借助ENCOUNTER VERISILICON成功出帶
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Cadence設(shè)計系統(tǒng)有限公司近日宣布,世界領(lǐng)先的ASIC設(shè)計代工廠商VeriSilicon Holdings Co., Ltd.公司通過采用基于Cadence® Encounter®數(shù)字IC設(shè)計平臺的自動化倒裝片設(shè)計流程,實現(xiàn)了一個復(fù)雜、高速SoC倒裝片的成功出帶。這是VeriSilicon公司首次實現(xiàn)SoC的成功流片,并已投入量產(chǎn)。
借助SoC Encounter,VeriSilicon公司有效地降低了芯片的裸片尺寸,提高了性能,實現(xiàn)了時序優(yōu)化,并取得了更好的電源集成度。這些優(yōu)點為倒裝片設(shè)計帶來了很多好處,如在這個160萬門的SoC設(shè)計中,共集成了6個頻率為250 MHz的主時鐘,而裸片尺寸僅為8.4x8.4mm2 。該芯片采用SMIC 0.15um LV(低壓)1P7M制造工藝, BGA729 倒裝片封裝。
“作為一家ASIC設(shè)計代工廠商,VeriSilicon公司一直致力于改善設(shè)計流程以更好地服務(wù)客戶。倒裝片SoC設(shè)計實現(xiàn)的最大問題是自動化的倒裝片設(shè)計流程,如自動化的金屬凸點分配和再分布線(RDL),” VeriSilicon公司設(shè)計方法學(xué)副總裁李念峰說,“Cadence SoC Encounter系統(tǒng)在我們的專用IO和VeriSilicon標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計平臺(SDP)上運行良好,它的先進(jìn)功能有效地加速了我們的倒裝片設(shè)計流程?!?
Cadence SoC Encounter系統(tǒng)能夠根據(jù)金屬凸點的位置和分配來優(yōu)化IO焊盤,或者根據(jù)焊盤的位置重新分配金屬凸點,以及根據(jù)用戶指定的約束和使用不同的布線寬度來實現(xiàn)自動化的再分布線。該系統(tǒng)還能自動將電源單元與金屬凸點連接起來,并通過驗證指令和自動化金屬凸點布局來實現(xiàn)驗證。Encounter QRC用于具有制造意識的寄生抽取,VoltageStorm®則用于電源分析。
“我們非常高興VeriSilicon公司能夠選擇Cadence Encounter設(shè)計流程用于這個倒裝片SoC的設(shè)計開發(fā),” Cadence公司企業(yè)副總裁戴偉進(jìn)說,“自動化的金屬凸點分配和再分布線有效地縮短了整體設(shè)計時間,并極大地改善了設(shè)計的硅片質(zhì)量(QoS)。Encounter集成化設(shè)計流程是縮短產(chǎn)品上市時間的重要因素。”
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