僅用萬(wàn)用表檢測(cè)的集成電路檢測(cè)方法
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作者：上海洛祺儀器有限公司
時(shí)間：2007-01-15
來(lái)源：中電網(wǎng)
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一、不在路檢測(cè)
這種方法是在ＩＣ未焊入電路時(shí)進(jìn)行的，一般情況下可用萬(wàn)用表測(cè)量各引腳對(duì)應(yīng)于接地引腳之間的正、反向電阻值，并和完好的ＩＣ進(jìn)行比較。
二、在路檢測(cè)
這是一種通過(guò)萬(wàn)用表檢測(cè)ＩＣ各引腳在路（ＩＣ在電路中）直流電阻、對(duì)地交直流電壓以及總工作電流的檢測(cè)方法。這種方法克服了代換試驗(yàn)法需要有可代換ＩＣ的局限性和拆卸ＩＣ的麻煩，是檢測(cè)ＩＣ最常用和實(shí)用的方法。
１．在路直流電阻檢測(cè)法
這是一種用萬(wàn)用表歐姆擋，直接在線路板上測(cè)量ＩＣ各引腳和外圍元件的正反向直流電阻值，并與正常數(shù)據(jù)相比較，來(lái)發(fā)現(xiàn)和確定故障的方法。測(cè)量時(shí)要注意以下三點(diǎn)：
(1)測(cè)量前要先斷開(kāi)電源，以免測(cè)試時(shí)損壞電表和元件。
(2
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