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基于狀態(tài)空間法的非理想Boost電路開(kāi)環(huán)建模

作者: 時(shí)間:2012-10-21 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏


3 仿真及測(cè)試結(jié)果
選取Vg=12 V,L=330μH,C=47μF,RL=12 Ω開(kāi)關(guān)頻率300 kHz,實(shí)測(cè)rC=50.1 mΩ,rL=53.2 mΩ。采用SG3525芯片產(chǎn)生PWM脈沖驅(qū)動(dòng)MOSFET,占空比調(diào)節(jié)范圍0~50%。選取幾個(gè)典型占空比進(jìn)行仿真,仿真得到的輸出電壓波形如圖4和圖5所示。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/176081.htm

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在不同占空比下輸出電壓的對(duì)比關(guān)系如表1所示。

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表1中U1為狀態(tài)空間法仿真輸出電壓值,U2為輸出電壓有效值,U3為實(shí)測(cè)電壓有效值。

4 結(jié)語(yǔ)
本文應(yīng)用對(duì)電流連續(xù)模式下的非理想進(jìn)行了開(kāi)環(huán)狀態(tài)下的建模和仿真。將開(kāi)關(guān)函數(shù)引入到狀態(tài)空間模型中,使變換器不同工作狀態(tài)下的狀態(tài)方程具有統(tǒng)一的形式,且使?fàn)顟B(tài)方程的物理意義更加明確。從電路模型仿真和狀態(tài)空間法仿真結(jié)果可以發(fā)現(xiàn),在滿足低頻假設(shè),小紋波假設(shè)和小信號(hào)假設(shè)的前提下,應(yīng)用的仿真結(jié)果與電路模型的仿真結(jié)果具有一致性,驗(yàn)證了建模方法的正確性,對(duì)變換器的設(shè)計(jì)有一定指導(dǎo)意義。

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