測(cè)試市場(chǎng)總體規(guī)模在下降 NI卻保持兩位數(shù)增長(zhǎng)

　　目前黯淡的全球經(jīng)濟(jì)環(huán)境也正在沖擊測(cè)試測(cè)量行業(yè)的發(fā)展速度。在這幾天舉辦的NIWeek 2016上，不管是NI創(chuàng)始人兼CEO Dr. James Truchard，還是NI負(fù)責(zé)全球銷售和市場(chǎng)營(yíng)銷的執(zhí)行副總裁Eric Starkloff，都異口同聲地說(shuō)，目前全球總體測(cè)試測(cè)量市場(chǎng)規(guī)模在下降，但我們還能保持兩位數(shù)增長(zhǎng)，在自動(dòng)化、圖形化、分布式測(cè)試市場(chǎng)增速更快。

　　圖1：NI創(chuàng)始人兼CEO Dr. James Truchard與筆者在NIWeek

　　Eric Starkloff表示：“5G原型測(cè)試、正在崛起的毫米波通信、智能電網(wǎng)、工業(yè)IOT、互聯(lián)汽車、高鐵、地鐵、動(dòng)車、分布式自動(dòng)化測(cè)試測(cè)量、復(fù)雜芯片自動(dòng)測(cè)試、系統(tǒng)化測(cè)試等應(yīng)用市場(chǎng)正在推動(dòng)NI營(yíng)收快速增長(zhǎng)，去年我們營(yíng)收已經(jīng)做到15億美元，增長(zhǎng)速度超過(guò)10%，今年市場(chǎng)增長(zhǎng)前景依然明朗。”

　　圖2：NI負(fù)責(zé)全球銷售和市場(chǎng)營(yíng)銷的執(zhí)行副總裁Eric Starkloff

　　他指出，目前在整個(gè)測(cè)試測(cè)量市場(chǎng)上，傳統(tǒng)測(cè)試儀器供應(yīng)商的市場(chǎng)份額在萎縮，NI目前市場(chǎng)份額雖然還只有10%左右，但我們卻在增長(zhǎng)，而且在自動(dòng)化測(cè)試儀器市場(chǎng)份額高達(dá)80%以上。

　　NI基于PC的虛擬測(cè)試儀器在基本電氣性能參數(shù)測(cè)試測(cè)量上不輸現(xiàn)在任何一家傳統(tǒng)測(cè)試儀器供應(yīng)商，包括泰克、安捷倫和泰克，但價(jià)格卻能便宜20%到50%。不僅如此，NI測(cè)試解決方案還擁有獨(dú)家圖形化可編程重配置軟件工具，還能提供高可靠性PXI機(jī)箱和全系列模塊化數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換、AC-DC電源、RF收發(fā)和控制處理部件，這都是傳統(tǒng)測(cè)試儀器供應(yīng)商做不到的。

　　更有甚者，NI還開發(fā)出了可將圖形化表示測(cè)試結(jié)果通過(guò)云和互聯(lián)網(wǎng)直接傳送到用戶手機(jī)或平板的解決方案，直接吸引住了新一代測(cè)試儀器用戶的心。目前，像安捷倫和R&S這樣的傳統(tǒng)測(cè)試儀器供應(yīng)商在R&D實(shí)驗(yàn)室市場(chǎng)仍占主流地位，因?yàn)榇蟛糠衷O(shè)計(jì)工程師仍然習(xí)慣于使用旋鈕來(lái)調(diào)試設(shè)備，但這類測(cè)試儀器越來(lái)越不適應(yīng)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)和圖形化客戶可定制測(cè)試系統(tǒng)需求。

　　Dr. James Truchard說(shuō)：“傳統(tǒng)測(cè)試儀器基本上只能解決特定功能的測(cè)試需求，而我們的測(cè)試平臺(tái)可以滿足像互聯(lián)汽車和IOT終端這樣的系統(tǒng)化測(cè)試需求。我們的下一代測(cè)試平臺(tái)可以將真實(shí)物理產(chǎn)品做進(jìn)測(cè)試流程中。”

　　Eric Starkloff也補(bǔ)充道：“在像大型風(fēng)力發(fā)電場(chǎng)、光伏發(fā)電場(chǎng)、飛機(jī)、電廠這樣的需要自動(dòng)化、系統(tǒng)化、圖形化測(cè)試的分布式工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)，目前只有NI的虛擬測(cè)試平臺(tái)可以滿足客戶的需求。例如，Saab Aeronautics就在使用NI的HIL測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)鷹獅戰(zhàn)斗機(jī)。”

　　總體而言，雖然NI開發(fā)的虛擬儀器在大學(xué)和研究機(jī)構(gòu)等學(xué)術(shù)單位得到了很多應(yīng)用，但其主要目標(biāo)應(yīng)用市場(chǎng)還是在自動(dòng)復(fù)雜芯片測(cè)試、5G原型驗(yàn)證、大批量制造生產(chǎn)線、自動(dòng)化工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試、工業(yè)設(shè)備系統(tǒng)化測(cè)試領(lǐng)域。

　　Eric Starkloff表示：“5G原型驗(yàn)證是個(gè)比較特殊的情況，主要是因?yàn)槠錁?biāo)準(zhǔn)還沒有定，其原型驗(yàn)證和基站等仿真測(cè)試系統(tǒng)用NI的圖形化、可配置、可擴(kuò)展、可編程自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一種高性價(jià)比解決方案。安捷倫和R&S的解決方案在標(biāo)準(zhǔn)和協(xié)議未定的情況下成本是無(wú)法與NI相比的。”