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為具體應(yīng)用恰當(dāng)?shù)倪x擇MOSFET的技巧

作者: 時(shí)間:2010-12-07 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏


除了RDS(ON)之外,在MOSFET的選擇過程中還有幾個(gè)MOSFET參數(shù)也對(duì)設(shè)計(jì)人員非常重要。許多情況下,設(shè)計(jì)人員應(yīng)該密切關(guān)注數(shù)據(jù)手冊(cè)上的安全工作區(qū)(SOA)曲線,該曲線同時(shí)描述了漏極電流和漏源電壓的關(guān)系。基本上,SOA定義了MOSFET能夠安全工作的電壓和電流。在 ORing FET應(yīng)用中,首要問題是:在完全導(dǎo)通狀態(tài)下FET的電流傳送能力。實(shí)際上無需SOA曲線也可以獲得漏極電流值。再以FDMS7650為例,該器件的額定電流為36A,故非常適用于服務(wù)器應(yīng)用中所采用的典型-。

若設(shè)計(jì)是實(shí)現(xiàn)熱插拔功能,SOA曲線也許更能發(fā)揮作用。在這種情況下,MOSFET需要部分導(dǎo)通工作。SOA曲線定義了不同脈沖期間的電流和電壓限值。

注意剛剛提到的額定電流,這也是值得考慮的熱參數(shù),因?yàn)槭冀K導(dǎo)通的MOSFET很容易發(fā)熱。另外,日漸升高的結(jié)溫也會(huì)導(dǎo)致RDS(ON)的增加。MOSFET數(shù)據(jù)手冊(cè)規(guī)定了熱阻抗參數(shù),其定義為MOSFET封裝的半導(dǎo)體結(jié)散熱能力。RθJC的最簡單的定義是結(jié)到管殼的熱阻抗。細(xì)言之,在實(shí)際測量中其代表從器件結(jié)(對(duì)于一個(gè)垂直MOSFET,即裸片的上表面附近)到封裝外表面的熱阻抗,在數(shù)據(jù)手冊(cè)中有描述。若采用PowerQFN封裝,管殼定義為這個(gè)大漏極片的中心。因此,RθJC 定義了裸片與封裝系統(tǒng)的熱效應(yīng)。RθJA 定義了從裸片表面到周圍環(huán)境的熱阻抗,而且一般通過一個(gè)腳注來標(biāo)明與PCB設(shè)計(jì)的關(guān)系,包括鍍銅的層數(shù)和厚度。

總而言之,RθJC在電源設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)的控制范圍以外,因?yàn)樗怯伤捎玫钠骷庋b技術(shù)決定。先進(jìn)的熱性能增強(qiáng)型封裝,比如飛兆半導(dǎo)體的Power 56,其RθJC 規(guī)格在1 和 2 oC/W之間,F(xiàn)DMS7650 的規(guī)格為 1.2 oC/W。設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)可以通過PCB設(shè)計(jì)來改變 RθJA 。最終,一個(gè)穩(wěn)健的熱設(shè)計(jì)有助于提高系統(tǒng)可靠性, 延長系統(tǒng)平均無故障時(shí)間(MTBF)。

開關(guān)電源中的MOSFET

現(xiàn)在讓我們考慮開關(guān)電源應(yīng)用,以及這種應(yīng)用如何需要從一個(gè)不同的角度來審視數(shù)據(jù)手冊(cè)。從定義上而言,這種應(yīng)用需要MOSFET定期導(dǎo)通和關(guān)斷。同時(shí),有數(shù)十種拓?fù)淇捎糜陂_關(guān)電源,這里考慮一個(gè)簡單的例子。-DC電源中常用的基本降壓轉(zhuǎn)換器依賴兩個(gè)MOSFET來執(zhí)行開關(guān)功能(圖 2),這些開關(guān)交替在電感里存儲(chǔ)能量,然后把能量釋放給負(fù)載。目前,設(shè)計(jì)人員常常選擇數(shù)百kHz乃至1 MHz以上的頻率,因?yàn)轭l率越高,磁性元件可以更小更輕。

用于開關(guān)電源應(yīng)用的MOSFET對(duì)
用于開關(guān)電源應(yīng)用的MOSFET對(duì)
圖2:用于開關(guān)電源應(yīng)用的MOSFET對(duì)。(DC-DC控制器)

顯然,電源設(shè)計(jì)相當(dāng)復(fù)雜,而且也沒有一個(gè)簡單的公式可用于MOSFET的*估。但我們不妨考慮一些關(guān)鍵的參數(shù),以及這些參數(shù)為什么至關(guān)重要。傳統(tǒng)上,許多電源設(shè)計(jì)人員都采用一個(gè)綜合品質(zhì)因數(shù)(柵極電荷QG ×導(dǎo)通阻抗RDS(ON))來*估MOSFET或?qū)χM(jìn)行等級(jí)劃分。

柵極電荷和導(dǎo)通阻抗之所以重要,是因?yàn)槎叨紝?duì)電源的效率有直接的影響。對(duì)效率有影響的損耗主要分為兩種形式--傳導(dǎo)損耗和開關(guān)損耗。

柵極電荷是產(chǎn)生開關(guān)損耗的主要原因。柵極電荷單位為納庫侖(nc),是MOSFET柵極充電放電所需的能量。柵極電荷和導(dǎo)通阻抗RDS(ON) 在半導(dǎo)體設(shè)計(jì)和制造工藝中相互關(guān)聯(lián),一般來說,器件的柵極電荷值較低,其導(dǎo)通阻抗參數(shù)就稍高。

開關(guān)電源中第二重要的MOSFET參數(shù)包括輸出電容、閾值電壓、柵極阻抗和雪崩能量。

某些特殊的拓?fù)湟矔?huì)改變不同MOSFET參數(shù)的相關(guān)品質(zhì),例如,可以把傳統(tǒng)的同步降壓轉(zhuǎn)換器與諧振轉(zhuǎn)換器做比較。諧振轉(zhuǎn)換器只在VDS (漏源電壓)或ID (漏極電流)過零時(shí)才進(jìn)行MOSFET開關(guān),從而可把開關(guān)損耗降至最低。這些技術(shù)被成為軟開關(guān)或零電壓開關(guān)(ZVS)或零電流開關(guān)(ZCS)技術(shù)。由于開關(guān)損耗被最小化,RDS(ON) 在這類拓?fù)渲酗@得更加重要。

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