無(wú)源RFID標(biāo)簽芯片靈敏度測(cè)試方法研究
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圖4是芯片校準(zhǔn)前實(shí)際功耗測(cè)試結(jié)果。其中，圓圈表示從標(biāo)簽測(cè)試儀掃描圖像中對(duì)個(gè)別頻點(diǎn)采樣得到芯片靈敏度數(shù)值；實(shí)線為利用藍(lán)色圓圈表示的數(shù)值通過(guò)多項(xiàng)式擬合所得曲線。圖4所示曲線與圖3所示的曲線基本一致。
利用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試芯片的反射系數(shù)Γ，使用式(1)對(duì)測(cè)得的芯片靈敏度數(shù)據(jù)進(jìn)行校準(zhǔn)，得到圖5所示的芯片能量靈敏度曲線。其中，圓點(diǎn)為利用圖4中圓圈數(shù)值進(jìn)行校準(zhǔn)之后的靈敏度值，曲線為利用圓點(diǎn)表示的樣本值進(jìn)行3次多項(xiàng)式擬合所得曲線，即校準(zhǔn)之后的靈敏度曲線。
評(píng)論