新聞中心

EEPW首頁 > 嵌入式系統(tǒng) > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 工程師不得不懂的MCU混合信號驗(yàn)證策略和挑戰(zhàn)

工程師不得不懂的MCU混合信號驗(yàn)證策略和挑戰(zhàn)

作者: 時(shí)間:2017-10-31 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/201710/369673.htm

  摘要:

  Kinetis 系列是一款高度集成、低功耗32位微處理器,基于ARM Cortex M4內(nèi)核并擁有面向工業(yè)控制和多市場業(yè)務(wù)的內(nèi)置DSP功能。Kinetis 采用Cadence模擬混合信號驗(yàn)證平臺。本文將主要介紹Kinetis 混合信號的驗(yàn)證策略和挑戰(zhàn),其中包括混合信號建模、連接驗(yàn)證、混合信號VIP、混合信號功率驗(yàn)證和混合信號覆蓋范圍。

  1 介紹

  Kinetis MCU系列是一款高度集成、低功耗32位微處理器,基于ARM Cortex M4內(nèi)核并擁有面向工業(yè)控制和多市場業(yè)務(wù)的內(nèi)置DSP功能。該產(chǎn)品是一大創(chuàng)新成果,是邁出的重要一步。

  Kinetis擁有多個(gè)復(fù)雜的混合信號IP。這些IP擁有多種不同的模式和設(shè)置,可支持多個(gè)電源。模擬部分可與數(shù)字部分以及其他模擬設(shè)計(jì)緊密合作。從模擬IP的角度來看,與性能需求相比,該IP功能變得越來越重要。從片上系統(tǒng)的角度來看,由于設(shè)計(jì)復(fù)雜,很難發(fā)現(xiàn)隱藏的錯(cuò)誤。

  鑒于以上幾點(diǎn),kinetis產(chǎn)品采用了最新的數(shù)模混合信號驗(yàn)證方法學(xué)。Verilog-AMS語言為模擬IP建模,采用了Cadence AMS designer驗(yàn)證平臺進(jìn)行仿真。

  本文包括4部分:第一部分為背景介紹,第二部分為Kinetis MCU混合信號驗(yàn)證方法概述,第三部分為Kinetis MCU混合信號驗(yàn)證在AMS建模、AMS VIP、連接性驗(yàn)證、功率驗(yàn)證和AMS覆蓋范圍所面臨的挑戰(zhàn)。

  2 設(shè)計(jì)與實(shí)施

  2.1 AMS Designer

  Cadence Virtuoso® AMS Designer是一款靈活的混合信號模擬器,它可以連接高級模擬和數(shù)字環(huán)境,從而實(shí)現(xiàn)無縫的混合信號模擬和驗(yàn)證。它將數(shù)字NC-Sim引擎與4款流行的MMSIM模擬引擎(Spectre、SpectreRF、APS® 和UltraSim®)相結(jié)合。根據(jù)設(shè)計(jì)特性,為設(shè)計(jì)人員提供他們所需的仿真結(jié)果。

  AMS designer集成了面向混合信號驗(yàn)證的Virtuoso全定制環(huán)境和面向在數(shù)字驗(yàn)證環(huán)境中的用于混合信號驗(yàn)證的Cadence敏捷型功能驗(yàn)證平臺。它可支持向下算法,從而在早期設(shè)計(jì)周期中迅速檢測到設(shè)計(jì)錯(cuò)誤,并采用混合信號硬件描述語言來加快仿真速度。

  2.2混合信號驗(yàn)證的策略和方法

  驗(yàn)證采用了軟硬件協(xié)同仿真方法

  SoC測試平臺是建立在基于C語言的定向測試案例、??基于系統(tǒng)Verilog的測試平臺組件,基于Verilog-AMS的測試平臺組件和基與system verilog的隨機(jī)約束激勵(lì)。驗(yàn)證方法包括形式驗(yàn)證、基于斷言的驗(yàn)證、覆蓋驅(qū)動的隨機(jī)約束驗(yàn)證方法。

  2.3混合信號驗(yàn)證的挑戰(zhàn)

  在所有主要的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)中,混合信號驗(yàn)證是最大的一個(gè)。對于絕大部分的芯片故障,大部分都是可以通過更好的驗(yàn)證方法預(yù)防的。那么混合信號驗(yàn)證最大的挑戰(zhàn)是什么?就是AMS建模、功耗驗(yàn)證、驗(yàn)證IP、連通性驗(yàn)證、H/S協(xié)同仿真和覆蓋率。接下來將會詳細(xì)介紹Kinetis混合信號驗(yàn)證是如何克服這些挑戰(zhàn)的。


  2.3.1 混合信號驗(yàn)證的挑戰(zhàn)之一 – 行為建模

  AMS建模有一個(gè)共同的規(guī)則----建你所需要的模型,而不是你能建的模型。


  本文選自電子發(fā)燒友網(wǎng)6月《智能工業(yè)特刊》Change The World欄目,轉(zhuǎn)載請注明出處。

  永遠(yuǎn)要平衡仿真的速度和精度。

  有一些關(guān)于模型創(chuàng)建的簡約、精確、性能和可讀的若干準(zhǔn)則。

  ·簡約,只針對必要的功能驗(yàn)證建模。要在簡約和精確之間進(jìn)行權(quán)衡,這需要寫模型的人、模擬設(shè)計(jì)人員和驗(yàn)證工程師討論決定。應(yīng)考慮到驗(yàn)證要求和意圖。

  ·精確:不能精確表示電路行為的模型可能導(dǎo)致錯(cuò)誤被疏忽。精確的建模所有數(shù)字邏輯是很重要的。模型應(yīng)該根據(jù)存在/不存在適當(dāng)?shù)钠秒妷?電流和電源來啟動/停止操作。

  ·性能:AMS模型可能對仿真器性能產(chǎn)生負(fù)面影響。寫模型的人需要考慮仿真速度。

  ·可讀:模型很可能是其他模型的起點(diǎn),所以要創(chuàng)建可讀的代碼,提供清楚的注釋是很重要的。

  2.3.2 混合信號驗(yàn)證的挑戰(zhàn)之二 – 連接性驗(yàn)證

  混合信號的第二大挑戰(zhàn)是連接性驗(yàn)證。

  混合信號驗(yàn)證往往會發(fā)現(xiàn)三種類型的功能性錯(cuò)誤。

  實(shí)施許多設(shè)置的單個(gè)模擬模塊。 這些錯(cuò)誤通常是控制邏輯上的微妙問題。設(shè)計(jì)者如果有太多的設(shè)置要測試,就很難發(fā)現(xiàn)。

  連接性驗(yàn)證的重點(diǎn)在模擬到模擬接口或數(shù)字到模擬接口上。大多情況下有兩種連接性錯(cuò)誤:

  1. 模塊間通信錯(cuò)誤;這屬于雞生蛋蛋生雞的問題。舉例來說,低功率芯片上調(diào)節(jié)器依賴于共享偏置發(fā)生器的情況。如果偏置發(fā)生器本身依賴于調(diào)節(jié)器的輸出,那么這對組合可能永遠(yuǎn)都無法啟動。

  2. 數(shù)字電路,控制模擬,產(chǎn)生其輸入,或處理其輸出;或者是模擬和數(shù)字電路之間的接口。

  大多數(shù)連接都有直接激勵(lì)和檢查器,對各個(gè)模擬模型來說,所有的輸入都直接傳送為輸出。

  特殊情況下,應(yīng)當(dāng)應(yīng)用基于斷言的驗(yàn)證方法用于連接性驗(yàn)證。

  2.3.3 混合信號驗(yàn)證的挑戰(zhàn)之三 – 驗(yàn)證IP

  第三個(gè)挑戰(zhàn)是驗(yàn)證IP。幾個(gè)驗(yàn)證IP是分別為各個(gè)IP創(chuàng)建的。最復(fù)雜的混合信號VIP是分段LCD VIP,支持64個(gè)模擬LCD引腳。分段LCD的驗(yàn)證是采用混合信號驗(yàn)證方法的最佳案例。VIP包括五個(gè)部分。 LCD影子寄存器、激勵(lì)發(fā)生器、波形監(jiān)視器、故障仿真器和覆蓋發(fā)生器。激勵(lì)發(fā)生器用于產(chǎn)生數(shù)字和模擬激勵(lì),影子寄存器實(shí)時(shí)獲得LCD內(nèi)部寄存器的值,波形監(jiān)視器自動檢查MCU邊界的LCD驅(qū)動波形,來自LCD驅(qū)動出來通過pad ring到MCU邊界的設(shè)計(jì)路徑也可驗(yàn)證。故障仿真器相關(guān)于故障檢測功能。覆蓋發(fā)生器協(xié)助報(bào)告模擬信號的功能覆蓋,大大提高了混合信號驗(yàn)證的質(zhì)量。



  本文選自電子發(fā)燒友網(wǎng)6月《智能工業(yè)特刊》Change The World欄目,轉(zhuǎn)載請注明出處。

  2.3.4 混合信號驗(yàn)證challenge4 – 功耗驗(yàn)證

  混合信號驗(yàn)證的另一大挑戰(zhàn)是功耗驗(yàn)證。Kinetis的功耗驗(yàn)證采用了CPF方法。

  CPF語言提供表示設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)和驗(yàn)證使用的工具所能理解的功率意圖。

  基于CPF的低功耗驗(yàn)證流程使其有能力在設(shè)計(jì)周期的早期RTL已準(zhǔn)備就緒時(shí)驗(yàn)證低功耗設(shè)計(jì)意圖。流程包括使用CPF進(jìn)行靜態(tài)檢查和動態(tài)仿真。

  這是Kinetis的功率域圖,功率域包括padring電源域、DGO電源域、SOG電源域、VDDA電源域、RTC電源域、USB電源域、FLASH電源域、雙口RAM電源域、SRAM電源域。

  下面是可以通過動態(tài)CPF仿真來驗(yàn)證的主要項(xiàng)目:

  ·電源開關(guān)關(guān)閉(PSO)行為

  ·設(shè)計(jì)邏輯錯(cuò)誤斷電

  ·隔離規(guī)則:隔離值的正確性

  ·狀態(tài)保持功率門控(SRPG)規(guī)則

  ·正確的斷電供電順序

  ·內(nèi)存電源關(guān)閉控制

  Encounter® Conformal®低功耗軟件可以讓你在設(shè)計(jì)過程早期使用的正規(guī)技術(shù)(相對于仿真)來驗(yàn)證芯片??梢杂脕聿东@錯(cuò)誤的功率意圖規(guī)范,比如隔離單元缺失/冗余、電平轉(zhuǎn)換器、或者控制信號無適當(dāng)供電等,尤其是電平轉(zhuǎn)換器,在動態(tài)CPF仿真中非常難以驗(yàn)證。也可以用來在每個(gè)驗(yàn)證階段進(jìn)行等效性檢查。

  2.3.5 混合信號驗(yàn)證底5大挑戰(zhàn) – 混合信號功能覆蓋

  傳統(tǒng)上,覆蓋率是用以建立信任的一個(gè)維度,對于確保驗(yàn)證計(jì)劃完整、設(shè)計(jì)經(jīng)過盡可能徹底的驗(yàn)證而言,這是一個(gè)安全網(wǎng)絡(luò)。覆蓋率指標(biāo)是針對明示或暗示目標(biāo)測量所收集的覆蓋率數(shù)據(jù),通常以百分比表示。

  目前混合信號驗(yàn)證質(zhì)量取決于混合信號驗(yàn)證工程師的經(jīng)驗(yàn)。模擬信號的功能覆蓋迫切需要一種通用的方法。

  AMS designer可以支持面向控制的PSL / SVA斷言,ICC也支持PSL斷言和覆蓋率指令。對于有幾個(gè)模擬IP在內(nèi)的混合信號芯片,每個(gè)模擬IP都有自己的覆蓋模型。這些模型是獨(dú)特的,各有不同。

  這些覆蓋模型是自動生成的,是模擬設(shè)計(jì)的仿真部分。

  這些覆蓋模型有助于產(chǎn)生模擬信號的功能覆蓋報(bào)告,功能覆蓋報(bào)告100%應(yīng)該是驗(yàn)證流程一個(gè)強(qiáng)制要求,這樣可以消除不完整驗(yàn)證可能帶來的錯(cuò)誤。


  本文選自電子發(fā)燒友網(wǎng)6月《智能工業(yè)特刊》Change The World欄目,轉(zhuǎn)載請注明出處。



關(guān)鍵詞: 飛思卡爾 MCU

評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉