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應(yīng)對(duì)百萬(wàn)門級(jí)系統(tǒng)級(jí)芯片驗(yàn)證挑戰(zhàn)的可擴(kuò)展解決方案

作者: 時(shí)間:2012-05-21 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

任何有效的系統(tǒng)驗(yàn)證策略都必須提出這樣的前提條件,即系統(tǒng)實(shí)際上指的是整套系統(tǒng),它包含的遠(yuǎn)非數(shù)字邏輯那么局限。換而言之, 一套有意義的解決必須能夠解決數(shù)模信號(hào)混合問(wèn)題,必須能夠提供為軟件、RTOS的驗(yàn)證運(yùn)行所必須依賴的環(huán)境,并將其聯(lián)系在一套統(tǒng)一的解決之中。

新的測(cè)試平臺(tái)組件正在進(jìn)入今天的驗(yàn)證方法之中,斷言的使用可能對(duì)質(zhì)量和速度產(chǎn)生戲劇性的影響,因?yàn)轵?yàn)證工作可以利用斷言來(lái) 開(kāi)展。此外,某些更新的測(cè)試平臺(tái)組件正在出現(xiàn)。所有這些新的組件都將受到屬性的驅(qū)動(dòng),既而操控和利用屬性。這是未來(lái)的發(fā)展方向,現(xiàn)在開(kāi)始已經(jīng)變得異常光 明。這種自動(dòng)化、基于屬性的驗(yàn)證方法將推動(dòng)驗(yàn)證性能的提高,這也是縮短驗(yàn)證鴻溝的必要條件。這事實(shí)上相當(dāng)于10年之前設(shè)計(jì)路徑曾經(jīng)享受過(guò)的綜合的好處。驗(yàn) 證綜合還在發(fā)展之中,并將從根本上改變探討和處理驗(yàn)證問(wèn)題的方式。


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