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基于HARQ的TD-LTE基站性能測試方案

—— TD-LTE eNB Performance Test Solution Based on HARQ
作者:白瑛 張勤 叢姍姍 安捷倫科技軟件有限公司 時(shí)間:2011-02-23 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  3GPP TS 36.141規(guī)定性能測試只需在配置1下進(jìn)行,因此可以根據(jù)表1的描述得到配置1時(shí)的時(shí)序圖:在配置1時(shí),上行只在子幀2、3、7和8四個(gè)位置發(fā)送上行信號(hào);下行由基站在子幀1、4、6和9發(fā)送ACK/NACK指令,指令的指示對(duì)象及重傳位置關(guān)系如圖1所示。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/117169.htm


  測試平臺(tái)

  硬件平臺(tái)

  性能測試目的在于模擬實(shí)際環(huán)境下的系統(tǒng)吞吐率,因此需要基站與測試儀器進(jìn)行聯(lián)調(diào)。硬件測試平臺(tái)包括:支持2天線接收的TD- eNB基站、安捷倫基帶信號(hào)發(fā)生器與信道仿真儀PXB、安捷倫矢量信號(hào)發(fā)生器MXG(主要用于上變頻)以及一臺(tái)四通道示波器(用于系統(tǒng)調(diào)試)。測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)如下。

  PXB實(shí)時(shí)產(chǎn)生TD-上行信號(hào)并經(jīng)過特定信道模型下的衰落后,輸出的基帶I/Q信號(hào)經(jīng)過MXG上變頻分別送入基站的兩根接收天線。基站端對(duì)接收到的射頻信號(hào)進(jìn)行解調(diào)解碼,并以RS232C的串行通信方式將反饋結(jié)果(ACK/NACK指令)傳回至PXB,PXB根據(jù)ACK/NACK指令實(shí)時(shí)調(diào)整RV因子重新發(fā)送數(shù)據(jù)包或選擇放棄當(dāng)前數(shù)據(jù)包(當(dāng)eNB發(fā)送ACK信號(hào)或是已達(dá)到最大重傳次數(shù))。最后基站端統(tǒng)計(jì)得到系統(tǒng)的吞吐率。

  軟件平臺(tái)

  PXB通過運(yùn)行在其內(nèi)部的Signal Studio N7625B-WFP for TDD 軟件產(chǎn)生特定的參考測試信號(hào),并實(shí)時(shí)地調(diào)整編碼冗余因子。

  反饋信號(hào)格式

  基站下發(fā)給PXB的ACK/NACK信號(hào)以RS232C串行通信的數(shù)據(jù)格式進(jìn)行編碼,PXB根據(jù)相同的編碼速率和格式進(jìn)行解碼得到ACK/NACK值。反饋信號(hào)由8個(gè)比特組成,1個(gè)起始位,1個(gè)停止位,無奇偶校驗(yàn)位。具體的數(shù)據(jù)格式如表2所示。



關(guān)鍵詞: LTE HARQ

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