DEK工具實現(xiàn)高速的25μm晶圓背面涂層工藝
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傳統(tǒng)的點膠方法和裸晶粘著工藝一直面對著生產(chǎn)方面的難題,如無法達到新的UPH (每小時單元) 速度要求;或由于芯片貼合周邊帶狀成形 (fillet formation)、樹脂滲出所導(dǎo)致的芯片尺寸的限制,以及膠層覆蓋不足或不均勻引發(fā)的固有品質(zhì)和可靠性問題。DEK的印刷系統(tǒng)能有效地解決這些問題,讓制造商采用高速度和高精度的印刷工藝來涂敷裸晶粘著材料,生成25μm (
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