基于復用的SOC測試技術

1 引言

90年代國際上出現(xiàn)的SOC概念，以系統(tǒng)為中心、基于IP模塊多層次、高度復用的設計思想受到普遍重視和廣泛應用。SOC的高集成度和復雜度使得SOC測試面臨挑戰(zhàn)，傳統(tǒng)的基于整個電路的測試方法不再適用。對于IP模塊和SOC而言，在電路設計向可復用這一目標發(fā)展的同時，測試中的復用也變得愈加重要，成為解決SOC測試的關鍵，也成為目前該領域研究的焦點。本文在分析SOC與SOB（system on board）本質區(qū)別的基礎上，闡明復用對于SOC測試的重要性，對現(xiàn)有主要幾類基于復用思想的SOC測試進行分析。

2 SOC的測試

SOC使集成電路設計者分為兩個部分：IP模塊的設計者和SOC集成者（IP模塊的使用者）[2,4,5] 。IP模塊是設計者提供的具有特定功能和相關參數描述的模塊；而SOC集成者利用它們和用戶自定義邏輯（UDL）集成在一起，實現(xiàn)既定的功能。從表面上看，這種設計類似于傳統(tǒng)的基于芯片的SOB 設計，但二者存在本質區(qū)別。

SOB中的IC是經制造生產和測試后的實體，因此對SOB集成者而言，測試是針對系統(tǒng)中IC之間連接的測試。在SOB的設計集成過程中，IC的制造商和系統(tǒng)的集成者有相對獨立的測試開發(fā)和實施階段，如圖1所示。從描述的層次而言，SOC中的IP模塊可以分為軟核、固核以及硬核。每一個核又可以是若干更小的模塊共同構成,但無論什么模塊，相對于SOB中的芯片而言是虛擬器件，在進行SOC集成設計時都未經物理實現(xiàn)。IP模塊提供者對所設計的虛擬模塊進行測試開發(fā)，卻不能對IP模塊進行實際的物理測試。因此IP模塊設計者和SOC集成者的測試開發(fā)和實施將不再是彼此獨立和分割的兩個階段。SOC集成者要完成包括IP模塊在內的整個芯片的測試方案[2]。因此，SOC測試較傳統(tǒng)的SOB測試而言，更加復雜，也更具挑戰(zhàn)性。

圖1 SOB與SOC測試的比較

3 復用技術與SOC測試

隨著技術的發(fā)展和市場的需要，IP模塊和SOC 的設計正逐漸以分布和并行的方式進行。來源于不同的各種IP模塊的多層次復用是SOC的基礎。IP 模塊是對功能和實現(xiàn)方式的描述，是未經物理實現(xiàn)的虛擬器件，不同類型的IP模塊有不同的模型和測試方法，IP模塊的提供者雖然無法對模塊進行物理測試，但必須向SOC集成者提供模塊的測試信息，其中包括模塊的測試方法、可測性結構、測試產生方法及測試集等 [2,4,6]。如果不以這些模塊的測試信息為基礎，SOC集成者就無法對高達千萬門級的芯片進行測試，而復用則是SOC測試的關鍵。因此，國際上IEEE P1500工作組和VSIA（virtual socket in ter face alliance）聯(lián)盟正在制定相關的國際標準[6,7] ，研究焦點集中于規(guī)范IP模塊設計者和SOC集成者之間的軟硬件接口，如模塊測試語言（CTL，）和可擴展結構，以實現(xiàn)SOC測試中IP模塊測試信息的即插即用。但標準并不進行復用方法和測試集成及優(yōu)化的研究，有許多問題尚未解決。因此采用何種方式復用，如何解決復用中遇到的問題成為目前 SOC測試研究的焦點之一。從復用的角度，現(xiàn)有的SOC測試解決方案大致分為兩類：直接復用和間接復用。

3.1 直接復用

該方法的基本思路是自頂向下，直接在芯片級使用已有的模塊測試信息，通過實現(xiàn)對每個IP模塊的測試訪問從而解決整個芯片的測試[8]。核心是通過構建測試通路實現(xiàn)對各IP模塊的測試訪問，前提是各IP模塊都具有良好的可測性和完整的測試信息。這類方法的有效性關鍵在于兩個方面，即各模塊原有測試信息的質量和在SOC中各模塊測試訪問的實現(xiàn)。具體的方案如下。

① 測試總線。ARM公司發(fā)布的32位AMBA（advanced microcontroller bus architecture）總線結構，通過解決每個IP模塊的測試訪問問題來最終完成整個SOC的測試，但其兼容性、測試費用及測試時間上有其局限性 [9]。Duel Technologies公司也作了類似的工作，提出了“測試總線”，連接每個IP模塊，雖然優(yōu)化了測試所占用的芯片面積，但無法同時將多個IP模塊連到總線上進行測試。

② 端口訪問。Intel公司提出將每個IP模塊的接口端通過多路選擇器接到芯片的引腳上直接進行訪問[10]。但當IP模塊增加時，對多路選擇器的控制就會過于復雜，且該方法對IP的端口數有明確的限制。

③ 模塊的透明模型。文獻[11]提出一種基于IP模塊透明模型的方法，它要求每個IP模塊都有一種工作模式——透明模式。當對SOC中某一個IP模塊進行測試時，其它模塊均處于透明模式，從而為該模塊提供測試訪問通路。這種方案較前兩種方案減少了硬件開銷，但對IP模塊的設計有特殊要求，且數據傳輸通道多位串行會導致測試時間過長。

④ 邊界掃描。Texas Instrument公司利用IEEE 1149.1標準中的邊界掃描測試（BST）技術，通過標準的掃描鏈串行訪問IP模塊，該方案是將用于解決SOB的測試技術移植到了SOC上。該方案的硬件開銷會隨著電路集成度提高而加大，測試時間也會隨著SOC規(guī)模的增加變得無法接受[12]。

3.2 間接復用

這類方法的基本思路是自底向上，利用每個模塊級的測試信息，通過綜合轉換形成該模塊在芯片級可以實施的測試信息，直至形成整個芯片的測試。核心是以系統(tǒng)為出發(fā)點，利用各IP模塊的測試信息，綜合SOC的結構或功能特點，形成SOC 對各IP模塊的測試數據和方案。具體的方案如下。

① 宏測試。從設計出發(fā)，在自IP模塊向系統(tǒng)集成的過程中不斷將模塊的測試信息進行擴展，直至芯片級。其中較為典型的是Philips公司將解決IC測試的Macro Test技術用于SOC測試[13]。其基本思路是將每個IP模塊的測試信息以測試協(xié)議描述，結合整個系統(tǒng)的設計，識別合適的訪問路徑擴展到芯片級，再通過芯片級的測試協(xié)議調度每個模塊的測試順序，最終通過單獨測試每個IP的方法來完成SOC測試。該方法對SOC中的IP模塊及其測試信息有嚴格的規(guī)定。