥坩堝氧化,所以需要限制生長(zhǎng)氣氛中的氧含量。對(duì)于Ga2O3單晶來(lái)說(shuō),生長(zhǎng)時(shí)需要高的氧含量,避免氧空位的產(chǎn)生。垂直布里奇曼法生長(zhǎng)單晶采用的是薄鉑銠坩堝,對(duì)生長(zhǎng)氣氛限制較少,因此更適合生長(zhǎng)Ga2O3單晶。單晶尺寸通過(guò)坩堝的尺寸進(jìn)行控制。利用這種方法生長(zhǎng)的單晶,一般來(lái)說(shuō)是垂直于(100)晶面生長(zhǎng)的,這主要是由于(100)晶面間的作用力相對(duì)來(lái)說(shuō)較弱,(100)方向的生長(zhǎng)速率較慢。
5 . 1.5導(dǎo)模法導(dǎo)模法單晶生長(zhǎng)和柴可拉斯基方法比較相似,主要區(qū)別是在導(dǎo)模法生長(zhǎng)單晶時(shí),熔區(qū)頂端安裝了一個(gè)特殊的模具,可以控制晶體生長(zhǎng)的形狀。通過(guò)設(shè)計(jì)可獲得形狀復(fù)雜的晶體,另外,這種方法生長(zhǎng)單晶的速度也可以大幅度提高,該方法在大尺寸氧化鋁單晶制備上技術(shù)已經(jīng)比較成熟。由于Ga2O3材料與氧化鋁材料的特性比較類似,所以在產(chǎn)業(yè)化方面能夠很容易將氧化鋁單晶生長(zhǎng)技術(shù)轉(zhuǎn)移到Ga2O3單晶生長(zhǎng)上。導(dǎo)模法可以克服柴可拉斯基法制備大尺寸單晶的缺點(diǎn),是最有潛力制備更大尺寸Ga2O3單晶的一種技術(shù)?;谝陨蠈?duì)各種生產(chǎn)技術(shù)的分析,將來(lái)要想規(guī)?;a(chǎn)大尺寸Ga2O3單晶,浮區(qū)法由于不使用任何坩堝,可能是生長(zhǎng)大尺寸單晶的一個(gè)比較好的手段。另外,導(dǎo)模法也已經(jīng)證明了其生長(zhǎng)大尺寸Ga2O3單晶的能力,雖然該技術(shù)不是一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的量產(chǎn)化單晶生長(zhǎng)技術(shù),但是,是目前能夠最快實(shí)現(xiàn)大尺寸單晶的最佳解決方案。
自從1964年美國(guó)宇航公司(The Aerospace Corporation)采用火焰法制備單晶以來(lái),對(duì)于Ga2O3單晶生長(zhǎng)的研究不斷展開。國(guó)外的研究主要集中在美國(guó)、德國(guó)和日本。美國(guó)在Ga2O3單晶生長(zhǎng)方面開始較早,除宇航公司外,IBM Watson研究中心也對(duì)Ga2O3單晶生長(zhǎng)進(jìn)行了研究。早期研究主要是利用傳統(tǒng)的火焰法,單晶的尺寸很小。近些年來(lái),關(guān)于大尺寸Ga2O3單晶的研究鮮見報(bào)道。在德國(guó),長(zhǎng)期開展Ga2O3研究工作的主要是萊布尼茨晶體生長(zhǎng)技術(shù)研究所(Leibniz Institute for Crystal Growth),該研究所主要利用柴可拉斯基法生長(zhǎng)單晶,技術(shù)已經(jīng)相當(dāng)成熟,目前報(bào)道的最大尺寸單晶為2英寸。
目前,日本在Ga2O3單晶生長(zhǎng)方面具有世界領(lǐng)先地位。他們主要利用浮區(qū)法、導(dǎo)模法和垂直布里奇曼法。其中,浮區(qū)法和導(dǎo)模法單晶生長(zhǎng)技術(shù)均在日本興起,并得到很好的應(yīng)用,因此日本在這2種技術(shù)上具有成熟的工藝。浮區(qū)法主要是以東京工業(yè)大學(xué)、日本國(guó)立材料研究所、東北大學(xué)和早稻田大學(xué)為主。導(dǎo)模法主要在佐賀大學(xué)(Saga University)、國(guó)立信息與通信技術(shù)研究所(National Inst. Of Information and Comm.)、田村公司(Tamura Corporation)以及并木精密珠寶公司(Namiki Precision Jewel Co.,Ltd)為主。2016年,田村公司已經(jīng)能夠穩(wěn)定制備出4英寸的Ga2O3單晶基片,初步獲得了6英寸可展示的Ga2O3單晶基片。垂直布里奇曼法主要是以信州大學(xué)(Shinshu university)和不二越機(jī)械股份有限公司(Fujikoshi Machine Corporation)為主。
國(guó)內(nèi)在Ga2O3單晶生長(zhǎng)方面起步也比較早,中國(guó)科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所(以下簡(jiǎn)稱“中科院上海光機(jī)所”)在2006年報(bào)道了浮區(qū)法制備Ga2O3單晶,尺寸可以達(dá)到1英寸。隨著Ga2O3材料關(guān)注度提高,關(guān)于Ga2O3單晶生長(zhǎng)的探索工作也逐漸增多。山東大學(xué)在2016年報(bào)道了導(dǎo)模法制備Ga2O3單晶,單晶尺寸為1英寸。同濟(jì)大學(xué)與中科院上海硅酸鹽研究所合作,在2017年報(bào)道了利用導(dǎo)模法制備出了2英寸的Ga2O3單晶。同一年,中國(guó)科學(xué)院安徽光學(xué)精密機(jī)械研究所也報(bào)道了采用提拉法制備出直徑30mm的Ga2O3單晶晶坯。天津的中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十六研究所(以下簡(jiǎn)稱“中電科46所”)在Ga2O3單晶制備方面,發(fā)展比較快,利用導(dǎo)模法可以生長(zhǎng)出(100)、(010)、(001)、(-201)面大于2英寸的 β-Ga2O3單晶,是目前國(guó)內(nèi)公開報(bào)道制備Ga2O3單晶尺寸最大。總之,國(guó)內(nèi)Ga2O3單晶制備還有很長(zhǎng)的路要走。
5 . 2外延薄膜沉積技術(shù)外延薄膜沉積技術(shù)是制備半導(dǎo)體器件的核心工藝之一,與器件的性能息息相關(guān)。目前,已經(jīng)有一些外延薄膜沉積技術(shù)非常成熟,并用于半導(dǎo)體器件的制備,比如Si基器件、GaAs基器件和GaN基器件,這些半導(dǎo)體技術(shù),可以直接用到Ga2O3薄膜制備上。目前用于Ga2O3外延薄膜沉積的主要技術(shù)包括分子束外延(Molecular Beam Epitaxy,MBE)、鹵化物氣相外延(HVPE)、金屬有機(jī)化學(xué)氣相沉積(MOCVD)和噴霧化學(xué)氣相沉積(Mist- CVD)技術(shù)。
5 . 2.1分子束外延技術(shù)(MBE)分子束外延技術(shù)(MBE)是在超高真空系統(tǒng)中沉積,能夠獲得非常高質(zhì)量的外延薄膜。這種設(shè)備一般配有高能電子反射(Reflection High Energy Electron Diffraction,RHEED)裝置,可以在原子層精度上實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)薄膜的表面結(jié)構(gòu)和形貌。該技術(shù)已經(jīng)被用于沉積GaAs和GaN半導(dǎo)體薄膜,也用于一些氧化物半導(dǎo)體材料的薄膜沉積,比如氧化銦(In2O3)。在沉積Ga2O3薄膜時(shí),由于其超高真空環(huán)境,以及高純度的源材料,制備非摻雜Ga2O3薄膜時(shí),缺陷數(shù)量極少,殘留載流子濃度也非常低。在制備摻雜薄膜時(shí),可以有效地控制載流子濃度。由于分子束外延的原子層沉積精度,在制備Ga2O3基異質(zhì)結(jié)和超晶格方面,優(yōu)勢(shì)明顯。但是分子束外延技術(shù)沉積薄膜,設(shè)備價(jià)格比較昂貴,沉積速率比較低,不太適合產(chǎn)業(yè)化生產(chǎn)。所以,在半導(dǎo)體行業(yè)中的應(yīng)用相對(duì)較少,大部分在科研實(shí)驗(yàn)室中使用。
5 . 2.2分子有機(jī)氣相沉積(MOCVD)分子有機(jī)氣相沉積(MOCVD)是在化學(xué)氣相沉積(CVD)基礎(chǔ)上發(fā)展的,利用金屬有機(jī)物作為前驅(qū)體,氣化以后,傳輸?shù)匠练e腔內(nèi),并通過(guò)熱分解的方式,將金屬元素分離出來(lái)沉積到相應(yīng)的襯底上。由于這種方式可以大面積成膜,生長(zhǎng)速率高,非常適合工業(yè)化生產(chǎn)。目前,MOCVD在GaN基半導(dǎo)體器件產(chǎn)業(yè)化制備工藝中已經(jīng)成熟應(yīng)用。在Ga2O3外延薄膜沉積方面,也已經(jīng)得到了應(yīng)用,目前已經(jīng)報(bào)道了沉積出的薄膜具有非常低的缺陷,電子遷移率達(dá)接近理論預(yù)測(cè)值,在制備高性能功率器件方面具有很好的潛力。另外,由于MOCVD設(shè)備通常可以實(shí)現(xiàn)800攝氏度以上襯底加熱,對(duì)于實(shí)現(xiàn)高濃度鋁(Al)摻雜非常有利。隨著Ga2O3襯底制備技術(shù)的發(fā)展,高質(zhì)量的同質(zhì)外延也會(huì)得到相應(yīng)的進(jìn)步。只需要Ga前驅(qū)體作為金屬有機(jī)源,氧可以從無(wú)機(jī)源中獲得,比如氧氣或水,有時(shí)臭氧也被用作氧源。目前,最常見的前驅(qū)體是三甲基鎵(TMGa)。MOCVD被認(rèn)為是理想的Ga2O3外延薄膜量產(chǎn)設(shè)備。
5 . 2.3噴霧化學(xué)氣相沉積(Mist- CVD)噴霧化學(xué)氣相沉積(Mist- CVD)是一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,成本低廉的薄膜沉積技術(shù),也是在CVD系統(tǒng)中,利用所生成的薄霧在加熱的襯底上進(jìn)行反應(yīng),獲得高質(zhì)量的薄膜。Mist- CVD技術(shù)的原理和結(jié)構(gòu)類似于熱解法制備薄膜的技術(shù),該技術(shù)已經(jīng)在一些金屬氧化物半導(dǎo)體材料中得到應(yīng)用,比如氧化鋅(ZnO)、氧化錫(SnO2)和鋅鎂氧(ZnMgO)等。日本京都大學(xué)對(duì)傳統(tǒng)制備噴霧沉積技術(shù)進(jìn)行了改造,用來(lái)制備氧化鎵薄膜,把這項(xiàng)技術(shù)稱為Mist- CVD。目前Mist- CVD技術(shù)在Ga2O3上的應(yīng)用也得到了廣泛的發(fā)展。京都大學(xué)的研究小組利用溶于水和鹽酸(HCl)的化學(xué)物質(zhì),即乙酸丙酮鎵,乙酰丙酮鐵,乙酰丙酮鋁和無(wú)水氯化錫等作為金屬源,在藍(lán)寶石襯底上生長(zhǎng)的 α 相Ga2O3和摻雜的 α相Ga2O3外延薄膜。另外,無(wú)機(jī)前驅(qū)物氯化鎵,溴化鎵或者碘化鎵也可以作為前驅(qū)體生長(zhǎng)Ga2O3薄膜。日本FLOSFIA公司,已經(jīng)利用Mist- CVD在4英寸藍(lán)寶石襯底上制備高質(zhì)量的 α相Ga2O3薄膜,并可以商業(yè)化購(gòu)買。利用Mist- CVD技術(shù)制備α -(AlxGa1-x)2O3時(shí),Al的含量可以達(dá)到x=0.8,這對(duì)后續(xù)的器件制備具有重要的意義。雖然Mist- CVD技術(shù)在制備Ga2O3薄膜方面展示出了較大的優(yōu)勢(shì),但是,該技術(shù)的積累還不夠,需要更多的探索和驗(yàn)證。另外,由于該技術(shù)主要用來(lái)制備 α相Ga2O3薄膜,所以在產(chǎn)業(yè)化過(guò)程中,不能完全取代其他沉積技術(shù)。
5 . 2.4鹵化物氣相外延沉積技術(shù)(HVPE)鹵化物氣相外延沉積技術(shù)(HVPE)是一種非常古老的外延薄膜生長(zhǎng)技術(shù),以前曾用于III-V族半導(dǎo)體的生長(zhǎng),該技術(shù)獲得材料的純度較高,生長(zhǎng)速度較快,并且過(guò)程簡(jiǎn)便,但是由于其制備厚膜的表面比較粗糙,并存在大量缺陷,即使在同質(zhì)襯底上進(jìn)行外延,也無(wú)法改變這種狀態(tài)。所以,在制備器件之前,需要對(duì)薄膜表面進(jìn)行拋光處理。大尺寸外延薄膜的厚度均勻性控制比較難。最近,利用該項(xiàng)技術(shù)已經(jīng)獲得了高質(zhì)量的Ga2O3薄膜,日本的NCT(Novel crystal Technology,Inc.)公司,已經(jīng)商業(yè)化出售10um厚的硅摻雜 β- Ga2O3薄膜。除了β 相Ga2O3薄膜外,利用H V P E技術(shù),也可以制備 α相薄膜。
6、氧化鎵材料的產(chǎn)業(yè)發(fā)展
對(duì)氧化鎵材料的研究日本起步最早,2011年就開始大力發(fā)展與氧化鎵相關(guān)的技術(shù)研究了,日本的田村是世界上首家研發(fā)出氧化鎵單晶的公司,并進(jìn)行了UVLED、紫外探測(cè)器的研發(fā)。目前全球只有田村有供給研究用的氧化鎵單晶襯底。另根據(jù)公開的資料顯示,田村在2017年的日本高新技術(shù)博覽會(huì)上推出了氧化鎵SBD功率器件。美國(guó)在2018年也開始了對(duì)氧化鎵材料的研究。我國(guó)對(duì)材料的關(guān)注也在不斷加強(qiáng),在十四五規(guī)劃里就將第三代半導(dǎo)體材料作為發(fā)展的重點(diǎn),并且在科技規(guī)劃里,將超寬禁帶半導(dǎo)體材料列入了戰(zhàn)略研究布局。2018年我國(guó)也啟動(dòng)了包括氧化鎵、金剛石、氮化硼等在內(nèi)的超寬禁帶半導(dǎo)體材料的探索和研究。
7、結(jié)語(yǔ)
目前,氧化鎵材料可能并不是主流市場(chǎng)的商用化材料,但從目前的研究來(lái)看,氧化鎵材料在大功率、高效率電子器件中,在實(shí)驗(yàn)室里,已經(jīng)展示出非常好的一些性能,所以未來(lái)在大規(guī)模應(yīng)用上,氧化鎵或許會(huì)有不錯(cuò)的應(yīng)用前景,根據(jù)預(yù)測(cè),Ga2O3功率器件市場(chǎng)和光電探測(cè)市場(chǎng)的需求不斷增長(zhǎng),相信在不遠(yuǎn)的未來(lái),半導(dǎo)體行業(yè)將迎來(lái)一個(gè)重大機(jī)遇。
如果您想要了解更多關(guān)于半導(dǎo)體方面的信息,請(qǐng)關(guān)注微信公眾號(hào):半導(dǎo)體材料與工藝,謝謝。
*博客內(nèi)容為網(wǎng)友個(gè)人發(fā)布,僅代表博主個(gè)人觀點(diǎn),如有侵權(quán)請(qǐng)聯(lián)系工作人員刪除。