密碼芯片專家齊聚深圳探討密碼芯片測評技術
中國密碼芯片領域的專家、學者以及企業(yè)界人士齊聚深圳“2011密碼芯片分析和測評技術論壇”,共同探討密碼芯片分析和測評技術方向的最新學術成果、工程化熱點、產(chǎn)業(yè)動態(tài)及發(fā)展趨勢。
本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/146853.htm密碼芯片領域的專家、學者表示,信息技術越來越廣泛地影響我們生活、工作的方方面面,信息安全的重要性也日益凸顯。作為信息安全的一個重要組成部分,密碼芯片在數(shù)字安全領域中也得到廣泛運用,第二代居民身份證芯片系統(tǒng)就是一個成功的案例。同時,密碼芯片在金卡工程、三網(wǎng)融合、智能電網(wǎng)、物聯(lián)網(wǎng)等領域也都發(fā)揮著重要作用。國家十二五規(guī)劃重點提到完善信息安全標準體系和認證認可體系,密碼學的相關安全標準體系和認證體系無疑是其中最重要的部分,“2011密碼芯片分析和測評技術論壇”上有關密碼芯片分析和測評技術的研究成果將有利地促進這個關鍵產(chǎn)品的發(fā)展和完善。
“2011密碼芯片分析和測評技術論壇”由中國密碼學會密碼芯片專業(yè)委員會主辦,國民技術股份有限公司承辦。中國密碼學會理事長裴定一教授、副理事長徐茂智、秘書長強志軍,國家密碼管理局商用密碼管理辦公室副主任安曉龍以及從事密碼芯片分析和測評方面學術研究、應用技術開發(fā)的專家學者、行業(yè)精英出席了本次論壇。
中國密碼學會理事長裴定一教授、國家密碼管理局商用密碼管理辦公室安曉龍副主任及國民技術股份有限公司總經(jīng)理孫迎彤在會上分別致辭。裴定一理事長代表中國密碼學會做開場致辭,提出中國密碼學會密碼芯片專委會的主要工作就是要組織多種形式的密碼芯片的論壇與研討會,加強科研與開發(fā)單位的交流,搭建起產(chǎn)學研結合的平臺,加速密碼芯片科研成果的轉化,提高我國密碼芯片的技術水平。安曉龍副主任則在會上號召密碼芯片界的朋友團結起來,齊心協(xié)力,一起來為社會、經(jīng)濟的安全做好保駕護航工作。孫迎彤總經(jīng)理感謝中國密碼學會給國民技術提供承辦此次論壇的機會,國民技術將在論壇上把密碼芯片測評技術,尤其是側信道攻擊方面的一些心得體會與所有與會者分享。
華南理工大學丁津泰教授、國民技術股份有限公司張翌維博士、中國信息安全認證中心崔占華博士、清華大學軟件學院向東教授、中國信息安全測評中心張翀斌主任、上海市信息安全測評中心陳清明總監(jiān)、艾特賽克信息技術有限公司劉巖總經(jīng)理、西班牙APPLUS+ LGAI實驗室認證測評專家Alexis Bouquet博士及荷蘭分析設備供應商Riscure Jing Pan博士分別在論壇上做主題報告。
丁津泰教授介紹了國外對硬件的攻擊和防御以及對未來會怎么樣發(fā)展的一些看法;國民技術張翌維博士做題為“密碼芯片分析中的關鍵技術”報告,并現(xiàn)場演示智能卡芯片的毛刺注入分析和安全芯片的激光錯誤注入分析,展示了國民技術對安全芯片安全性分析技術的強大實力;崔占華博士介紹了“我國智能卡安全認證情況”,對國內EAL認證狀況,存在問題以及未來發(fā)展趨勢進行了深入探討;上海市信息安全測評認證中心陳清明總監(jiān)從芯片EAL測評國家標準出發(fā),探討了芯片安全性檢測與分析技術與標準之間的對應關系;艾特賽克信息技術有限公司劉巖總經(jīng)理深入介紹了美國FIPS 140-2體系及該體系對芯片安全性提出的要求;西班牙APPLUS+ LGAI實驗室認證測評專家Alexis Bouquet博士與嘉賓們深入探討了目前國際公認最難,含金量最高的Common Criteria信息安全認證體系,并從認證體系出發(fā),探討了侵入式分析,錯誤注入分析等核心攻擊技術;荷蘭Riscure公司介紹了激光脆弱性錯誤注入技術在歐洲研究現(xiàn)狀,分析原理并指出未來錯誤注入技術發(fā)展方向及當前實踐。
十二五期間,隨著金融IC卡和金融IC社保卡的大力推廣,可以預見到密碼芯片分析和測評技術的發(fā)展及運用將進入一個快速發(fā)展的階段。此次論壇的順利召開,將對密碼芯片分析和測評技術的快速發(fā)展起到積極的作用。
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