Multitest的MT2168展示卓越的拿放精度

　　2011年8月德國(guó)羅森海姆---面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商，設(shè)計(jì)和制造最終測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，日前宣布在亞洲的一家量產(chǎn)基地驗(yàn)證了其MT2168卓越的貼裝概念。客戶發(fā)現(xiàn)，被測(cè)器件在輸出托盤(pán)中的放置速度顯著改善。

　　MT2168的位置探測(cè)與控制(PDC)功能解決了因機(jī)械公差或熱膨脹造成的托盤(pán)內(nèi)誤置問(wèn)題。這是任何拿放式分選機(jī)的常見(jiàn)問(wèn)題，對(duì)于小型封裝或不同托盤(pán)而言尤其如此。器件誤置的可能風(fēng)險(xiǎn)包括：當(dāng)托盤(pán)疊放時(shí)，發(fā)生損壞;或造成卡料。MT2168的PDC概念將基于傳感器的校準(zhǔn)功能集成于標(biāo)準(zhǔn)的拿放流程，確保顯著改善放置速度。

　　MT2168的PDC替代了重復(fù)教學(xué)過(guò)程，但其執(zhí)行是即時(shí)的且獨(dú)立于人為操作和影響。因采用PDC，組件轉(zhuǎn)換之后的微調(diào)將成為歷史。此外，PDC是一種針對(duì)實(shí)際操作情形和要求(如加熱階段)而優(yōu)化的自適應(yīng)過(guò)程。