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D類功放“爆破音”機理與抑制措施淺析

發(fā)布人:yingjian 時間:2023-07-10 來源:工程師 發(fā)布文章

 D類功率放大器以高輸出功率,高效率,小體積等優(yōu)點,在車載音響領(lǐng)域異軍突起。在數(shù)字D類功放剛上電或功放播放狀態(tài)切換時,人耳偶爾會聽到“嘣”的聲音,我們把這個爆破的聲音稱為pop noise。數(shù)字功放pop noise 出現(xiàn)的原因有很多,本文主要分析pop noise出現(xiàn)原因,并提供相應解決方法。

    Pop noise成因有以下5點:

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    下面關(guān)于5點原因都做一個簡單介紹。

1、電容充放電


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    上圖所示為單端輸入功放,A1是比較放大器,用于設(shè)置增益,增強輸入信號的負載能力。A2輸出同A1輸出完全反向。Modulator用于信號調(diào)制,將輸入的模擬信號與三角波比較,生成PWM波驅(qū)動外圍MOS。比較放大器A1的一端直連參考電壓Vref,另一端通過RIN、CIN連接輸入音頻信號。

    在系統(tǒng)上電時,Vref立刻上升到參考電壓值,而A1的另一端則需要通過給RIN、CIN充電,在經(jīng)一段時間后才能上升到參考電壓值。A1兩端的電壓差經(jīng)放大后,輸出產(chǎn)生pop noise。該場景下可通過降低輸入電容值,如換成1uf或0.47uf來實現(xiàn)降低 pop noise。

    對于差分功放而言,如果P端和N端的輸出外圍硬件電路不匹配或者輸入外圍硬件電路不匹配,功放兩端輸入信號建立時間會不一樣,該差分信號差也會輸入功放并形成pop音。如下圖所示,若A1兩端電壓上升速度一致,pop noise為0。5ns的信號建立時間差即可產(chǎn)生人耳可聽到的pop音。

不同充電速度下的POP Noise 


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    2、PWM啟動和暫停

    在系統(tǒng)掉電或上電,功放播放狀態(tài)切換,或輸入音源切換時,PWM會產(chǎn)生啟停,進而產(chǎn)生瞬態(tài)的POP音。如下圖所示,在連續(xù)PWM動作時,開關(guān)頻率及其附近的鏡像頻率都可以順利的被LC濾波器濾除。而在PWM啟停時,開關(guān)頻率及其奇次諧波會延伸到人耳可聽的20-2kHz范圍內(nèi)。該開關(guān)頻率低于LC濾波器的截止頻率,不能被濾除進而產(chǎn)生pop音。

    連續(xù)PWM及PWM啟動的時頻域圖:


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    對于BTL結(jié)構(gòu)的功放在進行AD調(diào)制時,PWM開啟第一個Duty cycle,如果A-side拉低,Bootstrap 電容可以順利充電,但B-side在此時拉高,這使得Bootstrap電容充電失敗。Bootstrap電容提供N MOSFET的充電電壓,如Bootstrap電容充電失敗,則B-side 第一個PWM不能正常輸出。A-side和B-side的不平衡輸出會產(chǎn)生明顯的POP音。TI針對該類pop noise進行了優(yōu)化,在AD和BD調(diào)制中,都使得第一個PWM為低,進而消除Clock fault。

    AD調(diào)制PWM開啟示意圖

    3、上下電順序錯誤

    音頻系統(tǒng)有嚴格的上下電順序。通常功放的供電電壓會比SOC的供電電壓高,也比SOC電壓建立時間早。為避免pop noise在SOC上電及功放上電時發(fā)生,要保持功放為Hi-zi/standby狀態(tài),且待功放充分充電后(20ms),再開啟PWM波,輸入音源。同理在功放斷電時,為避免掉電速度不一致,我們需要Mute 并將Standby引腳拉低15ms后再進行掉電。TI 的PurePath Digital 具有優(yōu)化后的啟動序列,這使得可聽音頻帶的pop音盡可能小。

    4、PVDD電壓/Gain值急速抬升

    PVDD電壓急劇上升或Gain值急速抬升均會導致pop noise 出現(xiàn)。在進行原理圖繪制時,需要將Cstart軟啟動電容設(shè)置在合理的范圍內(nèi),防止PVDD急速上升。此外,針對某些功放在開機第一次POP noise出現(xiàn)后,還出現(xiàn)了第二次pop noise。這是因為功放在上電后,增益值會以一定步長爬升到設(shè)定增益,如果步長設(shè)定值過大,會導致pop noise的出現(xiàn)。

    5、Hizi-play 狀態(tài)切換Clock Fault

    如果喇叭不僅僅在開機或者狀態(tài)轉(zhuǎn)換時出現(xiàn)pop 音,而是當功放從Hi-zi切換到play時,連續(xù)出現(xiàn)POP noise,此時應當檢查是否出現(xiàn)Clock Fault。以TI的芯片TAS6424L/M-Q1系列為例,硬件工程師可以斷開SOC的IIC控制,并將IIC通過USB轉(zhuǎn)接板連接到PPC3進行Clock Fault檢驗。


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    若此時出現(xiàn)Clock Fault 應檢查輸入音頻信號I2S/TDM是否滿足數(shù)據(jù)手冊的要求(見數(shù)據(jù)手冊Electrical Characteristics 中Serial Audio Port)。此外,數(shù)據(jù)手冊中還有其他特殊情況的說明,以TAS6424L/M-Q1系列為例,如果客戶將SCLK和MCLK連接到一起,F(xiàn)SYNC需要為2 MCLK以上。若SOC為高通8155系列,F(xiàn)YSNC輸出共有3個選項:第一是2MCLK ,第二是50% duty cycle ,第三為1 slot,我們可以選擇后兩項作為FSYNC輸入。

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