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應(yīng)用材料公司在線電子束檢視系統(tǒng)加速顯示產(chǎn)品開發(fā)

作者:金旺 時(shí)間:2016-11-30 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

作者/ 金旺 電子產(chǎn)品世界編輯

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/201611/340869.htm

  公司在“”上展示了他們面向顯示行業(yè)的高分辨率在線電子束檢視()系統(tǒng),該系統(tǒng)能顯著提高OLED、UHD液晶屏制造商良率提升的速度,更快地將新型平板顯示產(chǎn)品推向市場(chǎng)。

  隨著半導(dǎo)體制程進(jìn)入次微米,上世紀(jì)90年代,掃描電子顯微鏡檢視解決方案(SEM)取代了光學(xué)檢視,如今半導(dǎo)體工藝制程的在線SEM檢視率為90%。目前的顯示行業(yè), 我們?nèi)砸蕾噦鹘y(tǒng)離線SEM,而離線SEM檢視技術(shù)現(xiàn)在仍面臨以下不足:

  1)需要鍍金屬/C60鍍膜;2)檢視過程需損壞產(chǎn)品;3)檢視周期長(zhǎng);4)樣本率低;5)信息流失,客戶無法得到完整信息。

  公司用于OLED和高分辨率LCD的電子束檢視系統(tǒng)結(jié)合大尺寸真空技術(shù)平臺(tái)和半導(dǎo)體SEM技術(shù),克服了離線SEM檢視技術(shù)的不足,可以低電壓、無損傷、快速地完成檢視的整個(gè)流程?!坝捎陔x線SEM技術(shù)需要對(duì)樣品切割、鍍膜等步驟,這不僅損壞了器件,還會(huì)大大降低工作效率,對(duì)于一個(gè)熟練的技術(shù)員,一天最多只能檢測(cè)20個(gè)樣本,而不需要切割玻璃和鍍膜,一個(gè)技術(shù)員一天可以完成上千個(gè)樣本檢測(cè),檢測(cè)到的缺陷可以繼續(xù)后續(xù)制程的處理,觀察該缺陷是否是致命缺陷。同時(shí),系統(tǒng)可以檢測(cè)到AOI(Automatic Optic Inspection,自動(dòng)光學(xué)檢測(cè))設(shè)備無法檢測(cè)到的缺陷,進(jìn)行缺陷或顆粒成分分析,能夠更精準(zhǔn)地找到缺陷根源?!?a class="contentlabel" href="http://m.butianyuan.cn/news/listbylabel/label/應(yīng)用材料">應(yīng)用材料公司顯示產(chǎn)品事業(yè)部良率技術(shù)部總經(jīng)理Peter D. Nunan介紹稱,“對(duì)于我們來說,速度是最重要的,現(xiàn)在一個(gè)小時(shí)可以檢測(cè)一百個(gè)缺陷,未來十年內(nèi)我們將不停地加快速度,對(duì)于我們的客戶來說,EBR系統(tǒng)將會(huì)成為他們應(yīng)對(duì)新技術(shù)挑戰(zhàn),提高產(chǎn)能和產(chǎn)品良率的利器,減少解決難題所需的時(shí)間?!?/p>

  EBR檢視技術(shù)適用于工藝和缺陷檢測(cè)、構(gòu)成分析、LTPS顆粒結(jié)構(gòu)檢測(cè)和CD測(cè)量等。其低電壓檢測(cè)技術(shù)不會(huì)損傷產(chǎn)品,同時(shí),EBR檢測(cè)設(shè)備快速的檢測(cè)速度將不斷加速新型顯示器工廠的產(chǎn)能爬坡。(旺)


本文來源于中國(guó)科技期刊《電子產(chǎn)品世界》2016年第11期第83頁(yè),歡迎您寫論文時(shí)引用,并注明出處。



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