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Multitest的MT2168展示卓越的拿放精度

作者: 時間:2011-09-06 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  2011年8月德國羅森海姆---面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測試分包商,設(shè)計(jì)和制造最終、測試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商公司,日前宣布在亞洲的一家量產(chǎn)基地驗(yàn)證了其卓越的貼裝概念??蛻舭l(fā)現(xiàn),被測器件在輸出托盤中的放置速度顯著改善。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/123293.htm

  的位置探測與控制(PDC)功能解決了因機(jī)械公差或熱膨脹造成的托盤內(nèi)誤置問題。這是任何拿放式分選機(jī)的常見問題,對于小型封裝或不同托盤而言尤其如此。器件誤置的可能風(fēng)險包括:當(dāng)托盤疊放時,發(fā)生損壞;或造成卡料。的PDC概念將基于傳感器的校準(zhǔn)功能集成于標(biāo)準(zhǔn)的拿放流程,確保顯著改善放置速度。

  MT2168的PDC替代了重復(fù)教學(xué)過程,但其執(zhí)行是即時的且獨(dú)立于人為操作和影響。因采用PDC,組件轉(zhuǎn)換之后的微調(diào)將成為歷史。此外,PDC是一種針對實(shí)際操作情形和要求(如加熱階段)而優(yōu)化的自適應(yīng)過程。

  

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