基于超級電容器儲能的直流DVR裝置設(shè)計與實現(xiàn)

理想的數(shù)/模轉(zhuǎn)換器(DAC)，其輸出電壓或電流與輸入呈理想的線性關(guān)系，不受其它外部因素(如溫度)的影響。當(dāng)然，實際應(yīng)用中，DAC必然會受各種外部因素的影響而出現(xiàn)誤差，溫度就是一個明顯因素，DAC輸出會隨溫度的變化而漂移。當(dāng)用高精度DAC精確建立偏置電壓時，這一點尤為重要。我們可以校準所有靜態(tài)漂移，而隨溫度變化部分卻很難補償，溫度引起的誤差主要是：失調(diào)誤差和增益誤差。

本文介紹了如何確定DAC的失調(diào)誤差、增益誤差與溫度的關(guān)系，幫助設(shè)計者在設(shè)計過程中預(yù)先考慮這些誤差因素，掌握這些知識也有助于保證系統(tǒng)在溫度特性方面滿足規(guī)范要求。

失調(diào)和增益誤差

如上所述，很多誤差因素會影響DAC性能，比如失調(diào)誤差和增益誤差，DAC器件數(shù)據(jù)手冊的“靜態(tài)精度”參數(shù)部分顯示了這些因素的影響。圖1為MAX5134 16位、4通道DAC的規(guī)格。

注4：增益和失調(diào)測試，測試點位于100mV和AVDD

圖1：MAX5134的失調(diào)和增益誤差。

這些參數(shù)對DAC性能意味著什么?

失調(diào)誤差通常定義器件在過零點時的輸出，對于單極性輸出，該值是零碼對應(yīng)的輸出，通常稱為零碼誤差;對于雙極性輸出，則定義在中間碼值對應(yīng)的DAC輸出。

增益誤差是傳輸函數(shù)的斜率，對于MAX5134，斜率介于理論值的99.5%-100.5%之間。

圖2給出了失調(diào)誤差和增益誤差，注意，失調(diào)和增益誤差可以為正，也可以為負。

圖2：失調(diào)和增益誤差。

通常我們不會直接測量失調(diào)和增益誤差，如果一個單極性器件表現(xiàn)出負的失調(diào)誤差，零碼處的測試結(jié)果顯然不正確。因為單極性DAC通常采用單路正電源供 電，DAC將無法產(chǎn)生負值?？梢詼y試兩個點，然后計算得到失調(diào)和增益誤差，一個測試點靠近零碼，另一側(cè)試點靠近最大碼值，甚至位于最大碼值。對于MAX5134，可以選擇100mV和電源AVDD兩個測試點，測試條件參見圖1注釋4 (注4：增益和失調(diào)測試，測試點位于100mV和AVDD，參見MAX5134數(shù)據(jù)手冊，可從Maxim網(wǎng)站下載)。

下面考慮溫度的影響，失調(diào)誤差和增益誤差都會隨著溫度的變化發(fā)生漂移，對于那些利用DAC準確設(shè)置偏置電壓的應(yīng)用，溫漂的影響更大。如果失調(diào)和增益誤差固定，則可通過多種技術(shù)進行校準?？偟膩碚f，溫漂校準是一項非常復(fù)雜的工作，首先需要測量溫度，然后根據(jù)溫度值采取相應(yīng)的補償。

計算示例和典型結(jié)果

此處以MAX5134為例，通過對大量器件的評估統(tǒng)計，我們可以得到最大靜態(tài)誤差。我們先定義幾個概念或等式，以便計算誤差范圍。

VOUT = N × G × (GE + GET) + OE + OET

此處：VOUT = 輸出電壓

N = DAC輸入碼值

G = DAC增益

GE = DAC增益誤差

GET = 溫度變化產(chǎn)生的附加增益誤差

OE = DAC失調(diào)誤差

OET = 溫度導(dǎo)變化產(chǎn)生的附加失調(diào)誤差

VREF = 基準電壓

NMAX = DAC最大碼值

參數(shù)的失調(diào)誤差漂移是±4μV/℃，采用箱形法。為了確定溫度失調(diào)，可以利用溫漂系數(shù)乘以溫度范圍，注意，此處的溫度范圍指的是器件規(guī)定的工作溫度范圍，而非實際應(yīng)用的溫度范圍，本例即為：-40℃至+105℃，而溫度導(dǎo)致的失調(diào)漂移為±0.58mV。同樣，增益溫漂系數(shù)是2ppm/℃，相當(dāng)于±0.029%FS(滿量程)。

對第一個例子，我們采用2.5V基準電壓VREF，DAC是16位器件，即最大碼值NMAX為65535。

另一個問題是使用的便捷性，最好把失調(diào)和增益誤差指定為“最小/最大”值，而溫度影響只能定義為典型值。我們可以用典型值或憑經(jīng)驗估計整個范圍內(nèi)的變化情況，此處采用典型值。