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基于HARQ的TD-LTE基站性能測(cè)試方案

—— TD-LTE eNB Performance Test Solution Based on HARQ
作者:白瑛 張勤 叢姍姍 安捷倫科技軟件有限公司 時(shí)間:2011-02-23 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  引言

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/117169.htm

  作為一種先進(jìn)的技術(shù),(Long Term Evolution,長(zhǎng)期演進(jìn))系統(tǒng)在提高峰值數(shù)據(jù)速率、小區(qū)邊緣速率、頻譜利用率、控制面和用戶面時(shí)延以及降低運(yùn)營(yíng)和建網(wǎng)成本等方面擁有巨大的優(yōu)勢(shì)[1-4]。同時(shí),系統(tǒng)與現(xiàn)有系統(tǒng)(2G/2.5G/3G)能夠共存,并且實(shí)現(xiàn)平滑演進(jìn)。

  系統(tǒng)按照雙工方式分為頻分雙工(FDD)和時(shí)分雙工(TDD)兩種。其中LTE-TDD制式相對(duì)于FDD制式具有頻譜利用靈活、支持非對(duì)稱業(yè)務(wù)等諸多優(yōu)勢(shì),是中國(guó)通信業(yè)界力推的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。

  系統(tǒng)吞吐率是衡量TD-LTE基站綜合性能的重要指標(biāo)[5]。吞吐率的測(cè)試需要基站(eNB)與測(cè)試儀器(模擬UE)之間實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)反饋并動(dòng)態(tài)調(diào)整。測(cè)試儀器不僅需要能夠生成符合3GPP標(biāo)準(zhǔn)的TD-LTE 上行信號(hào),同時(shí)還需要模擬相應(yīng)的信道衰落模型,并且根據(jù)基站下發(fā)的ACK/NACK指令實(shí)時(shí)地調(diào)整發(fā)射信號(hào)的編碼冗余因子,以模擬真實(shí)的通信環(huán)境[6]。本方案采用安捷倫基帶信號(hào)發(fā)生器與信道仿真儀N5106A PXB作為測(cè)試平臺(tái),通過(guò)Real-time版本的Signal Studio N7625 for LTE TDD生成TD-LTE測(cè)試信號(hào),并經(jīng)過(guò)信道衰落后送給基站進(jìn)行解碼從而可以統(tǒng)計(jì)出基站的吞吐率。

  測(cè)試原理

  上行方式

  LTE系統(tǒng)將在上行鏈路采用同步非自適應(yīng)技術(shù)。雖然異步自適應(yīng)HARQ技術(shù)與同步非自適應(yīng)技術(shù)比較,在調(diào)度方面的靈活性更高,但是后者所需的信令開(kāi)銷更少。由于上行鏈路的復(fù)雜性,來(lái)自其他小區(qū)用戶的干擾是不確定的,因此基站無(wú)法精確估測(cè)出各個(gè)用戶實(shí)際的信干比(SINR)值。由于SINR值的不準(zhǔn)確性導(dǎo)致上行鏈路對(duì)于調(diào)制編碼模式(MCS)的選擇不夠精確,所以更多地依賴HARQ技術(shù)來(lái)保證系統(tǒng)的性能[7]。因此,上行鏈路的平均傳輸次數(shù)會(huì)高于下行鏈路。所以,考慮到控制信令的開(kāi)銷問(wèn)題,在上行鏈路使用同步非自適應(yīng)HARQ技術(shù)。

  上行HARQ時(shí)序

  LTE TDD制式的上下行信號(hào)在時(shí)域上交錯(cuò)分布,因此其HARQ時(shí)序映射關(guān)系較FDD更為復(fù)雜。根據(jù)3GPP TS 36.213規(guī)定,TDD制式不同UL/DL Configuration下,下行子幀只在規(guī)定位置發(fā)送ACK/NACK指令,每個(gè)位置發(fā)送的ACK/NACK指令對(duì)應(yīng)特定的上行子幀信號(hào),如表1所示。

 


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評(píng)論


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