EUV光刻太貴,替代方案被考慮
01.半導(dǎo)體光刻技術(shù)的起源與發(fā)展
光刻是半導(dǎo)體工業(yè)的核心技術(shù)。自1960年仙童半導(dǎo)體的羅伯特·諾伊斯發(fā)明單片集成電路以來,光刻一直是主要的芯片制造技術(shù)。光刻技術(shù)本質(zhì)上是,掩膜版用于對光刻膠進(jìn)行圖案化,從而實(shí)現(xiàn)圖案化沉積和蝕刻工藝。光刻工藝的最終分辨率由所用光源的波長決定。在短波長光刻源的開發(fā)方面取得的進(jìn)展,使得以摩爾定律為特征的電路密度不斷增加。在過去光刻所需光源是Mercury discharged lamps,例如365nm時期采用的i-Line,但最近KrF為248nm或ArF為193nm的準(zhǔn)分子激光器成為了首選光源。采用浸潤式光刻技術(shù),需要將透鏡和芯片浸沒在折射率比空氣高的水中,由此ArF激光器獲得的最終分辨率約為50nm。過去二十年,193nm波長的光刻技術(shù)得到了發(fā)展。雖然使用F2準(zhǔn)分子激光的157nm光刻技術(shù)取得了一些突破,但人們主要關(guān)注的還是使用13.5nm軟X射線作為光源的極紫外(EUV)光刻技術(shù)。荷蘭光刻機(jī)龍頭ASML在EUV技術(shù)的研發(fā)中發(fā)揮了主導(dǎo)作用,目前其EUV設(shè)備主要被包括英特爾、三星和臺積電在內(nèi)的先進(jìn)CMOS代工廠用于生產(chǎn)。
02.實(shí)踐中的光刻方法
▲圖2 三星 5LPE Gate和Fin Layout
自對準(zhǔn)四重構(gòu)圖(SAQP)幾乎可以肯定地用于對鰭片進(jìn)行構(gòu)圖,鰭片心軸的大致位置如圖所示,該心軸本應(yīng)使用ArF 193nm浸沒(ArF 193i)光刻法進(jìn)行圖案化,通過在心軸上形成側(cè)壁間隔件,進(jìn)而形成最終的鰭片圖案。心軸的間距為108nm,然后將心軸移除,使用第一側(cè)壁間隔物圖案來創(chuàng)建第二組側(cè)壁間隔件,最終給出27nm的鰭片間距。兩組側(cè)壁間隔物的大致位置和尺寸如圖3所示,這是一張橫截面TEM圖像,顯示了邏輯區(qū)域中三星5LPE工藝的27nm間距鰭片結(jié)構(gòu)。▲圖3 三星 5LPE Fin Cross Sectio
使用有源鰭片切割掩膜去除不需要的鰭片,并用淺溝槽隔離(STI)代替它們。圖2所示的金屬柵極很可能是使用自對準(zhǔn)雙圖案化(SADP)技術(shù)形成的,其中心軸上的側(cè)壁間隔物直接用于圖案化多晶硅柵極,再用金屬柵極取代。目前正在制造的先進(jìn)半導(dǎo)體器件的尺寸明顯小于用ArF浸沒光刻法獲得的約50nm最小半間距,這就需要開發(fā)越來越復(fù)雜的工藝技術(shù)。例如,根據(jù)最近TechInsights分析的結(jié)果,三星5nm LPE工藝使用了多種先進(jìn)的光刻方法,包括EUV,如表1所示。▲Table 1 Summary of photolithography methods applied in Samsung’s 5LPE process
SAQP光刻技術(shù)可以產(chǎn)生非常精細(xì)的間距特征,但僅限于創(chuàng)建單向定向的單軸結(jié)構(gòu),且線路末端需要特殊的切割掩膜,以防止相鄰線路之間短路。EUV光刻沒有這些限制,但成本更高。圖4顯示了三星5LPE設(shè)備CPU邏輯區(qū)中金屬0布局的平面圖TEM顯微照片,觀察到的最小金屬間距約為44nm。此外,布局包括在兩個正交方向上定向的線,如果使用SADP或SAQP ArF 193i光刻方法,通常不可能產(chǎn)生這種情況。▲圖4 三星5LP Metal 0 Layout
03.納米壓印和直接自組裝光刻
- 納米壓印光刻(NIL)
- 直接自組裝(DSA)光刻
- 電子束光刻(EBL)
04.探索專利中的先進(jìn)光刻技術(shù)創(chuàng)新
▲圖5 Top 5 Companies by NIL, EUV and DSA Patent Holdings
這張圖表展示了:- 佳能顯然在NIL技術(shù)上下了很大****注
- ASML在EUV方面投入最多,但也積極參與NIL和DSA研究
- 從先進(jìn)的光刻技術(shù)研發(fā)角度來看,臺積電顯然屬于領(lǐng)先的代工廠。他們在EUV方面投資最多,但在NIL和DSA方面也很活躍
- 排名第五的三星也在對沖****注,盡管他們的專利活動水平遠(yuǎn)低于臺積電
- 蔡司(Karl Zeiss)位列第四,毫不奇怪,作為光刻供應(yīng)商,他們主要關(guān)注點(diǎn)是EUV
05.結(jié)語
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