DDR測試技術(shù)和工具是否跟上了時代步伐？

　　業(yè)界速度最快、最完整的DDR測試解決方案

　　對于DDR信號路徑（通道）鑒定和電路板/DIMM檢驗(yàn)，泰克公司帶有TDR模塊和S參數(shù)分析軟件的DSA8200采樣示波器可以幫助工程師高效、簡單地完成阻抗測量、插入損耗和回波損耗、串?dāng)_等測量項(xiàng)目，完成整個分析項(xiàng)目只需幾分鐘。該示波器的采樣帶寬>70GHz，最有最低的抖動本底，改善了阻抗測量精度和分辨率（Z-Line），1M的存儲深度可保證對高頻信號的長時間測試。

　　對于DDR的模擬特性和物理層調(diào)試，泰克帶寬達(dá)20GB的DPO/DSA/MSO70000B高性能示波器和相關(guān)探測、測量軟件將是非常不錯的選擇，一個方案同時支持DDR1/2/3、LP-DDR、GDDR3。當(dāng)然，特別值得一提的是還要搭配泰克公司的突破性探測工具和技術(shù)。不過，余嵐介紹說：“對于經(jīng)費(fèi)預(yù)算有限且DDR測試要求稍低的中小公司而言，泰克最新推出的高性價比中端示波器MSO/DPO5000也是不錯的選擇。”

　　眾所周知，不論是智能手機(jī)等直接將DRAM芯片焊接在PCB上的嵌入式設(shè)計還是計算機(jī)系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)化DIMM存儲卡，因?yàn)槿缃馜DR2和DDR3都是采用FBGA封裝，所以DRAM芯片的探測都是非常困難，因?yàn)橐酝倪壿嫹治鰞x和示波器探頭都不能探測到焊球，而通過連接器、PCB板或過孔這些測試點(diǎn)都不能真正代表DRAM內(nèi)部情況。為此，泰克創(chuàng)業(yè)界先河，與Nexus公司合作，開發(fā)出BGA芯片插座，該插座分為Socket版本和焊接版本，配合泰克公司的P7500系列TriMode(三模)專利探頭，可提供探測信號的完美保真度。

　　圖2：Nexus公司開發(fā)的BGA芯片插座（分成socket版本和焊接版本）確保了DDR探測信號保真度。

　　泰克的TriMode(三模)探測技術(shù)使用單條探頭與DUT鏈接，不僅可完成傳統(tǒng)差分測量，而且可切換成在任一輸入上進(jìn)行獨(dú)立單端測量或直接進(jìn)行共模測量。以往，完成這些需要3個獨(dú)立探頭（見圖3）。

　　圖3：

　　左圖：以往1只探頭用于差分測量、2只探頭用于單端測量和共模測量

　　或1只探頭焊接和重焊三次、2只探頭用于共模測量。

　　右圖：1只TriMode探頭，通過切換進(jìn)行差分測量、單端測量和共模測量。

　　前文提到過，DDR信號不同于其他信號，其數(shù)據(jù)信號是雙向的，讀信號和寫信號同時出現(xiàn)在信號線上。人們很難判斷當(dāng)前捕獲到的數(shù)據(jù)是讀信號還是寫數(shù)據(jù)，這就給測試效率會很低，也比較容易出錯。有了泰克公司的DDR自動測試軟件選項(xiàng)如DDRA和DPOJET，就可使上述信號采集和分析問題迎刃而解，而且可以加速驗(yàn)證過程。DDRA的功能特性包括但不限于：

　　1.新的自動配置向?qū)В龑?dǎo)用戶簡便地完成設(shè)置和測試配置；

　　2.可識別和分析整個采集中的所有讀/寫突發(fā)；

　　3.為讀和寫繪制DQS和DQ眼圖；

　　4.使用Pass/Fail 極限執(zhí)行JEDEC一致性測試；

　　5.使用片選判定多排測量；

　　6.簡便地在一致性測試工具和分析/調(diào)試工具之間切換；

　　7.使用Pass/Fail信息、統(tǒng)計測量結(jié)果和測試設(shè)置信息，自動生成合并報告。