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無源RFID標(biāo)簽芯片靈敏度測試方法研究

作者: 時間:2012-04-05 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

從以上分析可以知道,任何時候,安裝有的SMA連接器只有2種接法,或者連接到儀,或者連接到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,如圖2所示。儀和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的輸出阻抗均為Z0=50Ω。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/155121.htm

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過程中,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀能量設(shè)置為某一頻率下的最小功耗Pmin(由測試儀獲取的最小可工作功率)。工作在最小功耗下,由于安裝芯片的SMA頭和同軸線的損耗可以忽略不計(jì),因此,所有輸入的能量或者被芯片吸收,或者全部被反射回來。由于傳輸線與標(biāo)簽芯片失配,標(biāo)簽芯片所接收的能量可以通過式(1)計(jì)算,即可以得到芯片的能量。
Pth=PminTtag=Pmin(1-|Γtag|2) (1)
式中:Ttag是能量傳輸系數(shù);|Γtag|2是能量反射系數(shù),1-|Γtag|2即為能量傳輸系數(shù)Ttag;Pmin為利用標(biāo)簽測試儀測得的某一個頻率下芯片的最低功耗;Pth為芯片的能量。實(shí)際測試中,利用標(biāo)簽測試儀測得芯片的最低功耗Pmin,將矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的能量設(shè)置為Pmin,測試芯片的反射系數(shù)Γ的值,代入式(1)即可得到芯片的。

2 芯片靈敏度測試結(jié)果
圖3將安裝有NXP_G2XM芯片的SMA頭通過同軸線連接到標(biāo)簽測試儀衰減器的輸出端口,掃描芯片工作所需的最低功耗Pmin隨頻率變化的情況。從圖中可以看出,在標(biāo)簽芯片和傳輸線不匹配的情況下,直接得到芯片功耗隨頻率變化掃描出的曲線。在800~1 000 MHz頻段內(nèi),每隔10 MHz采集一個功耗值,由于測試時在標(biāo)簽測試儀的輸出口串接20 dB衰減器,因此實(shí)際功耗值如圖4所示。

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