數(shù)字隔離器高壓可靠性測量

工藝流程和設(shè)備的詳細展示用于表征我們數(shù)字隔離器的長期可靠性，以及他們?nèi)绾卧陉P(guān)鍵的安全能力方面超越光電耦合器。對于初次使用，設(shè)計人員可以在現(xiàn)有電路中使用引腳兼容的基于CMOS的隔離器替換光電耦合器，該基于CMOS的兼容隔離器看起來就像一個光電耦合器，但是與光電耦合器相比性能顯著提升。有來自光電耦合器的領(lǐng)先供應商聲稱我們的器件與老的光電耦合器產(chǎn)品相比在隔離耐壓能力方面不夠好。作為回應，該視頻將幫助你理解如何測量隔離可靠性，以及為什么Silicon Labs隔離器的隔離完整性不僅不用擔心，而且事實上，它應成為所有隔離器產(chǎn)品向往的標桿。

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