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安森美半導(dǎo)體完整ESD及EMI保護(hù)方案

作者: 時間:2011-10-24 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  對于電子產(chǎn)品而言,保護(hù)電路是為了防止電路中的關(guān)鍵敏感型器件受到過流、過壓、過熱等沖擊的損害。保護(hù)電路的優(yōu)劣對電子產(chǎn)品的質(zhì)量和壽命至關(guān)重要。隨著消費(fèi)類電子產(chǎn)品需求的持續(xù)增長,更要求有強(qiáng)固的靜電放電()保護(hù),同時還要減少不必要的電磁干擾()/射頻干擾(RFI)噪聲。此外,消費(fèi)者希望最新款的消費(fèi)電子產(chǎn)品可以用小尺寸設(shè)備滿足越來越高的下載和帶寬能力。隨著設(shè)備的越來越小和融入性能的不斷增加,以及許多情況下的/RFI抑制已無法涵蓋在驅(qū)動所需接口的新一代IC當(dāng)中。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/124935.htm

  另外,先進(jìn)的系統(tǒng)級芯片(SoC)設(shè)計(jì)都是采用幾何尺寸很小的工藝制造的。為了優(yōu)化功能和芯片尺寸,IC設(shè)計(jì)人員一直在不斷減少其設(shè)計(jì)的功能的最小尺寸。IC尺寸的縮小導(dǎo)致器件更容易受到電壓的損害。

  過去,設(shè)計(jì)人員只要選擇符合規(guī)范的一個保護(hù)產(chǎn)品就足夠了。因此,大多數(shù)保護(hù)產(chǎn)品的數(shù)據(jù)表只包括符合評級要求。由于集成電路變得越來越敏感,較新的設(shè)計(jì)都有保護(hù)元件來滿足標(biāo)準(zhǔn)評級,但ESD沖擊仍會形成過高的電壓,有可能損壞IC。因此,設(shè)計(jì)人員必須選擇一個或幾個保護(hù)產(chǎn)品,不僅要符合ESD脈沖要求,而且也可以將ESD沖擊鉗位到足夠低的電壓,以確保IC得到保護(hù)。

  

 

  圖1:美國靜電放電協(xié)會(ESDA)的ESD保護(hù)要求

  先進(jìn)技術(shù)實(shí)現(xiàn)強(qiáng)大ESD保護(hù)

  半導(dǎo)體的ESD鉗位性能備受業(yè)界推崇,鉗位性能可從幾種方法觀察和量化。使用幾個標(biāo)準(zhǔn)工具即可測量獨(dú)立ESD保護(hù)器件或集成器件的ESD鉗位能力,包括ESD保護(hù)功能。第一個工具是ESD ESD脈沖響應(yīng)截圖,顯示的是隨時間推移的鉗位電壓響應(yīng),可以看出ESD事件中下游器件的情形。

  

 

  圖2:ESD鉗鉗位截圖


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關(guān)鍵詞: 安森美 ESD EMI IEC61000-4-2

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