基于單片機(jī)的IDE硬盤(pán)控制的研究與設(shè)計(jì)

讀周期（ide_rd）：
ide_rd：
push acc
mov dptr, #cfg8255
mov a, #rd_ide_8255
movx @dptr, a ；配置8255的 工作方式為讀模式
mov dptr, #ide_8255_ctl
pop acc
movx @dptr, a ；選中所需寄存器
orl a, #ide_rd_line
movx @dptr, a ；使能讀引腳
mov dptr, #ide_8255_msb
clr a
movc a, @a+dptr ；讀寄存器高字節(jié)
mov r3,a
mov dptr, #ide_8255_lsb
clr a
movc a,@a+dptr ；讀寄存器低字節(jié)
mov r2, a
mov dptr, #ide_8255_ctl
clr a
movx @dptr, a ；將控制端口復(fù)位
ret ；子程序返回
寫(xiě)周期（ide_wr）：

寫(xiě)周期與讀周期類似，首先將8255配置為寫(xiě)模式，選中所所要操作寄存器，將寄存器高8位和低8位數(shù)據(jù)分別送到端口A、B，激活IDE總線的寫(xiě)信號(hào)；寫(xiě)完畢，通過(guò)復(fù)位端口的相應(yīng)位清除IDE總線的寫(xiě)信號(hào)。

3.5錯(cuò)誤處理操作

在對(duì)硬盤(pán)讀寫(xiě)操作時(shí)，需要查詢狀態(tài)寄存器的ERR位，判斷是否有錯(cuò)。若有錯(cuò)，查詢IDE的錯(cuò)誤寄存器，判斷錯(cuò)誤類型，進(jìn)行相應(yīng)的錯(cuò)誤處理：在寫(xiě)扇區(qū)操作中，當(dāng)檢測(cè)到壞扇區(qū)（BBK）錯(cuò)誤時(shí)，跳過(guò)并標(biāo)記壞扇區(qū)，重新分配扇區(qū)；在讀寫(xiě)操作中，如果沒(méi)有發(fā)現(xiàn)0磁道，將調(diào)用驅(qū)動(dòng)器重校命令來(lái)使驅(qū)動(dòng)器從錯(cuò)誤中恢復(fù)出來(lái)；在讀扇區(qū)過(guò)程中，若發(fā)生錯(cuò)誤，驅(qū)動(dòng)器將重讀出錯(cuò)扇區(qū)，若仍有錯(cuò)誤，操作將被終止。

4． 結(jié)束語(yǔ)

本系統(tǒng)提出了一種單片機(jī)控制硬盤(pán)的方法，能夠比較簡(jiǎn)潔方便對(duì)硬盤(pán)進(jìn)行讀寫(xiě)等操作，并成功的應(yīng)用實(shí)際產(chǎn)品中，具有良好的可靠性和穩(wěn)定性，可以應(yīng)用到許多要求大容量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的系統(tǒng)中，并可取得了良好的社會(huì)效益。

參考文獻(xiàn)
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